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CDA 1000 電気的検地帯方式粒子径分布測定装置

Freeman FT4 粉体流動性分析装置

Aeris 卓上型XRD

ASD 可視・近赤外分光放射計

Axios FAST WDXRF

Claisse XRF/AA/ICP用試料前処理装置

CNA オンライン・クロスベルト元素分析装置

Empyrean 多目的XRD

Epsilon 卓上型XRF

Insitec プロセス用粒子径分布測定機

Mastersizer 粒子径分布測定装置

MicroCal ITC 分子間相互作用解析装置

MicroCal DSC 生体分子安定性評価装置

Morphologi 粒子画像分析装置

NanoSight ナノトラッキング粒子径測定装置

OMNISEC マルチ検出器GPC/SEC システム

Parsum インライン粒子測定プローブ

Spraytec 噴霧粒子およびスプレー液滴径測定

X'Pert³ 研究用XRD

Zetasizer 粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置

Zetium WDXRF

2830 ZT ウェハ分析用WDXRF

自動化ソリューション

校正用標準物質

CNAクロスベルトアナライザー

消耗品

ハンドヘルド分光計

画像分析

液体クロマトグラフィー

マイクロカロリメーター

NIR - 近赤外分光分析装置

粒度分布測定装置

XRFとICP向けサンプルプレパレーション

XRFおよびXRD用途向けソフトウェア

分光放射計

X線検出器、温度、湿度可変チャンバー

X線回折装置（XRD）

蛍光X線分析装置（XRF）

X線計測

X線散乱プラットフォーム

X線管球 - X-Ray Tubes

ガラスビート法

画像分析 MDRS - 形態学的ラマン分光法

光散乱検出器 DLS - 動的光散乱法レーザ回折法(LD) 光散乱電気泳動法 (ELS) 多角度光散乱（MALS）静的光散乱法（SLS）ナノトラッキング（NTA）

液体クロマトグラフィーゲル浸透クロマトグラフィー（GPC）サイズ排除クロマトグラフィー（SEC）超高速液体クロマトグラフィー（UPLC）

マイクロカロリメトリー DSC - 示差走査型カロリメトリー ITC - 等温滴定型カロリメトリー

空間フィルタ速度計測法

分光法形態学的ラマン分光法（MDRS）近赤外（NIR）分光法パルス高速熱中性子放射化（PFTNA）

X線分析 XRDーX線回折 XRFー蛍光X線 X線イメージング X線散乱

3D構造/画像処理

エピタキシー分析

ゼータ電位

タンパク質電気泳動移動度

マイクロレオロジー

Label-free analysis

リモートセンシング

元素分析

元素定量

分子サイズ

分子構造

分子量

化合的同定

水分含量

グランドトゥルース

残留応力分析

汚染物質の検出と分析

界面粗さ

相定量化

粒子サイズ

粒子形状

粒子濃度

粘度

結合親和性

結晶構造の解析

結晶相同定

薄膜測定

逆格子空間解析

配向分析

Higher order strucuture

ASTM

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ISO

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ASD FieldSpec LabSpec TerraSpec 4 TerraSpec Halo QualitySpec Trek QualitySpec 7000

Claisse Eagon 2 LeNeo LeDoser LeDoser-12 M4 rFusion TheOx Advanced

Malvern Instruments Archimedes Insitec Mastersizer Morphologi OMNISEC Parsum Spraytec Viscotek Zetasizer

MicroCal MicroCal DSC MicroCal ITC

NanoSight NanoSight NS300 NanoSight LM10

PANalytical Aeris Axios FAST CNA Cubix³ Empyrean Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow X'Pert³ Zetium 2830 ZT
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