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コンパクトX線回折装置 Aeris

卓上型のX線回折装置(XRD)

  • 高精度ベンチトップ型 XRD システム
  • 5 分以内で得られる正確な結果
  • 0D、1D、2D 検出器オプション
  • 柔軟な測定構成

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概要

当社の卓上型X線回折装置(XRD)である Aeris(エアリス)は、これまでは大型のフロアスタンディングの装置でしかできなかったデータ品質とデータ取得速度を実現しています。

こんな課題を抱えていませんか?

  • XRD装置は高価で、導入に踏み切れない
  • 装置が大きくて、設置スペースが確保できない
  • 測定や操作が複雑で、専門知識がないと使いこなせない
  • 測定や解析に時間がかかり、業務が滞っている
  • 外注分析に頼っていて、結果が届くまでに時間がかかる
  • 小型装置では精度や信頼性が不安

Aerisは、組み込みタッチスクリーンと直感的なソフトウェアにより、だれでもこの装置を簡便に使用することができるほか、出力したデータは床置き型のX線回折装置と共通の解析ソフトウェア High Score上で,化合物の同定、定量、結晶化度、結晶子サイズ解析及びリートベルト法による結晶相の定量、結晶構造解析等、多様かつ詳細なデータ解析ができるようになっています。 

Aerisはマルバーン・パナリティカルのX線回折装置(XRD)として、産業用途における卓上型での最良データ取得と完全自動化の実現を可能にします。 Aerisは低価格で提供できるように設計されたX線回折装置(XRD)で、アプリケーション特有のニーズに合わせて4タイプのエディション(セメント(Cement)、鉱物(Minerals)、金属(Metals)、および研究(Researchエディション)もご用意しています。 

Om_logo.png OmniTrust対応:製薬分野レギュレーション環境向けソリューション

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特長

卓上型にハイエンドモデルの光学系を継承 

一般的に卓上型のX線回折装置のゴニオメータは、小型化・軽量化を意識したものが使われています。Aerisでは、正確性の高いフロアスタンディングタイプのX線回折装置(XRD)と同様のゴニオメータ、さらにはX線管球、高速検出器を搭載しています。 

  • 1%以下の結晶相、結晶多形が検出可能な高感度
  • 21 CFR Part 11準拠のData Integrity SW
  • 試料水平方式で粉末試料の脱落の心配なし
  • 冷却水装置不要で設置維持費を大幅削減

検出感度と分解能

従来の卓上型粉末X線回折(XRD)と比較して、低角度側のバックグラウンドが低下し、微小なピークが検出しやすくなりました。 

また、卓上型X線回折(XRD) でありながら半値幅 0.04°未満のプロファイル分解能を実現しました。精密なリートベルト解析に効果を発揮します。

正確性と再現性

ハイエンドモデルのX線回折装置(XRD)と同等の高精度ゴニオメータを搭載することで、角度直線性が ±0.02°以内という信頼性の高いデータを取得可能にし、良好な繰り返し測定再現性を実現しています。

安全性

X線照射部・測定部・検出系は密閉構造となっており、安全性が確保された装置です。

測定時、試料は装置外部の試料台に設置すると、自動で測定部に運ばれ測定作業が始まります。  

はじめてX線解析をする方へ

XRDで試料の化合物同定、結晶解析する方法:まず、単色(単波長)のX線を粉末に角度を変えながら照射します。このとき、試料中に結晶が含まれていれば、「ブラッグ 条件」を満たす角度条件のとき、結晶面間隔由来のピークが出現します。このピークが出る「角度位置」が結晶特有の「面間隔」を示します。つまり、ピークの位置と強度から、どんな種類の結晶がどれくらい含まれているかを推定して定性(同定)さらには定量を行います。 

さらには結晶子サイズ、結晶歪、格子定数等のパラメータも解析できます。 

試料に結晶性成分が含まれていない場合すなわちアモルファスであれば、シャープなピークは出現せずブロードピークのみが観察されます。この現象を利用して、結晶化度などを測定することも可能です。 

詳細を知りたい方は こちら

豊富な結晶情報が得られる日本語対応X線回折(XRD)研究用ソフトウェア High Score

柔軟な解析

  • 独自のアルゴリズムを採用したサーチマッチ機能により正確度の高い同定を実現
  • 元のデータフォーマットを変更することなく解析可能
  • 数十年に渡り改良を続ける自社開発リートベルト解析アルゴリズム
  • 高次関数や複数モデルを柔軟に適用し高精度なフィッティングが可能
  • クラスター解析機能により測定データの自動分類分け
  • 天然物由来試料のような複雑なデータも統計的に解析できる PLS (回帰計算)分析

便利な機能

  • X線回折に必要な高度な回折機能が1つのソフトウエアに「完全統合」
  • 研究者用の高度な回折からQA/QC用途まで1つのソフトで対応
  • 保存した解析条件を複数のデータに 自動処理、さらに任意のパラメータを一括エクスポート
  • コピー / ペースト、Undo/Redo機能を利用してフィッティングの調整が可能
  • 紙に描かれたチャートもデジタルデータに変換できる Bitmap Scan Converterにより、古いデータや他社データの読み込みと比較解析が実現
  • 特殊な動作環境は必要なし

包括的

  • データ解析から出力、ユーザデータベース作成まで
  • マルバーン・パナリティカルの他のX線回折(XRD)製品(Empyrean、X’Pert シリーズ)とも共通
  • 同定が主用途のHighScoreからHighScore Plus(リートベルト解析機能) に拡張可能

未来はコンパクトに

Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!

Damian G. Research

仕様

サンプル処理

サンプルの装填
外部サンプルローディング
あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ
サンプルの交換
6ポジションフルサイズサンプルチェンジャ
自動化
自動化統合に対応

X線生成

波長
Cu / Co
30 kVまたは40 kV設定で300 W~600 Wのオプション
耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。

ゴニオメータ

Base configuration
垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平
Bragg-Brentano、透過、斜入射
145 mm
-4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用)
全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3)
最大2.17°/s
分解能
< 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用)
< 0.04° 2θ
0.001 °

ステージと検出器

スピナーステージの選択
加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150)
調整不要のステージのPreFIX交換
ご要望に応じて(手動、MPSS、現場)
検出器
PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択

一般

寸法
690 x 770 x 786 mm
外部サンプルローディングつきクローズドシステム
不要
不要
Power Supply
100~240 V、単相
コンピューター
内蔵機器用PC
オペレーション
10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース
インターフェース LAN, USB, HDMI

アクセサリ

検出器

1Der

1D 検出における究極の多用途性とデータの明瞭さ

1Der は、X 線回折 (XRD) 用の最先端の固体検出器ポートフォリオに加わった最新モデルです。比類のない光学構成群とともに、1Der は XRD プラットフォームにシームレスに統合され、使いやすさと究極の柔軟性、そしてすべての 0D および 1D アプリケーションにおけるデータの明瞭さを実現します。

1Der は、Empyrean および Aeris で使用されるすべての X 線源に対応しています。

PIXcel1D

専用ストリップ検出器としての Medipix テクノロジー

PIXcel1D 検出器を使用すると、0D および 1D アプリケーション専用のストリップ型検出器を利用できます。従来のポイント検出器と比べて最大 255 倍高速に測定でき、データ品質を損なうことはありません。冷却水、液体窒素の供給、計数ガス、または時間のかかる校正が不要なため、コスト効率の高いソリューションです。

比類のない分解能とダイナミックレンジを備えた PIXcel1D は、当社のすべての 回折計 で使用できます。

PIXcel3D

0D-1D-2Dおよび3Dデータを回析計に取り込む最初の検出器

PIXcel3Dは、独自の2D固体ハイブリッドピクセル検出器です。 各ピクセルは、55 ミクロン x 55 ミクロンで、検出器アレイは256 x 256 ピクセルです。 現在、Medipix3テクノロジーに基づく検出器は、1ピクセルの点像分布関数と、複数のエネルギー識別レベルにより、卓越した信号をノイズにもたらします。

サンプルハンドリング

Aerisは、簡単な外部サンプルハンドリングと、明確でシンプルなワンタッチ操作を組み合わせています。Aerisでは、サンプルを外部サンプルプラットフォームに配置するための、アップグレード可能なさまざまなオプションを利用できます。Aerisシステムのモジュール設計により、ラボのスループットを含むニーズの変化に応じて、柔軟に拡張や縮小が可能です。サンプルハンドリングオプションは、単一ポジションでの手動サンプルロードから、高スループット環境での複数ポジションの自動ロードまで、多様な要件に対応します。また、Aerisは完全に自動化されたサンプルラボとの統合にも対応しています。サンプルホルダーは、外部ポジショニングステーションで簡単かつ正確に取り扱われ、測定中のプロセスを妨げることなく交換できます。

ハイキャパシティサンプルチェンジャー

高スループット環境には、Aeris の高容量サンプルチェンジャーが最適です。実績のあるロボット技術により、60 以上のサンプルを無人で分析でき、リソース効率が 50% 向上します。

詳細
ハイキャパシティサンプルチェンジャー

6ポジションサンプルチェンジャー

6ポジションサンプルチェンジャーは、最大6つのサンプルを一度に処理できるため、効率を向上させ、オペレーターの介入頻度を減らします。中程度のスループットを必要とするラボに最適です。

6ポジションサンプルチェンジャー

手動サンプルロード

サンプル数が少ない、またはサンプル交換の頻度が低いユーザー向けに、外部サンプルプラットフォームを使用すると、単一サンプルをロードおよび交換できます。さらに、自動転送によりXRD測定エリアに正確にサンプルが配置され、毎回確実なサンプルハンドリングを実現します。

手動サンプルロード

自動サンプルハンドリング

Aerisは、UAIインターフェースを介して操作されるマルチシステム自動化ラボに完全統合できます。サンプルは、自動化可能なチェンジャーに接続されたベルトオートメーションによって提供されるか、ロボットアームによって直接チェンジャープラットフォームに配置されます。

自動サンプルハンドリング

ソフトウェアソリューション

Aerisの機器と測定は、事前にロードされた測定プログラムを備えたオンボードデータ収集ソフトウェアによって実行されます。ユーザー独自のプログラムを書き込むこともできます。 

相定量化、非晶質含有量などについて、オンボードのRoboRietソフトウェアは自動分析を実行し、画面上で即時表示し、結果データベースに転送します。 

測定と分析は、X'Pert Industryを介して自動化することもできます。Industryは、任意のプロセス制御アプリケーション向けにデータ収集と校正線に基づいた定量化方法をカスタマイズするための独自のスクリプト作成機能を提供しています。結果レポートは、LIMSシステムに対しても完全に設定可能です。 

また、当社のソフトウェアパッケージ、HighScore PlusまたはStress Plusを使用して、独自の詳細な分析を実行することもできます。 

規制へのコンプライアンスとデータの整合性に関して、Omnitrustは、規制された環境におけるユーザー管理とデータ監査の要件をカバーします。

RoboRiet

リートベルト法とプロファイルの特別な「実行専用」が実装されており、XRD相定量化、非晶質定量化などに適しています。 

詳細
RoboRiet

Industry

規制されていないシステムから完全に規制されたシステムまで、そして、手動制御システムから完全自動化システムまで、産業環境で日常的に使用するX線回折分析用のソフトウェアパッケージです。

詳細
Industry

HighScore Plus

サンプル中に存在するすべての相を特定した後、このオールインワンソフトウェアスイートは、リートベルト法の有無にかかわらず定量化からプロファイルフィッティングとパターン処理まで、連続的に分析をサポートします。

詳細
HighScore Plus

Stress Plus

Stress Plusソフトウェアは、多結晶コーティング内の残留応力のX線回折(XRD)分析専用です。このソフトウェアは単方向技術と多方向技術の両方を使用してsin²ψ残留応力分析を行います。 

詳細
Stress Plus

専門知識エディション

Aerisを使用すると、研究環境と産業環境の両方で、あらゆるサンプルの特性評価と分析が容易になります。しかし、アプリケーションに専門的なソリューションが必要な場合や、ベンチトップ型XRDシステムの代替品をキャリブレーションして、すぐに使用できるようにする必要がある場合があります。

このニーズを満たすために、業界固有のカスタマイズされたAerisエディションもすぐに利用できます。これらの特殊な業界バージョンには、特定の分析方法やサンプル材料に合わせて事前キャリブレーションされたカスタマイズ可能な専門知識パッケージが付属しています。お使いのAerisは、内蔵Roborietソフトウェアを使用して自動測定と分析に対応します。いつでも準備OK! 

以下でお使いのエディションを検索してください。

ユーザーマニュアル

ソフトウェアのダウンロード

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

サポート

設備

投資利益率を最大限にするソリューション

お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。

サポート

耐用年数終了までサービス

  • 電話とリモートサポート
  • 予防メンテナンスと点検
  • 柔軟なカスタマーケア契約
  • パフォーマンス認定書
  • ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
  • ローカルおよびグローバルサポート

専門知識

工程に価値を付加する 

  • サンプル調製の開発/最適化
  • 分析方法論 
  • XRD用ターンキーソリューション 
  • IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
  • コンサルティングサービス

トレーニングと教育

  • オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
  • 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース
小さな設置面積で大きなインパクト。

小さな設置面積で大きなインパクト。

お客さまの要件に合わせてカスタマイズされた、高速かつ高品質なXRD。すぐに自動化と統合が可能。最新かつコンパクト。

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