コンパクトX線回折装置 Aeris（エアリス）シリーズ

概要

当社の卓上型X線回折装置（XRD）である Aeris（エアリス）は、これまでは大型のフロアスタンディングの装置でしかできなかったデータ品質とデータ取得速度を実現しています。

こんな課題を抱えていませんか？

XRD装置は高価で、導入に踏み切れない
装置が大きくて、設置スペースが確保できない
測定や操作が複雑で、専門知識がないと使いこなせない
測定や解析に時間がかかり、業務が滞っている
外注分析に頼っていて、結果が届くまでに時間がかかる
小型装置では精度や信頼性が不安

Aerisは、組み込みタッチスクリーンと直感的なソフトウェアにより、だれでもこの装置を簡便に使用することができるほか、出力したデータは床置き型のX線回折装置と共通の解析ソフトウェア High Score上で,化合物の同定、定量、結晶化度、結晶子サイズ解析及びリートベルト法による結晶相の定量、結晶構造解析等、多様かつ詳細なデータ解析ができるようになっています。

Aerisはマルバーン・パナリティカルのX線回折装置(XRD)として、産業用途における卓上型での最良データ取得と完全自動化の実現を可能にします。 Aerisは低価格で提供できるように設計されたX線回折装置（XRD）で、アプリケーション特有のニーズに合わせて4タイプのエディション(セメント（Cement）、鉱物（Minerals）、金属（Metals）、および研究（Researchエディション)もご用意しています。

OmniTrust対応：製薬分野レギュレーション環境向けソリューション

粉末・薄膜サンプルの構造解析

Aeris Researchエディション

セメント製品の最適化

Aeris Cementエディション

鉱石処理の最適化

Aeris Mineralsエディション

製鋼工程の最適化

Aeris Metalsエディション

医薬品の開発および製造のための固形形態解析

製薬会社向けのAeris XRD

特長

卓上型にハイエンドモデルの光学系を継承

一般的に卓上型のX線回折装置のゴニオメータは、小型化・軽量化を意識したものが使われています。Aerisでは、正確性の高いフロアスタンディングタイプのX線回折装置（XRD）と同様のゴニオメータ、さらにはX線管球、高速検出器を搭載しています。

1%以下の結晶相、結晶多形が検出可能な高感度
21 CFR Part 11準拠のData Integrity SW
試料水平方式で粉末試料の脱落の心配なし
冷却水装置不要で設置維持費を大幅削減

検出感度と分解能

従来の卓上型粉末X線回折（XRD）と比較して、低角度側のバックグラウンドが低下し、微小なピークが検出しやすくなりました。

また、卓上型X線回折（XRD）でありながら半値幅 0.04°未満のプロファイル分解能を実現しました。精密なリートベルト解析に効果を発揮します。

正確性と再現性

ハイエンドモデルのX線回折装置(XRD)と同等の高精度ゴニオメータを搭載することで、角度直線性が ±0.02°以内という信頼性の高いデータを取得可能にし、良好な繰り返し測定再現性を実現しています。

安全性

X線照射部・測定部・検出系は密閉構造となっており、安全性が確保された装置です。

測定時、試料は装置外部の試料台に設置すると、自動で測定部に運ばれ測定作業が始まります。

はじめてX線解析をする方へ

XRDで試料の化合物同定、結晶解析する方法：まず、単色（単波長）のX線を粉末に角度を変えながら照射します。このとき、試料中に結晶が含まれていれば、「ブラッグ条件」を満たす角度条件のとき、結晶面間隔由来のピークが出現します。このピークが出る「角度位置」が結晶特有の「面間隔」を示します。つまり、ピークの位置と強度から、どんな種類の結晶がどれくらい含まれているかを推定して定性（同定）さらには定量を行います。

さらには結晶子サイズ、結晶歪、格子定数等のパラメータも解析できます。

試料に結晶性成分が含まれていない場合すなわちアモルファスであれば、シャープなピークは出現せずブロードピークのみが観察されます。この現象を利用して、結晶化度などを測定することも可能です。

詳細を知りたい方はこちら。

豊富な結晶情報が得られる日本語対応X線回折(XRD)研究用ソフトウェア High Score

柔軟な解析

独自のアルゴリズムを採用したサーチマッチ機能により正確度の高い同定を実現
元のデータフォーマットを変更することなく解析可能
数十年に渡り改良を続ける自社開発リートベルト解析アルゴリズム
高次関数や複数モデルを柔軟に適用し高精度なフィッティングが可能
クラスター解析機能により測定データの自動分類分け
天然物由来試料のような複雑なデータも統計的に解析できる PLS （回帰計算）分析

便利な機能

X線回折に必要な高度な回折機能が１つのソフトウエアに「完全統合」
研究者用の高度な回折からQA/QC用途まで１つのソフトで対応
保存した解析条件を複数のデータに自動処理、さらに任意のパラメータを一括エクスポート
コピー / ペースト、Undo/Redo機能を利用してフィッティングの調整が可能
紙に描かれたチャートもデジタルデータに変換できる Bitmap Scan Converterにより、古いデータや他社データの読み込みと比較解析が実現
特殊な動作環境は必要なし

包括的

データ解析から出力、ユーザデータベース作成まで
マルバーン・パナリティカルの他のX線回折（XRD）製品（Empyrean、X’Pert シリーズ）とも共通
同定が主用途のHighScoreからHighScore Plus（リートベルト解析機能）に拡張可能

未来はコンパクトに

Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!

Damian G. Research

サンプルの装填	外部サンプルローディング
	あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ
サンプルの交換	6ポジションフルサイズサンプルチェンジャ
自動化	自動化統合に対応

波長	Cu / Co
	30 kVまたは40 kV設定で300 W～600 Wのオプション
	耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。 CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。

Base configuration	垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平
	Bragg-Brentano、透過、斜入射
	145 mm
	-4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用)
	全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3)
	最大2.17°/s
分解能	< 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用)
	< 0.04° 2θ
	0.001 °

	スピナーステージの選択
	加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150)
	調整不要のステージのPreFIX交換
	ご要望に応じて(手動、MPSS、現場)
検出器	PIXcel^1D、PIXcel^3D、1Der検出器から選択

寸法	690 x 770 x 786 mm
	外部サンプルローディングつきクローズドシステム
	不要
	不要
Power Supply	100～240 V、単相
コンピューター	内蔵機器用PC
オペレーション	10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース
インターフェース	LAN, USB, HDMI

サンプルハンドリング

Aerisは、簡単な外部サンプルハンドリングと、明確でシンプルなワンタッチ操作を組み合わせています。Aerisでは、サンプルを外部サンプルプラットフォームに配置するための、アップグレード可能なさまざまなオプションを利用できます。Aerisシステムのモジュール設計により、ラボのスループットを含むニーズの変化に応じて、柔軟に拡張や縮小が可能です。サンプルハンドリングオプションは、単一ポジションでの手動サンプルロードから、高スループット環境での複数ポジションの自動ロードまで、多様な要件に対応します。また、Aerisは完全に自動化されたサンプルラボとの統合にも対応しています。サンプルホルダーは、外部ポジショニングステーションで簡単かつ正確に取り扱われ、測定中のプロセスを妨げることなく交換できます。

ハイキャパシティサンプルチェンジャー

高スループット環境には、Aeris の高容量サンプルチェンジャーが最適です。実績のあるロボット技術により、60 以上のサンプルを無人で分析でき、リソース効率が 50% 向上します。

詳細

6ポジションサンプルチェンジャー

6ポジションサンプルチェンジャーは、最大6つのサンプルを一度に処理できるため、効率を向上させ、オペレーターの介入頻度を減らします。中程度のスループットを必要とするラボに最適です。

手動サンプルロード

サンプル数が少ない、またはサンプル交換の頻度が低いユーザー向けに、外部サンプルプラットフォームを使用すると、単一サンプルをロードおよび交換できます。さらに、自動転送によりXRD測定エリアに正確にサンプルが配置され、毎回確実なサンプルハンドリングを実現します。

自動サンプルハンドリング

Aerisは、UAIインターフェースを介して操作されるマルチシステム自動化ラボに完全統合できます。サンプルは、自動化可能なチェンジャーに接続されたベルトオートメーションによって提供されるか、ロボットアームによって直接チェンジャープラットフォームに配置されます。

ソフトウェアソリューション

Aerisの機器と測定は、事前にロードされた測定プログラムを備えたオンボードデータ収集ソフトウェアによって実行されます。ユーザー独自のプログラムを書き込むこともできます。

相定量化、非晶質含有量などについて、オンボードのRoboRietソフトウェアは自動分析を実行し、画面上で即時表示し、結果データベースに転送します。

測定と分析は、X'Pert Industryを介して自動化することもできます。Industryは、任意のプロセス制御アプリケーション向けにデータ収集と校正線に基づいた定量化方法をカスタマイズするための独自のスクリプト作成機能を提供しています。結果レポートは、LIMSシステムに対しても完全に設定可能です。

また、当社のソフトウェアパッケージ、HighScore PlusまたはStress Plusを使用して、独自の詳細な分析を実行することもできます。

規制へのコンプライアンスとデータの整合性に関して、Omnitrustは、規制された環境におけるユーザー管理とデータ監査の要件をカバーします。