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Epsilon Xline combina nuestra avanzada tecnología de XRF de dispersión de energía (EDXRF) con funcionalidad en línea. Esta solución avanzada permite la monitorización de materiales en tiempo real y el control de procesos de recubrimiento de rollo a rollo (R2R). El análisis directo permite una optimización continua de la composición y carga del material, lo que ayuda a minimizar la producción fuera de las especificaciones y maximizar la rentabilidad.
El Epsilon Xline adaptable puede ofrecer un control de proceso preciso y exacto en una amplia variedad de superficies y elementos.
Automatización completa en línea: Disfrute de una producción continua de R2R gracias a las capacidades de integración sin problemas de Epsilon Xline, adecuadas para una amplia gama de aplicaciones de película delgada y recubrimiento.
Sencillo y seguro: El Epsilon Xline es totalmente seguro y fácil de usar, a diferencia de los instrumentos portátiles o heredados, y ofrece datos analíticos de alta precisión.
Un ciclo de vida de experiencia: Basado en los más de 70 años de experiencia de Malvern Panalytical en análisis elemental , el Epsilon Xline se desarrolló en colaboración con nuestros socios de la industria para satisfacer sus necesidades actuales y, al mismo tiempo, considerar juntos el futuro de la industria.
Rendimiento maximizado: Logre una producción rentable con monitoreo en tiempo real y sin interrupciones, lo que le brinda la información y el control directos que necesita para aprovechar al máximo sus operaciones.
Eficiencia óptima de los materiales: elimine las inconsistencias, evite el desperdicio de materiales preciosos y garantice un producto de alta calidad con nuestra solución estándar de la industria.
Precisión probada y patentada: Desarrollado y probado con los clientes, el Epsilon Xline cuenta con tecnología patentada de corrección de altura que garantiza un análisis estable para obtener resultados precisos.
Con los catalizadores de platino que representan más del 20 % de sus costos totales de celdas de combustible, es esencial optimizar el recubrimiento del catalizador a través de una dispersión uniforme y capas coherentes. ¡Y el monitoreo de procesos rápido y preciso es la solución ideal! El Epsilon Xline facilita el control operativo eficiente y lo ayuda a realizar lo siguiente:
La fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-Ray Fluorescence”) es una tecnología de análisis elemental no destructiva que permite el monitoreo en línea durante los procesos de recubrimiento de membranas catalíticas, sin necesidad de tomar muestras y sin cambios químicos o físicos.
El análisis en línea con resultados en tiempo real permite una optimización rápida de muchos parámetros de procesos y propiedades del producto.
La tecnología probada y robusta utilizada en el Epsilon Xline y en toda nuestra serie de instrumentos Epsilon está impulsada por los últimos avances en tecnología de excitación y detección. Un camino óptico bien diseñado, una amplia gama de capacidades de excitación para elementos ligeros y pesados, y un rápido sistema detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución contribuyen a la potencia del Epsilon Xline.
Estas innovaciones generan resultados altamente reproducibles y precisos que requieren bajo mantenimiento.
| Tipos de muestras | Línea de recubrimiento |
|---|---|
| Coating types | Continuos, de carriles, de parches |
| Line speed continuous coating | Máximo de 30 m/min |
| Line speed patch coating | Máximo de 11 m/min
|
| Type | Metal-cerámica, ventana lateral 50 µm (Be) |
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Controlado por software, voltajes aplicables de 4 a 50 kV, máx. 3 mA, potencia máx. del tubo de 15 W |
| X-Ray filtering | Seis programas seleccionables en el software (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; Ag 100 µm) |
| Type | Detector de deriva de silicio de alta resolución SDD10
Ventana: 8 µm (Be) |
|---|---|
| Resolución | <145 eV a 5,9 keV/1000 cps
Generalmente, 135 eV a 5,9 keV/1000 cps
|
| Radiation levels | <1 µSv/h a 10 cm de la superficie exterior |
|---|
Integre el Epsilon Xline en sus líneas de producción a la perfección con conectividad a OPC integrada. El paquete de software dedicado que se incluye facilita la configuración de su Epsilon Xline para diferentes materiales y modos de medición. Mediante el ingreso de comandos directamente al instrumento, o a través de una consola remota, la interfaz fácil de usar muestra una visión general de los datos de seguimiento completos.
Paquete de software analítico EDXRF para sistemas de mesas de trabajo Epsilon
Determinación de la composición y espesor de recubrimientos y multicapas
| Título | Versión | Fecha | Descargar |
|---|---|---|---|
| {{ row.title }} | {{ row.softwareVersion }} | {{ row.date }} | Descargar |
Lo sentimos, no hay manuales disponibles para este producto
| Título | Versión | Fecha | Descargar |
|---|---|---|---|
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Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.
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