X線回折装置（XRD）

X線回折装置は、大きく分けて以下の3種類があります。

種類	特性	適用範囲	詳細
粉末X線回折装置	高精度粉末解析	無機物 有機物 金属セラミックス ポリマー など	粉末状の試料にX線を照射して分析する方法です。試料の結晶構造や格子定数、結晶子サイズ、ひずみなど、さまざまな情報を高精度で測定できます。
単結晶X線回折装置	詳細な結晶構造構造解析	単結晶材料	単結晶の試料にX線を照射して分析する方法です。粉末X線回折装置よりも詳細な結晶構造解析が可能です。
薄膜X線回折装置	薄膜分析	半導体デバイス 光学素子 など	薄膜試料にX線を照射して分析する方法です。薄膜の厚さや結晶構造、界面構造などを分析できます。

X線回折装置の基本的な構造

X線回折装置は、大きく分けて以下の3つの部分で構成されています。

1. X線源：X線を発生させる装置です。一般的には、銅やクロムなどの金属ターゲットに電子ビームを照射してX線を発生させます。
2. 試料台：分析対象の物質を載せる台です。
3. 検出器：散乱されたX線を検出する装置です。一般的には、プロポーショナル検出器や半導体検出器が使用されます。

マルバーン・パナリティカルのX線回折（XRD）ソリューション：EmpyreanとAeris

材料の特性評価において、X線回折（XRD）は非常に強力なツールです。マルバーン・パナリティカルは、多様なニーズに対応する高性能なX線回折ソリューションとして、ハイエンドモデルのEmpyreanとコンパクトモデルのAerisを提供しています。

多機能性と高パフォーマンス：Empyrean（エンピリアン）

Empyreanは、研究開発から品質管理まで、幅広いアプリケーションに対応する最先端のモジュール式X線回折装置です。その最大の特長は、以下の点です。

1. 高い汎用性: 様々な測定ニーズに合わせて光学系、検出器、試料ステージを柔軟に構成可能。粉末XRD、薄膜XRD、ナノ材料解析、構造解析など、多様な測定モードに対応します。
2. 高分解能と高強度: 最先端の光学設計と検出器技術により、微細な構造変化や微量な相も高精度に検出。複雑な材料の特性評価を強力にサポートします。
3. 直感的で強力なソフトウェア: 測定条件の設定からデータ解析まで、スムーズなワークフローを実現。高度な解析機能により、お客様の分析結果に基づいた、より深い考察と意思決定を可能にします
4. 将来を見据えた拡張性: モジュール設計により、将来的なアプリケーションの拡張や技術革新にも柔軟に対応できます。

コンパクトながら高性能：Aeris（エアリス）

Aerisは、使いやすさと堅牢性を追求したコンパクトなX線回折装置です。研究室だけでなく、製造現場など様々な環境での利用を想定して設計されています。主な特長は以下の通りです。

1. 簡単な操作: 直感的でシンプルなインターフェースにより、X線回折の専門知識がないお客様でも容易に操作可能。迅速な測定開始と結果取得を実現します。
2. 高速かつ高精度な測定: コンパクトながらも、高品質なデータ取得が可能。ルーティン分析や品質管理において、高い効率性と信頼性を提供します。
3. メンテナンスが簡単: 堅牢な設計とシンプルな構造により、メンテナンスの負担を軽減。安定した運用をサポートします。
4. 省スペース設計: 設置場所を選ばないコンパクトな設計。限られたスペースでも容易に導入できます。

より詳細な情報やアプリケーション事例については、各製品ページをご覧ください。