2830 ZT

L'analyseur de wafer 2830 ZT à fluorescence X à dispersion de longueur d'onde dispose des dernières technologies en matière de mesure d'épaisseur de film et de composition. Spécifiquement conçu pour l'industrie des semi-conducteurs et du stockage de données, l'analyseur de wafer 2830 ZT permet de déterminer la composition des couches, leur épaisseur, le niveau des dopants et l'uniformité de la surface pour une large gamme de wafers jusqu'à 300 mm.

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Produits:: Crystal orientation range, 2830 ZT, X'Pert3 range
Technologie:: Fluorescence X (XRF), Diffusion dynamique de la lumière, Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF), Diffraction des rayons X (XRD)
industrie:: Semi-conducteur/Électronique

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