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2830 ZT

2830 ZT 波長分散式 X 光螢光 (WDXRF) 晶圓分析儀可測量薄膜厚度與組成成分。
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Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

產品:
Zetium, CNA系列, Claisse 系列, 2830ZT (XRF 晶圓分析儀), Epsilon 系列, Axios FAST
技術類型:
X光螢光 (XRF), 硼酸鹽熔融
產業應用:
先進製造, 電子/光學, 金屬, 水处理, 製藥相關, 法医分析, 食品與飲料分析, 建築材料, 油、燃料和化學品, 化學品, 礦業, 汽車, 聚合物
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)
線上研討會-預錄
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

產品:
2830ZT (XRF 晶圓分析儀), Axios FAST, Claisse 系列, CNA系列, Epsilon 系列, Zetium
技術類型:
X光螢光 (XRF), 硼酸鹽熔融
產業應用:
先進製造, 電子/光學, 汽車, 建築材料, 食品與飲料分析, 金屬, 礦業, 法医分析, 油、燃料和化學品, 化學品, 製藥相關, 水处理, 聚合物
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained