製品

ラボ用分析装置と製造プロセス用機器

製品一覧

  1. CDA-1000X
  2. FT4
  3. Aeris
  4. ASD製品
  5. Axios FAST
  6. Claisseシリーズ
  7. CNAシリーズ
  8. Creoptix WAVEcore
  9. X線回折装置（XRD）Empyreanシリーズ
  10. 高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ
  11. インシテックシリーズ
  12. レーザ回折式粒子径測定装置 マスターサイザーシリーズ
  13. MicroCal ITC
  14. MicroCal DSC
  15. 全自動、画像式粒度分布測定装置モフォロギシリーズ
  16. ナノサイトシリーズ
  17. OMNISEC
  18. Parsum シリーズ
  19. スプレーテック
  20. X'Pert³シリーズ
  21. ゼータサイザーシリーズ
  22. Zetium
  23. 2830 ZT

製品カテゴリ

  1. 自動化ソリューション
  2. 校正用標準物質
  3. CNAクロスベルト分析装置
  4. 消耗品
  5. フルレンジハンドヘルド分光計
  6. 画像分析
  7. Liquid chromatography systems
  8. マイクロカロリメーター
  9. NIR - 近赤外分光分析装置
  10. 粒度分布測定装置
  11. XRFとICP向けサンプルプレパレーション
  12. XRFおよびXRD用途向けソフトウェア
  13. 分光放射計
  14. X線検出器、温度、湿度可変チャンバー
  15. X線回折装置（XRD）
  16. 蛍光X線分析装置（XRF）
  17. X線計測
  18. X線散乱プラットフォーム
  19. X線管球

技術

  1. ホウ酸塩溶融
  2. Grating-coupled interferometry (GCI)
  3. 画像分析
  4. 光散乱検出器
  5. 液体クロマトグラフィー
  6. マイクロカロリメトリー
  7. No-clog microfluidics
  8. 空間フィルタ速度計測法
  9. 分光法
  10. X線分析

測定タイプ

  1. 3D構造/画像処理
  2. Binding kinetics
  3. エピタキシー分析
  4. ゼータ電位
  5. タンパク質凝集
  6. タンパク質電気泳動移動度
  7. ラベルフリー相互作用解析
  8. リモート検出
  9. 元素分析
  10. 元素定量
  11. 分子サイズ
  12. 分子構造
  13. 分子量
  14. 化合的同定
  15. 含水率
  16. 地上検証
  17. 残留応力分析
  18. 汚染物質の検出と分析
  19. 界面粗さ
  20. 相定量化
  21. 粒子サイズ
  22. 粒子形状
  23. 粒子濃度
  24. 粘度
  25. 結合親和性
  26. 結晶構造の解析
  27. 結晶相同定
  28. 薄膜測定
  29. 逆格子空間解析
  30. 配向分析
  31. 高次構造(HOS)

業界

  1. ASTM
  2. ICH
  3. IP
  4. ISO
  5. USP

マルバーン・パナリティカルのブランド

  1. ASD製品
  2. Claisse製品
  3. Creoptix
  4. Malvern Instruments製品
  5. MicroCal製品
  6. NanoSight
  7. PANalytical製品