Il existe une large gamme d'analyseurs XRF disponibles sur le marché, allant des petits appareils de poche et appareils pour paillasse aux grands systèmes fixés au sol. Les fonctionnalités et performances de tous ces systèmes varient, mais tous sont développés pour résoudre les problèmes fondamentaux des utilisateurs. Bien que l'on ait l'impression que les appareils de poche sont toujours les solutions les plus économiques, il existe des appareils pour paillasse mobiles tels que l'Epsilon 1 qui répondent à des budgets similaires, généralement compris entre 25 000 et 50 000 dollars.
Si les appareils pour paillasse sont disponibles dans une gamme de prix similaire à celle d'un appareil de poche, quel devrait être le facteur décisif ? Faut-il choisir en fonction de la perception d'un zapping facile avec un pistolet XRF pour obtenir un résultat ou y a-t-il d'autres aspects à prendre en compte pour prendre la bonne décision ? Les principaux avantages de l'Epsilon 1 mobile par rapport à un appareil de poche sont les suivants :
Pour plus d'informations, lisez nos Cinq raisons pour lesquelles vous devriez choisir un XRF mobile plutôt qu'un XRF de poche.
Alors comment choisir l'appareil le plus adapté à mon projet et quel budget dois-je y consacrer ? Pas de panique, nous avons des spécialistes dans le monde entier qui sont disponibles pour discuter avec vous de vos échantillons et de vos défis élémentaires et vous conseiller sur les spectromètres XRF capables de répondre à vos besoins. Pour nous contacter, veuillez cliquer sur Contact Sales (Contacter notre service commercial).
RevontiumCompact brilliance, powerful analysis, endless possibilities |
ZetiumL'excellence élémentaire |
Gamme EpsilonAnalyse élémentaire rapide et précise de et en ligne |
Epsilon XflowUn aperçu direct de votre processus de production |
2830 ZTSolution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs |
Axios FASTCadence d'analyse élevée |
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Type de mesure | ||||||
Métrologie des couches minces | ||||||
Analyse élémentaire | ||||||
Détection et analyse de contaminants | ||||||
Quantification élémentaire | ||||||
Identification chimique | ||||||
Technologie | ||||||
Fluorescence X (XRF) | ||||||
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) | ||||||
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) | ||||||
Plage élémentaire | Be-Am | F-Am | Na-Am | B-Am | B-Am | |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
Résolution (Mg-Ka) | 35eV | 145eV | 135eV | 35eV | 35eV | |
Débit d'échantillon | 160per 8h day - 240per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line | up to 25 wafers per hour | 240per 8h day - 480per 8h day | |
Format | Compact | Floorstanding WDXRF | Benchtop EDXRF | Realtime | Semi | Floorstanding WDXRF |