Empyrean
智慧型 X 光繞射儀
非破壞性 3D 特性分析
電腦斷層掃描 (CT) 可讓研究人員針對樣本產生 3D 影像，例如藥物配方、切成薄片的地質樣本或建築材料樣本，以及其他 X 光可穿透的材料。
CT 是一種非破壞性技術，可透過視覺化方式呈現實心物體的內部特徵。此技術可供檢驗物體結構並能提供相關資訊，例如任何內部特徵或缺陷的大小、形狀和位置。
電腦斷層掃描背後的基本原理是擷取物體在一連串角定位下的多張放射線照片。這一系列的放射線照片在以面積偵測器測量後，便可用來透過體積重建而產生 3D 影像。
一般而言，任何可完全放入偵測器視野且可從所有與旋轉軸垂直的方向被 X 光穿透的樣本皆可採用此方式產生成像。
智慧型 X 光繞射儀
Empyrean 是唯一一款也可以執行 X 光電腦斷層掃描測量的多功能實驗室 X 光繞射儀。
這款產品的多功能要歸功於我們的 PREFIX 光學元件以及高效能的混合像素偵測器。
Empyrean 系列滿足您各種分析需求的多功能 X 光繞射儀 |
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|---|---|
| 技術類型 | |
| X光成像 | |
| X光繞射(XRD) | |
| 量測類型 | |
| 顆粒尺寸 | |
| 顆粒形狀 | |
| 晶體結構測定 | |
| 相鑑定 | |
| 相定量 | |
| 汙染物偵測和分析 | |
| 磊晶分析 | |
| 界面粗糙度 | |
| 3D結構/影像 |