Información general
Epsilon Xline combina nuestra avanzada tecnología de XRF de dispersión de energía (EDXRF) con funcionalidad en línea. Esta solución avanzada permite la monitorización de materiales en tiempo real y el control de procesos de recubrimiento de rollo a rollo (R2R). El análisis directo permite una optimización continua de la composición y carga del material, lo que ayuda a minimizar la producción fuera de las especificaciones y maximizar la rentabilidad.
El Epsilon Xline adaptable puede ofrecer un control de proceso preciso y exacto en una amplia variedad de superficies y elementos.
Características
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Automatización completa en línea: Disfrute de una producción continua de R2R gracias a las capacidades de integración sin problemas de Epsilon Xline, adecuadas para una amplia gama de aplicaciones de película delgada y recubrimiento.
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Sencillo y seguro: El Epsilon Xline es totalmente seguro y fácil de usar, a diferencia de los instrumentos portátiles o heredados, y ofrece datos analíticos de alta precisión.
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Un ciclo de vida de experiencia: Basado en los más de 70 años de experiencia de Malvern Panalytical en análisis elemental , el Epsilon Xline se desarrolló en colaboración con nuestros socios de la industria para satisfacer sus necesidades actuales y, al mismo tiempo, considerar juntos el futuro de la industria.
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Rendimiento maximizado: Logre una producción rentable con monitoreo en tiempo real y sin interrupciones, lo que le brinda la información y el control directos que necesita para aprovechar al máximo sus operaciones.
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Eficiencia óptima de los materiales: elimine las inconsistencias, evite el desperdicio de materiales preciosos y garantice un producto de alta calidad con nuestra solución estándar de la industria.
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Precisión probada y patentada: Desarrollado y probado con los clientes, el Epsilon Xline cuenta con tecnología patentada de corrección de altura que garantiza un análisis estable para obtener resultados precisos.
¿Por qué Epsilon Xline?
- Control del proceso en línea no destructivo: no se requiere muestreo
- Gama de modos de escaneo para acomodar parches continuamente y procesos de recubrimiento de carriles múltiples
- Fácil de integrar en los procesos de producción con protocolos de comunicación estándar
- Capaz de medir todos los elementos valiosos de interés, incluidos platino y cerio
- Capaz de medir capas delgadas con excelente precisión
- Acomoda una variedad de anchos de rollo
- Brazo robótico patentado único que proporciona un control óptimo de la distancia cuando se pasa el cabezal de medición sobre la línea de producción en todas las direcciones
Enfrentar los desafíos de la producción de celdas de combustible
Con los catalizadores de platino que representan más del 20 % de sus costos totales de celdas de combustible, es esencial optimizar el recubrimiento del catalizador a través de una dispersión uniforme y capas coherentes. ¡Y el monitoreo de procesos rápido y preciso es la solución ideal! El Epsilon Xline facilita el control operativo eficiente y lo ayuda a realizar lo siguiente:
- Minimizar su producción fuera de las especificaciones
- Ahorrar valioso platino de ser desperdiciado
- Elaborar productos finales competitivos y rentables
Análisis elemental en su proceso
La fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-Ray Fluorescence”) es una tecnología de análisis elemental no destructiva que permite el monitoreo en línea durante los procesos de recubrimiento de membranas catalíticas, sin necesidad de tomar muestras y sin cambios químicos o físicos.
El análisis en línea con resultados en tiempo real permite una optimización rápida de muchos parámetros de procesos y propiedades del producto.
Mediciones altamente reproducibles y precisas con poco mantenimiento
La tecnología probada y robusta utilizada en el Epsilon Xline y en toda nuestra serie de instrumentos Epsilon está impulsada por los últimos avances en tecnología de excitación y detección. Un camino óptico bien diseñado, una amplia gama de capacidades de excitación para elementos ligeros y pesados, y un rápido sistema detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución contribuyen a la potencia del Epsilon Xline.
Estas innovaciones generan resultados altamente reproducibles y precisos que requieren bajo mantenimiento.
