校正標準

校正模組與參考物質

須採用可追溯的參考物質和正確的方法才能校正並驗證您的分析方法。Malvern Panalytical 提供各式各樣的校正模組和參考物質,無論是元素分析、顆粒大小、Zeta 電位或分子量都能一手包辦。校正套件經過特別設計,可搭配 Malvern Panalytical 系統和解決方案一起使用。其中多款套件皆隨附方法範本,確保正確進行設定及使用。

我們可讓您認證樣品,進而建立與基質相符的 XRF 校正,並可將您特定的物質類型包括在內。

除此之外,我們也與不同的供應商密切合作,以針對您的需求尋找合適的認證參考物質,並在必要時提供客製化的解決方案。 

X 射线荧光元素分析

请见以下可用的 XRF 校准模块和参考材料:Omnian 用于对各种材料进行无标元素分析Stratos 用于薄膜的厚度和成份分析WROXI 用于多种氧...
X 射线荧光元素分析

粒度分析

请参阅以下可用标准: 基于激光衍...
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