ASD FieldSpec 4 Hi-Res:高分辨率光谱辐射仪

地質研究與大氣研究的理想選擇

  • 專為快速、精確的光譜資料而設計
  • 3 nm VNIR、8 nm SWIR 分辨率
  • 350-2500 nm 完整光譜範圍

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概述

ASD FieldSpec® 4 Hi-Res 是一款设计用于为各种遥感应用提供更快、更准确的光谱数据测量结果的高分辨率光谱辐射仪。

ASD FieldSpec® 4 Hi-Res 光谱辐射仪的 3 nm VNIR、8 nm SWIR 光谱分辨率可在全范围太阳辐照光谱 (350 – 2500 nm) 内提供稳定可靠的光谱性能。 SWIR 范围 (1000 – 2500 nm) 内的增强光谱分辨率特别适合检测和识别具有窄光谱特征和更长波长的化合物,如蚀变矿物和用于大气分析的气体。

此外,8 nm 分辨率达到甚至超过大多数高光谱传感器的光谱分辨率,这使 ASD FieldSpec 4 Hi-Res 光谱辐射仪成为传感器验证和校准以及地面实况调查和光谱库建立的更好选择。

与所有 ASD FieldSpec 光谱辐射仪一样,ASD FieldSpec 4 Hi-Res 可作为高分辨率光谱仪使用,以提供可靠的接触反射率测量结果。

特徵

  • 最適合:需要最大靈敏度的使用者、戶外和遙感應用

  • 優越的信噪比:靈敏度提高一倍;在陽光等有限自然光源下工作的最佳選擇

  • 永久光纖電纜:工廠安裝,可消除連接點的訊號損失,確保最佳效能

  • 建議在陽光下使用:對於自然光下可靠的數據收集至關重要

  • 遙感的理想選擇:用於地面實況飛越感測器,匹配衛星數據,並確保在不同環境條件下進行準確的光譜測量

為什麼後色散技術很重要

預色散系統:依靠內部光源在到達樣品之前對光線進行色散。

後色散系統:反射後色散光,允許使用太陽等外部光源。

ASD 儀器中使用的後色散系統技術提供了卓越的分析能力:

  • 測量外部光源的反射能量
  • 適應不同的光照條件,無內部光依賴性
  • 為光譜輻射測量提供可靠的校準

关键应用

遙測
  • 光谱遥感: 采集可见光、近红外和短波红外图像,以对表面材料、生物和化学过程进行检测、鉴定和定量,适用于多种环境和军事应用中的研究和分析。
  • 遥感和地质: 几十年来,ASD 的光谱辐射仪一直用于远程地质解读。
  • 大气遥感研究: 对直射、漫射和总光谱太阳辐照度以及天空和云辐射度的观察对于许多气候和生态系统能量平衡研究中的大气研究至关重要。
  • 航空遥感测量: 采集过大或无法进行地面测量的区域的光谱。
地面实况调查

实验室质量的原位现场测量具有等值照度和查看几何,以便准确关联卫星和飞机传感器数据。

野外光谱学

野外光谱学 — 研究野外环境中的物体光谱特征与其生物物理属性之间的相互关系。

植物生理学

ASD 系统用于确定植物生理状态,包括病情状况、与氮素吸收和水分平衡相关的营养状况。

伪装表征和检测

伪装或隐藏物体的检测需要能提供物体和背景材料之间对比的测量。

校準
  • 传感器校准: 成像传感器的精确辐射度校准对许多遥感应用至关重要。
  • 光谱辐射和辐射度校准: 光谱辐射是对每种波长下的绝对光辐射的测量,适用于多种设置,包括测量灯、LED 显示屏或其他光源的光谱能量输出,以确定到达森林地被物或其他场所的阳光通量。
监督分类

可以使用图像导出的或野外测量的光谱特征来执行监督分类。

景观生态学和生态学研究

能够在野外准确执行植被和土壤的反射率及辐射度测量对于了解植物群落内的光能利用和分区至关重要。

生物质分析

从大豆和其他作物的油含量表征到生物燃料处理中关键参数水平的定量和最终产品的质量分析,近红外 (NIR) 光谱是理想的测量工具。

礦產勘查過程

  1. 使用感測器進行空中勘測:專用感測器掃描大面積的礦藏
  2. 使用 FieldSpec 進行地面確認:驗證和完善航空測量影像
  3. 有針對性的鑽孔:使用已確認的數據來確定精確的鑽孔位置
  4. 材料分析:XRF 可辨識金屬,而 NIR 可找出特定礦物成分

The ASD FieldSpec 4 full spectral range makes it ideal for field campaigns needed to ground-truth orbital measurements, which typically extend to the longer wavelengths.

Dr. Ulyana Horodyskyj — CEO of Science in the Wild

規格

光谱性能 350-2500 nm
解决方案
3 nm @ 700 nm
8 nm  @ 1400/2100 nm
光谱带宽
1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm
测量时间 100 毫秒
光源 VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01%
Wavelength reproducibility 0.1 nm
波长准确性 0.5 nm
Maximum radiance VNIR 2X Solar, SWIR 10X Solar
通道 2151
偵測器
VNIR 检测器 (350-1000 nm):512 元素硅阵列
SWIR 1 检测器 (1001-1800 nm):渐变折射率 InGaAs 光电二极管,双级 TE 冷却
SWIR 2 检测器 (1801-2500 nm):渐变折射率 InGaAs 光电二极管,双级 TE 冷却
Input
1.5 m 光纤(25° 视场)。 提供可选的视场更窄的光纤。
Noise Equivalent Radiance (NEdL)
VNIR  1.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1  1.4 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2  2.2 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
重量 5.44 kg (12 lbs)
校准类型
波长、绝对反射率、辐射度*、辐照度*。 所有校准均为 NIST 可溯源校准。 (*辐射度校准为可选)
計算機
Windows® 10 64 位笔记本电脑(仪器控制器)
Warranty 一年完整保修,包括专家级的客户支持

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