Introducción 

La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica no destructiva que se utiliza para obtener información elemental de los diferentes tipos de materiales. Esta se utiliza en diversas industrias y aplicaciones, como producción de cemento, producción de vidrio, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, petróleo y petroquímica, polímeros e industrias relacionadas, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud y sector medioambiental. Los sistemas de espectrometría generalmente se dividen en dos grupos principales: los sistemas de dispersión por longitud de onda (WDXRF) y los sistemas de dispersión de energía (EDXRF). La diferencia entre ambos radica en el sistema de detección. 

¿Qué es la WDXRF y cómo funciona?

El concepto básico de todos los espectrómetros es una fuente de radiación, una muestra y un sistema de detección. En espectrómetros de WDXRF, el tubo de rayos X que actúa como fuente irradia una muestra directamente, y la fluorescencia procedente de la muestra se mide con un sistema de detección de dispersión por longitud de onda. La radiación característica procedente de cada elemento individual se puede identificar mediante el análisis de los cristales que separan los rayos X en función de la longitud de onda o, por el contrario, de las energías. Este análisis se puede hacer mediante la medición de la intensidad de los rayos X en diferentes longitudes de onda, una tras otra (secuencial), o en posiciones fijas mediante la medición de la intensidad de los rayos X en diferentes longitudes de onda, todas al mismo tiempo (simultánea). ​

Ventajas de la espectrometría de WDXRF

  • Alta resolución, especialmente para elementos más livianos
  • Bajos límites de detección, especialmente para elementos más livianos
  • Análisis consistentes
  • Alto rendimiento