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Epsilon Xline

Control en línea para procesos continuos de rollo a rollo

  • XRF avanzado de dispersión de energía con funcionalidad en línea
  • Monitoreo en tiempo real en recubrimientos rollo a rollo (R2R)
  • Análisis directo para una optimización continua

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Información general

Epsilon Xline combina nuestra avanzada tecnología de XRF de dispersión de energía (EDXRF) con funcionalidad en línea. Esta solución avanzada permite la monitorización de materiales en tiempo real y el control de procesos de recubrimiento de rollo a rollo (R2R). El análisis directo permite una optimización continua de la composición y carga del material, lo que ayuda a minimizar la producción fuera de las especificaciones y maximizar la rentabilidad. 

El Epsilon Xline adaptable puede ofrecer un control de proceso preciso y exacto en una amplia variedad de superficies y elementos.  

Características

  • Automatización completa en línea: Disfrute de una producción continua de R2R gracias a las capacidades de integración sin problemas de Epsilon Xline, adecuadas para una amplia gama de aplicaciones de película delgada y recubrimiento. 

  • Sencillo y seguro: El Epsilon Xline es totalmente seguro y fácil de usar, a diferencia de los instrumentos portátiles o heredados, y ofrece datos analíticos de alta precisión. 

  • Un ciclo de vida de experiencia: Basado en los más de 70 años de experiencia de Malvern Panalytical en análisis elemental , el Epsilon Xline se desarrolló en colaboración con nuestros socios de la industria para satisfacer sus necesidades actuales y, al mismo tiempo, considerar juntos el futuro de la industria. 

  • Rendimiento maximizado: Logre una producción rentable con monitoreo en tiempo real y sin interrupciones, lo que le brinda la información y el control directos que necesita para aprovechar al máximo sus operaciones. 

  • Eficiencia óptima de los materiales: elimine las inconsistencias, evite el desperdicio de materiales preciosos y garantice un producto de alta calidad con nuestra solución estándar de la industria. 

  • Precisión probada y patentada: Desarrollado y probado con los clientes, el Epsilon Xline cuenta con tecnología patentada de corrección de altura que garantiza un análisis estable para obtener resultados precisos. 

¿Por qué Epsilon Xline?

  • Control del proceso en línea no destructivo: no se requiere muestreo
  • Gama de modos de escaneo para acomodar parches continuamente y procesos de recubrimiento de carriles múltiples
  • Fácil de integrar en los procesos de producción con protocolos de comunicación estándar 
  • Capaz de medir todos los elementos valiosos de interés, incluidos platino y cerio 
  • Capaz de medir capas delgadas con excelente precisión
  • Acomoda una variedad de anchos de rollo
  • Brazo robótico patentado único que proporciona un control óptimo de la distancia cuando se pasa el cabezal de medición sobre la línea de producción en todas las direcciones

Enfrentar los desafíos de la producción de celdas de combustible

Con los catalizadores de platino que representan más del 20 % de sus costos totales de celdas de combustible, es esencial optimizar el recubrimiento del catalizador a través de una dispersión uniforme y capas coherentes. ¡Y el monitoreo de procesos rápido y preciso es la solución ideal! El Epsilon Xline facilita el control operativo eficiente y lo ayuda a realizar lo siguiente:  

  • Minimizar su producción fuera de las especificaciones  
  • Ahorrar valioso platino de ser desperdiciado  
  • Elaborar productos finales competitivos y rentables 

Análisis elemental en su proceso

La fluorescencia de rayos X (XRF, del inglés “X-Ray Fluorescence”) es una tecnología de análisis elemental no destructiva que permite el monitoreo en línea durante los procesos de recubrimiento de membranas catalíticas, sin necesidad de tomar muestras y sin cambios químicos o físicos.  

El análisis en línea con resultados en tiempo real permite una optimización rápida de muchos parámetros de procesos y propiedades del producto. 

Mediciones altamente reproducibles y precisas con poco mantenimiento

La tecnología probada y robusta utilizada en el Epsilon Xline y en toda nuestra serie de instrumentos Epsilon está impulsada por los últimos avances en tecnología de excitación y detección. Un camino óptico bien diseñado, una amplia gama de capacidades de excitación para elementos ligeros y pesados, y un rápido sistema detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución contribuyen a la potencia del Epsilon Xline. 

Estas innovaciones generan resultados altamente reproducibles y precisos que requieren bajo mantenimiento. 

Especificación

Manipulación de muestras

Tipos de muestras
Línea de recubrimiento
Coating types
Continuos, de carriles, de parches
Line speed continuous coating
Máximo de 30 m/min
Line speed patch coating
Máximo de 11 m/min

Tubos de rayos X

Type
Metal-cerámica, ventana lateral 50 µm (Be)
Anode material Ag
Tube setting
Controlado por software, voltajes aplicables de 4 a 50 kV, máx. 3 mA, potencia máx. del tubo de 15 W
X-Ray filtering
Seis programas seleccionables en el software (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; Ag 100 µm)

Detector

Type
Detector de deriva de silicio de alta resolución SDD10
Ventana: 8 µm (Be)
Resolución
<145 eV a 5,9 keV/1000 cps
Generalmente, 135 eV a 5,9 keV/1000 cps

Estándares de seguridad

Radiation levels
<1 µSv/h a 10 cm de la superficie exterior

Accesorios

Conectividad incorporada

Integre el Epsilon Xline en sus líneas de producción a la perfección con conectividad a OPC integrada. El paquete de software dedicado que se incluye facilita la configuración de su Epsilon Xline para diferentes materiales y modos de medición. Mediante el ingreso de comandos directamente al instrumento, o a través de una consola remota, la interfaz fácil de usar muestra una visión general de los datos de seguimiento completos.  

Software Epsilon

Paquete de software analítico EDXRF para sistemas de mesas de trabajo Epsilon

El software Epsilon es la plataforma de software de análisis de XRF que se utiliza con la gama de sistemas de EDXRF para mesas de trabajo Epsilon 1 y Epsilon 4 de PANalytical. El software ofrece todas las funciones necesarias para configurar y utilizar un sistema de mesas de trabajo Epsilon. El montaje del programa analítico se ve facilitado en gran medida por el alto grado de inteligencia integrado en el software, lo que permite a los usuarios beneficiarse de medio siglo de experiencia en aplicaciones. El análisis diario de XRF es una tarea rutinaria que puede ser realizada fácilmente por personal inexperto después de un mínimo de instrucción. Muchas características están presentes para mejorar la facilidad de uso del software.

Stratos

Determinación de la composición y espesor de recubrimientos y multicapas

El módulo del software Stratos presenta un algoritmo que permite la determinación simultánea de la composición química y el espesor de los materiales en capas a partir de las medidas tomadas. El software proporciona un medio rápido, simple y no destructivo de análisis de recubrimientos, capas superficiales y estructuras multicapa. El Virtual Analyst proporciona inteligencia durante la configuración de programas de medición para pilas complicadas. 


Disponible tanto para los espectrómetros Epsilon 4 EDXRF como para Zetium, Stratos ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o matriz.

Manuales de usuario

Comuníquese con el soporte para obtener los manuales de usuario más recientes.

Descargas de software

Por favor, póngase en contacto con soporte para la última versión del software.

Soporte

Servicios

Soluciones para maximizar la rentabilidad de su inversión

Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.

Soporte

Servicio durante toda la vida útil

  • Asistencia telefónica y remota
  • Mantenimiento preventivo y revisiones
  • Acuerdos flexibles de atención al cliente
  • Certificados de rendimiento
  • Actualizaciones de hardware y software
  • Asistencia local y global

Experiencia

Agregamos valor a sus procesos 

  • Desarrollo y optimización de preparación de muestras
  • Metodologías analíticas 
  • Soluciones listas para usar para XRD 
  • Operaciones a través de IQ/OQ/PQ, aseguramiento de la calidad (GLP, ISO17025) o estudios interlaboratorios o cooperativos
  • Servicios de asesoría

Capacitación y educación

  • Capacitación in situ o en nuestros centros de competencia
  • Amplia gama de cursos básicos y avanzados sobre productos, aplicaciones y software
Control en línea simplificado.

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Análisis elemental avanzado para la inspección en línea del producto. Monitoreo continuo y confiable simplificado.

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