Epsilon 4

Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise

S'appuyant sur l'expérience et la réussite de la gamme éprouvée de spectromètres de fluorescence X Epsilon 3, l'Epsilon 4 est analyseur multifonctionnel de spectrométrie de fluorescence X de paillasse conçu pour tout secteur d'activité nécessitant une analyse élémentaire du fluor (F) à l'américium (Am) dans les domaines du contrôle de procédés et de la recherche et du développement. Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection à un logiciel éprouvé et une conception intelligente, les performances d'analyse de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol.

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Éditions industrielles

Epsilon 4 Huiles et carburants

Répondez aux exigences des normes EPA TIER 3 et ISO 13032 pour l'analyse du soufre dans les carburants et les huiles.
Epsilon 4 Huiles et carburants

Epsilon 4 Lubrifiants

Répondez aux exigences de la norme ASTM D7751-15 pour l'analyse des additifs dans les lubrifiants.
Epsilon 4 Lubrifiants

Epsilon 4 Produits pharmaceutiques et cosmétiques

Répondez aux exigences des normes ICH Q3D, USP <232>, <233> et <735> pour l'analyse de traces d'éléments d'impuretés dans les excipients et l'API.
Epsilon 4 Produits pharmaceutiques et cosmétiques

Epsilon 4 Agroalimentaire et environnement

Répondez aux exigences de la norme EPA IO-3.3 pour l'analyse des filtres à air et des normes ISO 18227, ISO 15309 et ASTM C1255 pour l'analyse des sols.
Epsilon 4 Agroalimentaire et environnement

Epsilon 4 Matériaux de construction

Répondez aux exigences de la norme ASTM C114-15 et réduisez le temps de réaction en plaçant l'Epsilon 4 à côté de la ligne de production
Epsilon 4 Matériaux de construction

Polymères, plastiques et peintures Epsilon 4

Analyser avec précision les additifs et les résidus de catalyseur (ADPOL), les éléments toxiques (TOXEL) et assurer la conformité à la directive RoHS (RoHS)
Polymères, plastiques et peintures Epsilon 4

Présentation générale

Epsilon 4 Où vous le souhaitez

En raison de ses faibles besoins en infrastructure, l'Epsilon 4 peut être placé à côté de la ligne de production, à n'importe quelle étape de votre procédé. Ses hautes performances permettent à la plupart des applications d'être exploitées dans les conditions ambiantes, réduisant ainsi les coûts de l'hélium ou d'entretien du système de vide.

Epsilon 4 Où vous le souhaitez

Une valeur ajoutée au-delà de l'analyse

Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie conçu pour la gamme d'analyse élémentaire du carbone (C) à l'américium (Am) et la gamme de concentration du niveau inférieur au ppm à 100 % en poids. 

Choisissez le logiciel Omnian pour l'analyse sans étalon, utilisez le logiciel FingerPrint pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante ou Stratos pour une analyse rapide, simple et non destructive des revêtements, des couches superficielles et des structures multicouches. Vous pouvez également utiliser le programme Enhanced Data Security (sécurité des données renforcée) qui garantit la conformité à des réglementations telles que la norme FDA 21 CFR Partie 11 ou utilisez Oil-Trace pour la quantification de mélanges de carburants-biocarburants et de lubrifiants neufs et usés.

Une valeur ajoutée au-delà de l'analyse

Adapté à tout type d'échantillon

L'Epsilon 4 permet de gérer différents types d'échantillons tels que les solides, les poudres compactées ou libres, les liquides et les filtres. Il effectue une analyse quantitative non destructive d'éléments, du fluor de carbone (C) à l'américium (Am), à partir de concentrations de 100 % jusqu'à des niveaux inférieurs au ppm, sur des échantillons d'un poids allant de quelques milligrammes à plusieurs kilogrammes.

L'Epsilon 4 est une alternative fiable et robuste aux systèmes classiques d'une grande variété d'industries et d'applications, même lorsque l'analyse d'éléments légers est de la plus haute importance, notamment : la production de ciment, l'exploitation minière, l'enrichissement de minerais, le fer, l'acier et les métaux non ferreux, le criblage et la quantification selon la RoHS, le pétrole et les produits pétroliers, les polymères et les industries associées, la fabrication de verre, la médecine légale, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, l'environnement, les denrées alimentaires et les produits cosmétiques.

Adapté à tout type d'échantillon

Fonctionnalités

Configurations modulables

L'Epsilon 4 est un outil d'analyse extrêmement modulable et disponible dans une version de 10 watts pour l'analyse élémentaire (F - Am) dans divers domaines, de la recherche et du développement au contrôle de procédés. Pour un débit d'échantillon encore plus élevé ou des capacités d'élément léger étendues et dans les environnements plus difficiles, une version de 15 watts est disponible, qui peut même analyser le carbone, l'azote et l'oxygène.

Configurations modulables

Derniers développements

Les instruments Epsilon 4 associent la dernière technologie en matière d'excitation et de détection à un logiciel d'analyse de pointe. Le tube à rayons X de 15 watts permettant une excitation à intensité élevée (3 mA), associé au dernier détecteur SDD30 et à un trajet optique compact, offre des performances d'analyse de loin supérieures à celles des systèmes EDXRF de 50 watts, voire même des systèmes WDRXF de paillasse. Il permet également en parallèle de réduire la consommation d'énergie.

Derniers développements

Sensible et rapide

Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées.

Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.

Sensible et rapide

Réduction de la consommation d'hélium

Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.

Réduction de la consommation d'hélium

Spécifications

Manipulation des échantillons Tube à rayons X Détecteur Logiciels
Passeur d'échantillon amovible à 10 positions Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα Criblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian
Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces) Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) Taux de comptage maximal de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint
Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité Enhanced Data Security (sécurité des données renforcée) pour les environnements réglementés
Mode mesure « Gros échantillon » pour l'analyse d'échantillons plus volumineux d'une hauteur maximale de 10 cm

Stratos pour échantillons multicouches



Calibrage flexible unique pour les métaux d'usure dans des lubrifiants neufs et usés à l'aide d'Oil-Trace

Accessoires

Étalons (matériaux de référence)

ADPOL

Analyse élémentaire précise par spectrométrie de fluorescence X des additifs de polymère fonctionnels
ADPOL

WROXI

Analyse précise d'une large gamme d'oxydes de minéraux
WROXI

LAS

Analyse des aciers faiblement alliés avec les spectromètres XRF Malvern Panalytical
LAS

RoHS

Analyse élémentaire précise des matériaux limités par la norme LdSD
RoHS

TOXEL

Analyse précise par spectrométrie de fluorescence X des éléments toxiques dans les polymères et les plastiques
TOXEL

MRC

Claisse est toujours là pour répondre à vos besoins !
MRC

Logiciels

Logiciel Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.

Logiciel Epsilon

Stratos

Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches.
Stratos

Omnian

Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.

Omnian

Oil-Trace

Oil-Trace est un logiciel comprenant une série d'étalons qui permettent aux utilisateurs d'effectuer des analyses élémentaires fiables et précises des liquides par WDRXF et EDXRF.
Oil-Trace

FingerPrint

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.

FingerPrint

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Automatisation des procédés de laboratoire
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

Services analytiques et matériel d'étalonnage

  • Services d'analyses d'experts (XRF)
  • Analyse d'oxydes et d'éléments traces
  • Matériel d'étalonnage personnalisé

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak
Powerful at-line elemental analysis.

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