X 光分析

X 光繞射  (XRD)及 X 光散射皆可用於分析樣品的晶體結構 (X 光晶體學) 或辨識樣品中的結晶相並加以量化 (X 光粉末繞射/XRPD) 等用途。 

X 光繞射儀  也可搭配工具和配件增加延伸功能，進而以視覺化方式呈現物體內部結構，或運用 X 光散射判定奈米顆粒尺寸的分佈。    

X 光螢光  (XRF) 是廣泛使用的快速、非破壞性技術，僅需進行最少量的樣品製備即可判定材料的元素組成。 

XRF 分析儀可用於各種應用，範圍從篩檢進貨是否具有毒元素到在高通量關鍵生產環境中進行精確分析皆含括在內。 

Malvern Panalytical 提供一系列 XRF 分析儀，可助您因應各式挑戰。

X 光吸收光譜技術 (XAS) 是一套能針對特定元素進行分析的強大技術，可用以調查材料內的局部化學環境、氧化態以及元素原子配位。

X 光能量在原素的吸收邊各處會因為被吸收而出現不同變化，XAS 能藉由測量 X 光的吸收情形，提供關於電子結構與短程序的詳細資訊，即使在繞射技術難以因應的非晶相、無序或低濃度系統中，仍能穩定運作。

XAS 包含 X 光吸收近邊結構 (XANES) 以及延伸 X 光吸收精細結構 (EXAFS) 等技術，在催化、能量儲存、環境科學、採礦、先進材料與生命科學等研究領域中極具價值。

Malvern Panalytical 提供 XAS 解決方案，讓研究人員能更深入瞭解材料的化學性質與結構。

XRD、XRF 與 XAS 技術彼此具互補性，三者皆利用 X 光與物質的互動情形來提供有關材料的資訊，因此有許多相似之處。不過，每項技術所提供的資訊各不相同。

XRD 提供的資訊是關於樣品中存在的結晶相，另外也能分辨出各種化合物，例如不同的氧化態 (Fe₂O₃/Fe₃O₄) 或不同的同素異形體 (赤鐵礦與磁赤鐵礦，兩者皆屬於三價氧化鐵 Fe₂O₃)。

XRF 提供的資訊則是關於樣品的化學 (元素) 組成，即哪些元素 (Fe、O) 存在，數量又各是多少。XRF 的其中一個主要優勢在於可偵測低達 100 ppb (十億分之一) 的化學元素數量。相較於其他技術，XRF 樣品製備不僅快速簡單，同時更兼顧安全性。

XAS 提供關於特定元局部原子環境與電子結構的資訊。它能判定氧化態、配位數、鍵距與化學物種，使其特別適合用於研究催化劑、電池材料、地質樣品與複雜功能材料。

綜合使用這些技術，便能更透徹瞭解材料的組成、結構和化學成分。