Epsilon 4 Matériaux de construction

Améliorez l'efficacité de vos procédés grâce à une analyse élémentaire de haute qualité à faible coût.

  • Analyseur XRF de paillasse multifonctionnel 
  • Conforme aux normes ASTM C114-15 et ISO 29581-2
  • Conçu pour l'industrie du ciment et du bâtiment

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Présentation générale

La spectrométrie par fluorescence des rayons X joue un rôle analytique important et bien établi dans l'industrie du ciment. Elle est largement utilisée dans la production et le contrôle de qualité pour l'analyse élémentaire des matières premières, des carburants alternatifs et des produits finis.

S’appuyant sur la gamme éprouvée et reconnue de spectromètres de paillasse de Malvern Panalytical, l'Epsilon 4 permet de réaliser des analyses par spectrométrie de fluorescence X à la pointe de la technologie. Les extraordinaires performances analytiques de l'Epsilon 4 sont comparables aux instruments XRF posés au sol, avec un coût d'investissement beaucoup plus faible.

Découvrez les possibilités de l'analyse par spectrométrie de fluorescence X et réduisez votre temps de réaction de plusieurs heures à quelques minutes en plaçant le spectromètre de fluorescence X à côté de la ligne de production.

Fonctionnalités

  • Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse : Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.

  • Fonctionnement sans surveillance : La combinaison d'un passeur d'échantillon amovible à 10 positions et d'un porte-échantillon permet le traitement automatique de lots d'échantillons sans la nécessité d'une intervention de l'opérateur. La rotation continue de l'échantillon pendant la mesure réduit toutes les erreurs occasionnées par le manque d'homogénéité ou les irrégularités de surface dans les échantillons individuels et offre des résultats plus précis. Le transfert automatique des données vers un emplacement central vous permet d'accéder aux derniers résultats.

  • Sensible et rapide : Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.

  • Réduction de la consommation d'hélium : Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.

Précision des résultats

Le tube à rayons X en métal-céramique haute performance unique, spécialement conçu et fabriqué par Malvern Panalytical, garantit des données de haute qualité et des résultats fiables. 

Les réglages de tension modulables de 4,0 à 50 kV et le réglage du courant maximal pouvant atteindre 3,0 mA optimisent les performances dans l'ensemble du tableau périodique.

Une valeur ajoutée au-delà de la conformité

La spectrométrie par fluorescence des rayons X joue un rôle analytique important et bien établi dans l'industrie du ciment

En combinaison avec le système de fusion entièrement automatique Eagon 2, l'Epsilon 4 est conforme aux dernières méthodes d'essai du ciment des normes ASTM C114-15 et ISO 29581-2 en seulement 10 minutes.

Applications clés

Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux. Les échantillons peuvent être mesurés comme :

  • Solides
  • Poudres compactes
  • Poudres libres
  • Liquides
  • Perles de fusion
  • Boues
  • Granules
  • Filtres
  • Films & revêtements

Spécifications

Manipulation des échantillons

Capacité d'échantillon Passeur d'échantillon amovible à 10 positions
Taille d'échantillon Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces)
Features Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air

Tube à rayons X

Features Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si)
Tube setting Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI

Détecteur

Type de détecteur Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα
Features Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité

Logiciels

Logiciels
  • Criblage élémentaire de carburants alternatifs avec la solution d'analyse sans étalon Omnian
  • Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint
  • Calibrage flexible unique pour les métaux d'usure dans des lubrifiants neufs et usés à l'aide d'Oil-Trace

Accessoires

Logiciels

Logiciel Epsilon

Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical. Le logiciel offre toutes les fonctions nécessaires à la configuration et au fonctionnement d'un système de paillasse Epsilon. L'assemblage du programme analytique est grandement facilité par le haut degré d'intelligence intégré au logiciel, ce qui permet aux utilisateurs de bénéficier d'un demi-siècle d'expertise en applications. L'analyse XRF quotidienne est une tâche de routine qui peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. De nombreuses fonctionnalités sont présentes pour améliorer l'ergonomie du logiciel.

Omnian

Analyse sans étalon de tous les types d'échantillons

Le système Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalon certifié. Progiciel d'analyse sans étalon avant-gardiste, Omnian intègre un logiciel de pointe et des échantillons de configuration qui transcendent les technologies. Disponible pour les spectromètres Epsilon 1, Epsilon 4 et Zetium, Omnian offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Oil-Trace

Analyse précise des éléments traces

Oil-Trace est un logiciel comprenant une série d'étalons qui permettent aux utilisateurs d'effectuer des analyses élémentaires fiables et précises des liquides par WDXRF et EDXRF. Oil-Trace résout deux problèmes lors de l'analyse de liquides :

1) correction de matrice adéquate en présence d'un mélange inconnu d'éléments CHON

2) correction des erreurs dues aux variations du volume de l'échantillon analysé

En s'attaquant efficacement à ces problèmes, Oil-Trace apporte des avantages significatifs à l'analyse du pétrole.

FingerPrint

Identification instantanée des matériaux

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon 4 est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt. FingerPrint implique généralement peu ou pas de préparation d'échantillons et n'est pas destructif.

Étalons (matériaux de référence)

Matériaux de référence certifiés

Matériaux de référence certifiés, y compris les modules d'étalonnage XRF et les matériaux de référence

Pour en savoir plus

WROXI

Analyse précise d'une large gamme d'oxydes de minéraux

WROXI CRM est un kit de matériaux de référence certifiés synthétiques de haute qualité qui couvre une large gamme de matériaux oxydés tels que les minerais, les roches et les matériaux géologiques.

Pour en savoir plus

Préparation des échantillons

Claisse LeNeo

Conservez une longueur d'avance grâce l'expertise de Claisse dans la fusion.

L'instrument de fusion Claisse LeNeo prépare des perles pour l'analyse XRF ainsi que des solutions de borate et de peroxyde pour les analyses AA et ICP. Il s'agit d'un instrument électrique à une seule position.

Pour en savoir plus
Claisse LeNeo

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Analyse élémentaire de haute qualité et à faible coût.

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