Epsilon 4 Pre-installation manual
Numéro de version: 4
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La spectrométrie par fluorescence des rayons X joue un rôle analytique important et bien établi dans l'industrie du ciment. Elle est largement utilisée dans la production et le contrôle de qualité pour l'analyse élémentaire des matières premières, des carburants alternatifs et des produits finis.
S’appuyant sur la gamme éprouvée et reconnue de spectromètres de paillasse de Malvern Panalytical, l'Epsilon 4 permet de réaliser des analyses par spectrométrie de fluorescence X à la pointe de la technologie. Les extraordinaires performances analytiques de l'Epsilon 4 sont comparables aux instruments XRF posés au sol, avec un coût d'investissement beaucoup plus faible.
Découvrez les possibilités de l'analyse par spectrométrie de fluorescence X et réduisez votre temps de réaction de plusieurs heures à quelques minutes en plaçant le spectromètre de fluorescence X à côté de la ligne de production.
Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse : Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.
Fonctionnement sans surveillance : La combinaison d'un passeur d'échantillon amovible à 10 positions et d'un porte-échantillon permet le traitement automatique de lots d'échantillons sans la nécessité d'une intervention de l'opérateur. La rotation continue de l'échantillon pendant la mesure réduit toutes les erreurs occasionnées par le manque d'homogénéité ou les irrégularités de surface dans les échantillons individuels et offre des résultats plus précis. Le transfert automatique des données vers un emplacement central vous permet d'accéder aux derniers résultats.
Sensible et rapide : Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.
Réduction de la consommation d'hélium : Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.
Le tube à rayons X en métal-céramique haute performance unique, spécialement conçu et fabriqué par Malvern Panalytical, garantit des données de haute qualité et des résultats fiables.
Les réglages de tension modulables de 4,0 à 50 kV et le réglage du courant maximal pouvant atteindre 3,0 mA optimisent les performances dans l'ensemble du tableau périodique.
La spectrométrie par fluorescence des rayons X joue un rôle analytique important et bien établi dans l'industrie du ciment.
En combinaison avec le système de fusion entièrement automatique Eagon 2, l'Epsilon 4 est conforme aux dernières méthodes d'essai du ciment des normes ASTM C114-15 et ISO 29581-2 en seulement 10 minutes.
Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux. Les échantillons peuvent être mesurés comme :
| Capacité d'échantillon | Passeur d'échantillon amovible à 10 positions |
|---|---|
| Taille d'échantillon | Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces) |
| Features | Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air |
| Features | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI |
| Type de détecteur | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité |
| Logiciels |
|
|---|
Numéro de version: 4
Numéro de version: 4
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 3
Numéro de version: 3
Numéro de version: 3
Numéro de version: 3
Numéro de version: 3
Numéro de version: 3
Numéro de version: 1
Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
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La spectrométrie par fluorescence des rayons X joue un rôle analytique important et bien établi dans l'industrie du ciment. Elle est largement utilisée dans la production et le contrôle de qualité pour l'analyse élémentaire des matières premières, des carburants alternatifs et des produits finis.
S’appuyant sur la gamme éprouvée et reconnue de spectromètres de paillasse de Malvern Panalytical, l'Epsilon 4 permet de réaliser des analyses par spectrométrie de fluorescence X à la pointe de la technologie. Les extraordinaires performances analytiques de l'Epsilon 4 sont comparables aux instruments XRF posés au sol, avec un coût d'investissement beaucoup plus faible.
Découvrez les possibilités de l'analyse par spectrométrie de fluorescence X et réduisez votre temps de réaction de plusieurs heures à quelques minutes en plaçant le spectromètre de fluorescence X à côté de la ligne de production.
Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse : Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.
Fonctionnement sans surveillance : La combinaison d'un passeur d'échantillon amovible à 10 positions et d'un porte-échantillon permet le traitement automatique de lots d'échantillons sans la nécessité d'une intervention de l'opérateur. La rotation continue de l'échantillon pendant la mesure réduit toutes les erreurs occasionnées par le manque d'homogénéité ou les irrégularités de surface dans les échantillons individuels et offre des résultats plus précis. Le transfert automatique des données vers un emplacement central vous permet d'accéder aux derniers résultats.
Sensible et rapide : Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.
Réduction de la consommation d'hélium : Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.
Le tube à rayons X en métal-céramique haute performance unique, spécialement conçu et fabriqué par Malvern Panalytical, garantit des données de haute qualité et des résultats fiables.
Les réglages de tension modulables de 4,0 à 50 kV et le réglage du courant maximal pouvant atteindre 3,0 mA optimisent les performances dans l'ensemble du tableau périodique.
La spectrométrie par fluorescence des rayons X joue un rôle analytique important et bien établi dans l'industrie du ciment.
En combinaison avec le système de fusion entièrement automatique Eagon 2, l'Epsilon 4 est conforme aux dernières méthodes d'essai du ciment des normes ASTM C114-15 et ISO 29581-2 en seulement 10 minutes.
Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux. Les échantillons peuvent être mesurés comme :
| Capacité d'échantillon | Passeur d'échantillon amovible à 10 positions |
|---|---|
| Taille d'échantillon | Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces) |
| Features | Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air |
| Features | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) |
|---|---|
| Tube setting | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI |
| Type de détecteur | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα |
|---|---|
| Features | Max. taux de comptage de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité |
| Logiciels |
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