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2830 ZT

2830 ZT 波長分散式 X 光螢光 (WDXRF) 晶圓分析儀可測量薄膜厚度與組成成分。

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產品:
2830 ZT 晶圓膜厚分析儀
技術類型:
X光繞射(XRD), X光螢光 (XRF), 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
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