多角度動態光散射 (MADLS)

• 降低平滑化處理，使粒子大小測量結果更具代表性
  
• 產生不受角度影響的粒子大小分佈測量結果
• 以更高的解析度，提供多成份奈米顆粒分散特性分析
• 能針對正交技術無法解析的顆粒，進行大小解析粒子濃度測量

在傳統動態光散射 (DLS) 測量中，會使用同調性光源照射粒子分散體。一小部分的光會被樣品內的顆粒散射。這當中的部分散射會以單一指定角度加以偵測。接著，藉由使用自相關技術，可分析出散射強度的波動。最後，使用自相關數據進行計算，即可得出分散體中顆粒的大小。此計算除使用到分散劑的溫度和黏度，也用到散射偵測角度。 

散射於樣本的光線強度取決於顆粒的大小、折射率，以及偵測到散射的角度 (於 Mie 理論中說明)。這表示在同一樣本中，偵測大小不同的顆粒時，偵測靈敏度各不相同。因此，以傳統單角度 DLS 測量技術設量混合物時，可能會因測量角度的不同，而產生不同的顆粒大小分佈報告。這也是為什麼用以獲取 DLS 結果的散射角度也必須明確標註。 

MADLS 測量將來自多個偵測角度的相關性數據會與 Mie 理論相結合，以產生更高解析度的'顆粒大小分布測量結果。同樣本的各種呈現方式會予以擬合，這也有助於抑制測量中的雜訊，且能減少平滑化處理，相較於傳統分佈分析技術，可提供更精確可靠的分佈計算結果。這些改善代表 MADLS 可以改善相近尺寸之成份的解析度 (從 3:1 到 2:1)。

此高解析度測量也可以計算數量加權大小分佈，用以報告各尺寸之成份的每 mL 顆粒數。此外，顆粒大小測量時平滑化處較少，且精確度提高，有助於降低顆粒濃度計算時的錯誤率。 

雖然 MADLS 顆粒濃度測量是一種集合型技術，但顆粒大小分佈測量結果相當穩固，可產生尺寸解析度佳的顆粒濃度測量結果，不需仰賴校正曲線。 

MADLS 顆粒濃度測量結果需使用散射標準，將 Zetasizer Ultra 的光子偵測敏感度結果表徵化，但除此之外不需進行任何校正。