Aplicaciones en investigación y producción
Es esencial comprender la textura. Por ejemplo, la textura es un parámetro crítico en la producción de metales, como el acero y el aluminio, para controlar propiedades como la resistencia mecánica (por ejemplo, en accesorios de herramientas) y conformabilidad.
En la mineralogía y la geología, la historia de deformación de la Tierra se investiga mediante la medición de la textura de las rocas.
El análisis de la distribución de la orientación puede ayudar a comprender el proceso de formación de los artefactos. Mediante el ajuste de las condiciones de crecimiento de películas delgadas, se pueden optimizar las propiedades deseadas, por ejemplo, para materiales de unidades de disco duro o cables superconductores.
Un pico en un difractograma representa la intensidad de una reflexión determinada (hkl) en una cierta orientación.
Mediante la inclinación y la rotación de la muestra, montada en un difractómetro, se puede registrar la distribución de la intensidad de una reflexión sobre la esfera de orientación (una figura de polo).
Cuando se ha medido un conjunto de figuras de polo para orientaciones de cristal independientes, se puede calcular la función de distribución de orientación (ODF) de los cristalitos.
La solución polifuncional para sus necesidades analíticas
Malvern Panalytical proporciona una gama de soluciones para mediciones de textura de rayos X.
El sistema Empyrean, equipado con una cuna de Euler, es un sistema de difracción de rayos X ideales para el científico de materiales que quiere medir cifras de polos en muestras de diversas formas y tamaños. El análisis posterior de las mediciones para la evaluación, la visualización y los cálculos de la función de distribución de orientación se realiza con la ayuda del paquete de software Texture.
EmpyreanEl difractómetro inteligente |
X'Pert³ MRDVersátil sistema XRD de investigación y desarrollo |
X'Pert³ MRD XLVersátil sistema XRD de investigación, desarrollo y control de calidad |
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| Tipo de medición | |||
| Análisis de textura | |||
| Tecnología | |||
| X-ray Diffraction (XRD) | |||
