SciAps Z-70

快速、精準的金屬分類

  • 堅固手持式空氣燃燒 LIBS,專為材料鑑別測試所設計
  • 6 mJ/脈衝雷射 - LIBS 分類市場中最強大的雷射
  • 針對單一或多重基材校正
  • 獨特的氣泵設計,可防止測試結果遭到污染

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強強聯手:SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司

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為您介紹 Z-70

為您介紹 SciAps Z-70:實現快速精準的金屬分類,憑藉經濟型手持式 LIBS 技術,大幅降低合規門檻。 

Z-70 是一款專為材料鑑別測試設計的堅固手持式空氣燃燒 LIBS 分析儀,將 SciAps 領先業界的技術濃縮於純分類工具中。其專為基本廢料分類與金屬加工廠設計,操作簡便的即用型分析儀,可透過牌號與化學成分辨識數百種合金。以經濟價位實現精準、快速的合金材料鑑別與化學成分分析。 

開機數秒內即可準備就緒,立即開始測試。無須偏移修正或校正。

強效雷射 - 功率比市場上的「微 LIBS」強約 40 倍 - 可穿透表面污染、油漬、油脂、陽極氧化層,甚至是漆面。徹底消除人為判斷的不確定性。

Z-70 功能

  • 強效雷射:進階光譜儀設計適用於高解析度與寬廣範圍

  • 內部攝影機:精準鎖定分析位置,對車削屑樣本的檢測至關重要

  • 微距攝影機:相片記錄樣品、讀取條碼與 QR 碼

  • 獨特氣泵:設計能持續保持分析窗潔淨,確保獲得最佳結果

  • 窄口噴嘴:錐形設計,適用於焊接偵測或難以接觸到的測試位置

  • 雷射安全感測器:專利樣品感測器支援經 LSO 核准的第 1 級操作

  • 直覺化 Android 作業系統支援應用程式軟體

  • 高解析度顯示:面向後方的顯示器,可便於輕鬆檢視

  • 堅固的金屬外殼:最高的耐用度和最低的維護成本

Z-70 專為廢料分類與金屬加工業者提供金屬材料鑑別解決方案

客製化分級功能

Z-70 是 LIBS 分類市場中功能最全面的全能型儀器。它提供極高的操作彈性,並以簡易格式允許使用者輸入自訂等級,並根據測試需求進行調整。

Z-70 可針對單一基材或多重基材進行校正。即使基材未經校正,Z-70 仍能精準區分基材類型,且不會產生誤導性結果。

重新定義效能極限

SciAps Z-70 搭載 6 mJ 雷射,效能較市場同類材料鑑別儀器強近 50 倍。這項突破徹底提升廢料場環境中的測試速度與效能,即使面對污損樣本,亦無需研磨,直接進行微區 LIBS 材料鑑別。

傳統材料鑑別儀器採用高重頻 150 μJ/脈衝雷射,能量過弱,無法有效清除污損表面。這將導致匹配錯誤,並需耗費額外時間進行樣本表面預處理。

Z-70 專為真實樣本測試所設計,可直接面對複雜應用場景。整合式氣泵可確保測試窗長時間保持潔淨,進而取得持續精準的數據。

有效隔離不必要的粉塵污物

數據純淨無干擾,技術領先顯優勢。

SciAps Z-70 搭載獨特氣泵過濾系統,能有效防止粉塵污物進入測試室,大幅減少測試室清潔頻率。

氣泵系統能主動清除殘留於測試窗的塵埃微粒,從源頭杜絕污染,確保測試結果絕對可靠。 

規格

重量
4.19 磅/ 1.9 公斤 (含電池)
尺寸:
10.73" x 3.35" x 10.24" / 270 x 260 x 85 公釐
显示屏
3.5″ 高亮度彩色觸控螢幕,在所有光線條件下皆可閱讀
面向後方的顯示器,便於輕鬆檢視結果
電功率
內建可充電式鋰離子電池,可在裝置內充電,或使用外部充電器、AC 電源
Processing electronics and host processor
ARM Quad Cortex -A53 1.2GHz
記憶體:2 GB LPDDR3、16 GB eMMC
Data storage
結果儲存裝置:32 GB SD
Data Transfer
建置於 Google 的 Android 平台,可即時匯出資料,包括內建 WiFi (IEEE 802.11b/g/n)、藍牙 (BR/EDR+BLE)、GPS 和 USB-C,幾乎任何資訊管理系統均可連線
样品接口
整合式攝影機和雷射目標指示器,用於在分析之前和分析期間檢視樣品,提供正確的樣品一致性
包括第二個微距攝影機,用於掃描 QR 碼或條碼,以及相片記錄和報告產生
Laser raster
內建 Y 型平台用於將雷射光柵化到離散位置,以進行標的分析或是取平均值
Environment
SciAps 專利 Opti-Purge 提供氣泵與過濾器,可協助在測試期間保持窗口潔淨
Security
受密碼保護的多使用者支援,存取權可設定
Calibration check
316 不鏽鋼標準,用於自動校準和波長尺度驗證
偏移量
內建自動偏移修正軟體,及原廠提供的校正模組
光谱带宽
190 – 625 nm
校准类型
鋁:Li、Be、Mg、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Zr、Pb、Bi、Ag、Sn  
銅:Be、Al、Si、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Se、Ag、Sn、Pb、Bi
鎂:Mg、Al、Mn、Cu、Zn  
鈦:Al、Ti、V、Cr、Fe、Cu、Zr、Nb、Mo、Sn  
鐵:Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Ni、Nb、Mo、W、Pb  
不鏽鋼:Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Nb、Mo、W 鎳:Al、Si、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W
法規測試
CE、RoHS、USFDA 註冊。第 3b 級雷射系統
內建樣品感測器,允許在第 1 級條件下運作,但須經當地 LSO 核准

配件

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將任何 Z 系列與我們業界領先的 XRF 裝置配對,即可對元素週期表中的每個元素和每個樣品類型,進行最佳分析。相同的電池、纜線、充電器和其他配件。

  • LIBS:分析 XRF 無法測試的元素:鋰、鈹、硼、碳、氟、鈉及其他。與 XRF 相比,鎂、鈣和鉀的效能有所提升。具有 100 um 雷射光斑大小的微量分析。  
  • XRF:非常適合過渡金屬和重金屬。易於使用,尤其適用於散裝、土壤和礦石類型的材料。
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快速、精確的金屬分類。

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