強強聯手: SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司
為您介紹 SciAps Z-70:實現快速精準的金屬分類,憑藉經濟型手持式 LIBS 技術,大幅降低合規門檻。
Z-70 是一款專為材料鑑別測試設計的堅固手持式空氣燃燒 LIBS 分析儀,將 SciAps 領先業界的技術濃縮於純分類工具中。其專為基本廢料分類與金屬加工廠設計,操作簡便的即用型分析儀,可透過牌號與化學成分辨識數百種合金。以經濟價位實現精準、快速的合金材料鑑別與化學成分分析。
開機數秒內即可準備就緒,立即開始測試。無須偏移修正或校正。
強效雷射 - 功率比市場上的「微 LIBS」強約 40 倍 - 可穿透表面污染、油漬、油脂、陽極氧化層,甚至是漆面。徹底消除人為判斷的不確定性。
強效雷射:進階光譜儀設計適用於高解析度與寬廣範圍
內部攝影機:精準鎖定分析位置,對車削屑樣本的檢測至關重要
微距攝影機:相片記錄樣品、讀取條碼與 QR 碼
獨特氣泵:設計能持續保持分析窗潔淨,確保獲得最佳結果
窄口噴嘴:錐形設計,適用於焊接偵測或難以接觸到的測試位置
雷射安全感測器:專利樣品感測器支援經 LSO 核准的第 1 級操作
直覺化 Android 作業系統支援應用程式軟體
高解析度顯示:面向後方的顯示器,可便於輕鬆檢視
堅固的金屬外殼:最高的耐用度和最低的維護成本
Z-70 是 LIBS 分類市場中功能最全面的全能型儀器。它提供極高的操作彈性,並以簡易格式允許使用者輸入自訂等級,並根據測試需求進行調整。
Z-70 可針對單一基材或多重基材進行校正。即使基材未經校正,Z-70 仍能精準區分基材類型,且不會產生誤導性結果。
SciAps Z-70 搭載 6 mJ 雷射,效能較市場同類材料鑑別儀器強近 50 倍。這項突破徹底提升廢料場環境中的測試速度與效能,即使面對污損樣本,亦無需研磨,直接進行微區 LIBS 材料鑑別。
傳統材料鑑別儀器採用高重頻 150 μJ/脈衝雷射,能量過弱,無法有效清除污損表面。這將導致匹配錯誤,並需耗費額外時間進行樣本表面預處理。
Z-70 專為真實樣本測試所設計,可直接面對複雜應用場景。整合式氣泵可確保測試窗長時間保持潔淨,進而取得持續精準的數據。
數據純淨無干擾,技術領先顯優勢。
SciAps Z-70 搭載獨特氣泵過濾系統,能有效防止粉塵污物進入測試室,大幅減少測試室清潔頻率。
氣泵系統能主動清除殘留於測試窗的塵埃微粒,從源頭杜絕污染,確保測試結果絕對可靠。
| 重量 | 4.19 磅/ 1.9 公斤 (含電池) |
|---|---|
| 尺寸: | 10.73" x 3.35" x 10.24" / 270 x 260 x 85 公釐 |
| 显示屏 | 3.5″ 高亮度彩色觸控螢幕,在所有光線條件下皆可閱讀
面向後方的顯示器,便於輕鬆檢視結果 |
| 電功率 | 內建可充電式鋰離子電池,可在裝置內充電,或使用外部充電器、AC 電源 |
| Processing electronics and host processor | ARM Quad Cortex -A53 1.2GHz
記憶體:2 GB LPDDR3、16 GB eMMC |
| Data storage | 結果儲存裝置:32 GB SD |
| Data Transfer | 建置於 Google 的 Android 平台,可即時匯出資料,包括內建 WiFi (IEEE 802.11b/g/n)、藍牙 (BR/EDR+BLE)、GPS 和 USB-C,幾乎任何資訊管理系統均可連線 |
| 样品接口 | 整合式攝影機和雷射目標指示器,用於在分析之前和分析期間檢視樣品,提供正確的樣品一致性
包括第二個微距攝影機,用於掃描 QR 碼或條碼,以及相片記錄和報告產生 |
| Laser raster | 內建 Y 型平台用於將雷射光柵化到離散位置,以進行標的分析或是取平均值 |
| Environment | SciAps 專利 Opti-Purge 提供氣泵與過濾器,可協助在測試期間保持窗口潔淨 |
| Security | 受密碼保護的多使用者支援,存取權可設定 |
| Calibration check | 316 不鏽鋼標準,用於自動校準和波長尺度驗證 |
| 偏移量 | 內建自動偏移修正軟體,及原廠提供的校正模組 |
| 光谱带宽 | 190 – 625 nm |
| 校准类型 | 鋁:Li、Be、Mg、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Zr、Pb、Bi、Ag、Sn
銅:Be、Al、Si、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Se、Ag、Sn、Pb、Bi
鎂:Mg、Al、Mn、Cu、Zn
鈦:Al、Ti、V、Cr、Fe、Cu、Zr、Nb、Mo、Sn
鐵:Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Ni、Nb、Mo、W、Pb
不鏽鋼:Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Nb、Mo、W 鎳:Al、Si、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W |
| 法規測試 | CE、RoHS、USFDA 註冊。第 3b 級雷射系統
內建樣品感測器,允許在第 1 級條件下運作,但須經當地 LSO 核准 |
請聯絡支援人員以取得最新的使用手冊。
請聯絡支援人員以取得最新軟體版本。
強強聯手: SciAps 是 Malvern Panalytical 旗下公司
為您介紹 SciAps Z-70:實現快速精準的金屬分類,憑藉經濟型手持式 LIBS 技術,大幅降低合規門檻。
Z-70 是一款專為材料鑑別測試設計的堅固手持式空氣燃燒 LIBS 分析儀,將 SciAps 領先業界的技術濃縮於純分類工具中。其專為基本廢料分類與金屬加工廠設計,操作簡便的即用型分析儀,可透過牌號與化學成分辨識數百種合金。以經濟價位實現精準、快速的合金材料鑑別與化學成分分析。
開機數秒內即可準備就緒,立即開始測試。無須偏移修正或校正。
強效雷射 - 功率比市場上的「微 LIBS」強約 40 倍 - 可穿透表面污染、油漬、油脂、陽極氧化層,甚至是漆面。徹底消除人為判斷的不確定性。
強效雷射:進階光譜儀設計適用於高解析度與寬廣範圍
內部攝影機:精準鎖定分析位置,對車削屑樣本的檢測至關重要
微距攝影機:相片記錄樣品、讀取條碼與 QR 碼
獨特氣泵:設計能持續保持分析窗潔淨,確保獲得最佳結果
窄口噴嘴:錐形設計,適用於焊接偵測或難以接觸到的測試位置
雷射安全感測器:專利樣品感測器支援經 LSO 核准的第 1 級操作
直覺化 Android 作業系統支援應用程式軟體
高解析度顯示:面向後方的顯示器,可便於輕鬆檢視
堅固的金屬外殼:最高的耐用度和最低的維護成本
Z-70 是 LIBS 分類市場中功能最全面的全能型儀器。它提供極高的操作彈性,並以簡易格式允許使用者輸入自訂等級,並根據測試需求進行調整。
Z-70 可針對單一基材或多重基材進行校正。即使基材未經校正,Z-70 仍能精準區分基材類型,且不會產生誤導性結果。
SciAps Z-70 搭載 6 mJ 雷射,效能較市場同類材料鑑別儀器強近 50 倍。這項突破徹底提升廢料場環境中的測試速度與效能,即使面對污損樣本,亦無需研磨,直接進行微區 LIBS 材料鑑別。
傳統材料鑑別儀器採用高重頻 150 μJ/脈衝雷射,能量過弱,無法有效清除污損表面。這將導致匹配錯誤,並需耗費額外時間進行樣本表面預處理。
Z-70 專為真實樣本測試所設計,可直接面對複雜應用場景。整合式氣泵可確保測試窗長時間保持潔淨,進而取得持續精準的數據。
數據純淨無干擾,技術領先顯優勢。
SciAps Z-70 搭載獨特氣泵過濾系統,能有效防止粉塵污物進入測試室,大幅減少測試室清潔頻率。
氣泵系統能主動清除殘留於測試窗的塵埃微粒,從源頭杜絕污染,確保測試結果絕對可靠。
| 重量 | 4.19 磅/ 1.9 公斤 (含電池) |
|---|---|
| 尺寸: | 10.73" x 3.35" x 10.24" / 270 x 260 x 85 公釐 |
| 显示屏 | 3.5″ 高亮度彩色觸控螢幕,在所有光線條件下皆可閱讀
面向後方的顯示器,便於輕鬆檢視結果 |
| 電功率 | 內建可充電式鋰離子電池,可在裝置內充電,或使用外部充電器、AC 電源 |
| Processing electronics and host processor | ARM Quad Cortex -A53 1.2GHz
記憶體:2 GB LPDDR3、16 GB eMMC |
| Data storage | 結果儲存裝置:32 GB SD |
| Data Transfer | 建置於 Google 的 Android 平台,可即時匯出資料,包括內建 WiFi (IEEE 802.11b/g/n)、藍牙 (BR/EDR+BLE)、GPS 和 USB-C,幾乎任何資訊管理系統均可連線 |
| 样品接口 | 整合式攝影機和雷射目標指示器,用於在分析之前和分析期間檢視樣品,提供正確的樣品一致性
包括第二個微距攝影機,用於掃描 QR 碼或條碼,以及相片記錄和報告產生 |
| Laser raster | 內建 Y 型平台用於將雷射光柵化到離散位置,以進行標的分析或是取平均值 |
| Environment | SciAps 專利 Opti-Purge 提供氣泵與過濾器,可協助在測試期間保持窗口潔淨 |
| Security | 受密碼保護的多使用者支援,存取權可設定 |
| Calibration check | 316 不鏽鋼標準,用於自動校準和波長尺度驗證 |
| 偏移量 | 內建自動偏移修正軟體,及原廠提供的校正模組 |
| 光谱带宽 | 190 – 625 nm |
| 校准类型 | 鋁:Li、Be、Mg、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Zr、Pb、Bi、Ag、Sn
銅:Be、Al、Si、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Se、Ag、Sn、Pb、Bi
鎂:Mg、Al、Mn、Cu、Zn
鈦:Al、Ti、V、Cr、Fe、Cu、Zr、Nb、Mo、Sn
鐵:Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Ni、Nb、Mo、W、Pb
不鏽鋼:Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Nb、Mo、W 鎳:Al、Si、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W |
| 法規測試 | CE、RoHS、USFDA 註冊。第 3b 級雷射系統
內建樣品感測器,允許在第 1 級條件下運作,但須經當地 LSO 核准 |
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