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2830 ZT

L'analyseur de wafer 2830 ZT à fluorescence X à dispersion de longueur d'onde dispose des dernières technologies en matière de mesure d'épaisseur de film et de composition. Spécifiquement conçu pour l'industrie des semi-conducteurs et du stockage de données, l'analyseur de wafer 2830 ZT permet de déterminer la composition des couches, leur épaisseur, le niveau des dopants et l'uniformité de la surface pour une large gamme de wafers jusqu'à 300 mm.
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Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Méthodes analytiques 
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

Services analytiques et matériel d'étalonnage

  • Services d'analyses d'experts (XRF)
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