SciAps X-200

現場偵測級精準度。實驗室等級效能表現。

主力機型:SciAps X-200 XRF 分析儀,完美融合高效能與極具吸引力的價格。

  • X 光管:40 kV,Rh 陽極 (合金) 或 50 kV Au 陽極 (地球化學、土壤、RoHS 等)
  • 偵測器計數率:20 mm2 標準 SDD 與 DPP。125k cps,即時處理率 > 90%

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強強聯手:SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司

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概述

SciAps X-200 手持式 XRF 分析儀完美融合高效能與極具吸引力的價格。

X-200 的速度與效能可媲美甚至超越其他品牌的頂級分析儀。它採用頂級效能的 SDD 偵測器,結合高度最佳化的 X 光管與偵測器幾何結構。X-200 憑藉其高速分析效能與輕巧緊湊的設計,正迅速成為廢料處理和無損偵測領域的首選設備。 

分析儀可透過工廠預先校準,支援基本參數法、康普頓正規化 (EPA 方法 6200) 或使用者定義的經驗校正模式。

產品應用

X-200 能快速分析各類合金家族,包含鋁合金。 

針對地球化學應用,它提供適用於環境監控、探路者元素、勘探及採礦的多元素分析套件。 

其他可用應用程式包含環境土壤、RoHS、貴金屬、汽車觸媒轉化器、塗層以及 SciAps 經驗模式應用程式,供使用者測試其他各類材料並產生自己的校正模型。 

標準元素套件

下表顯示 X-200 的標準元素套件。 

需要其他元素嗎?儘管提問!我們經常為特定應用場景新增或替代元素。

產品應用 光束 1 (40 kV) 光束 2 (10 kV) 光束 3 (50 kV)
礦業 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr、Rb、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Au、Hg、Pb、Bi、U Mg、Al、Si、P、S、K、Ca Ag、Sn、Sb、Ba
土壤 Geo-Env SoilTi、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr、Rb、Zr、Mo、W、Tl、Hg、Pb、Bi Mg、Al、Si、P、S Ag、Cd、Sn、Sb、Ba
合金 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Se、Y、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Hf、Re、Au、Pb、Bi、Ru、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb Mg、Al、Si、P、S N/A
貴金屬 Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、W、Au、Ge、Ir、Pt、Au、Pb、Bi、Zr、Mo、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb N/A N/A

RoHS 與受限物質

五光束分析技術,實現全元素與各類材料的極致效能表現。

產品應用 50 kV 40 kV 30 kV 15 kV
RoHS (聚合物) Cd、Sn、Sb、Ba、Ag Br、Hg、Pb、As、Cu、Ni、Se、Tl、Zn -- Cr、Cl (無鹵素)
RoHS (合金) Cd、Sn、Sb、Ba、Ag -- Br、Hg、Pb、As、Cu、Ni、Se、Tl、Zn、Cr --

規格

重量
1.4 公斤 (3.1 磅) 含電池
尺寸:
9.38 x 11.15 x 3.34 英吋 (238 x 283 x 84 公釐)
電功率
內建可充電鋰離子電池,支援裝置內充電或外接充電器、AC 電源、熱插拔功能 (更換電池時間最長 60 秒)
显示屏
3.5 吋 (89 mm) 彩色電容式觸控螢幕,搭載 400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3D 圖形加速器
Data Transfer
Wi-Fi、藍牙、USB 連線至大部分裝置,包括 SciAps Profile Builder 電腦軟體
支援 GPS
提供雲端資料管理選項
Excitation source
5 W X 光管:最大 50 kV,最大 200 uA,Rh 或 Au 陽極 (視應用而定)
偵測器
20 mm2 矽漂移偵測器 (有效感應區域),在 5.95 Mn K-alpha 射線下的 FWHM 解析度為 <140 eV
X-Ray filtering
6 位濾光片輪盤設計,用於光束最佳化
Processing electronics and host processor
1.2GHz ARM Cortex-A53 四核心,64/32 位元
RAM:2GB LPDDR3
儲存裝置:16GB eMMC
Pulse processor
14 位元 ADC,80 MSPS 8K 通道 MCA USB 2.0 數位速率,可將資料高速傳輸至主機處理器,以 FPGA 實現數位篩選技術,支援 50 nS - 24 uS 峰值時間的高通量脈衝處理
校准类型
基礎參數
針對地球化學與環境土壤應用,使用者亦可選擇「康普頓正規化」方法及/或使用經驗導出的校正方式
Calibration check
內部快門同樣採用 316 不鏽鋼材質,實現全自動化校正與能量尺度驗證
温度范围
10 oF 至 130 oF (-12 oC 至 54 oC) (25% 工作週期)
Security
使用者受密碼保護 (使用者層級) 及內部設定 (管理員)
法規測試
CE、RoHS、USFDA 註冊、加拿大 RED 法

配件

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將任何 Z 系列與我們業界領先的 XRF 裝置配對,即可對元素週期表中的每個元素和每個樣品類型,進行最佳分析。相同的電池、纜線、充電器和其他配件。

  • LIBS:分析 XRF 無法測試的元素:鋰、鈹、硼、碳、氟、鈉及其他。與 XRF 相比,鎂、鈣和鉀的效能有所提升。具有 100 um 雷射光斑大小的微量分析。  
  • XRF:非常適合過渡金屬和重金屬。易於使用,尤其適用於散裝、土壤和礦石類型的材料。
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可攜式 XRF,專為真實應用場景打造。

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