ASD FieldSpec® 4 Hi-Res：高分辨率光谱辐射仪

專為快速、精確的光譜資料而設計
3 nm VNIR、8 nm SWIR 分辨率
350-2500 nm 完整光譜範圍

ASD FieldSpec^® 4 Hi-Res 是一款设计用于为各种遥感应用提供更快、更准确的光谱数据测量结果的高分辨率光谱辐射仪。

ASD FieldSpec^® 4 Hi-Res 光谱辐射仪的 3 nm VNIR、8 nm SWIR 光谱分辨率可在全范围太阳辐照光谱 (350 – 2500 nm) 内提供稳定可靠的光谱性能。 SWIR 范围 (1000 – 2500 nm) 内的增强光谱分辨率特别适合检测和识别具有窄光谱特征和更长波长的化合物，如蚀变矿物和用于大气分析的气体。

此外，8 nm 分辨率达到甚至超过大多数高光谱传感器的光谱分辨率，这使 ASD FieldSpec 4 Hi-Res 光谱辐射仪成为传感器验证和校准以及地面实况调查和光谱库建立的更好选择。

与所有 ASD FieldSpec 光谱辐射仪一样，ASD FieldSpec 4 Hi-Res 可作为高分辨率光谱仪使用，以提供可靠的接触反射率测量结果。

預色散系統：依靠內部光源在到達樣品之前對光線進行色散。

後色散系統：反射後色散光，允許使用太陽等外部光源。

ASD 儀器中使用的後色散系統技術提供了卓越的分析能力：

測量外部光源的反射能量
適應不同的光照條件，無內部光依賴性
為光譜輻射測量提供可靠的校準

遠端感測: 光譜遠端感測：收集可見光、近紅外線及短波紅外線影像，用於偵測、識別及量化表面材料，以及生物與化學過程，支援眾多環境與軍事應用中的研究與分析。
遠端感測與地質學：ASD 的光譜輻射儀數十年來一直用於遠端地質判釋。準確重現野外條件，對支援飛越觀測感測器至關重要。
大氣遠端感測研究：在許多氣候與生態系統能量平衡研究中，觀測直射、漫射及總光譜太陽輻照度，以及天空與雲層輻射亮度，對大氣研究至關重要。
空載遠端感測測量：在範圍過大或地面測量難以到達的區域收集光譜。
地面實測驗證: 以等效照明與觀測幾何條件進行實驗室品質的原位野外測量，以準確對應衛星與飛機感測器資料。
野外光譜學: 野外光譜學是在野外環境中，研究物體光譜特性與其生物物理屬性之間相互關係的學科。
植物生理學: ASD 系統可用於判定植物生理狀態，包括疾病狀態，以及與氮吸收和水分平衡相關的營養狀態。
偽裝表徵與偵測: 偵測偽裝或隱藏物體時，需要能呈現物體與背景材料之間對比的測量。
校正: 感測器校正：影像感測器的準確輻射亮度校正，對許多遠端感測應用至關重要。
光譜輻射測量與輻射校正：光譜輻射測量是指測量各波長的絕對光輻射，適用於各種情境，包括測量燈具、LED 顯示器或其他光源的光譜能量輸出，以及判定到達森林地面或其他場景的陽光通量。
監督式分類: 監督式分類可使用影像衍生或野外測得的光譜特徵來執行。
景觀生態學與生態學研究: 能夠在野外準確進行植被與土壤的反射率及輻射測量，對瞭解植物群落中的光利用與分配至關重要。
生物質分析: 從大豆及其他作物油含量的表徵，到生質燃料加工中關鍵參數含量的量化，以及最終產品的品質分析，近近紅外線反射式光譜儀都是理想的測量工具。

使用感測器進行空中勘測：專用感測器掃描大面積的礦藏
使用 FieldSpec 進行地面確認：驗證和完善航空測量影像
有針對性的鑽孔：使用已確認的數據來確定精確的鑽孔位置
材料分析：XRF 可辨識金屬，而 NIR 可找出特定礦物成分

The ASD FieldSpec 4 full spectral range makes it ideal for field campaigns needed to ground-truth orbital measurements, which typically extend to the longer wavelengths.

Dr. Ulyana Horodyskyj — CEO of Science in the Wild

規格

光谱性能	350-2500 nm
解决方案	3 nm @ 700 nm 8 nm @ 1400/2100 nm
光谱带宽	1.4 nm @ 350-1000 nm 1.1 nm @ 1001-2500 nm
测量时间	100 毫秒
光源	VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01%
Wavelength reproducibility	0.1 nm
波长准确性	0.5 nm
Maximum radiance	VNIR 2X Solar, SWIR 10X Solar
通道	2151
偵測器	VNIR 检测器 (350-1000 nm)：512 元素硅阵列 SWIR 1 检测器 (1001-1800 nm)：渐变折射率 InGaAs 光电二极管，双级 TE 冷却 SWIR 2 检测器 (1801-2500 nm)：渐变折射率 InGaAs 光电二极管，双级 TE 冷却
Input	1.5 m 光纤（25° 视场）。提供可选的视场更窄的光纤。
Noise Equivalent Radiance (NEdL)	VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm SWIR 1 1.4 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm SWIR 2 2.2 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
重量	5.44 kg (12 lbs)
校准类型	波长、绝对反射率、辐射度、辐照度。所有校准均为 NIST 可溯源校准。（*辐射度校准为可选）
計算機	Windows® 10 64 位笔记本电脑（仪器控制器）
Warranty	一年完整保修，包括专家级的客户支持