Aeris Guía de usuario
バージョン番号:: 8
Aeris XRD が鉱業、金属などの材料分析をどのように変革するかをご覧ください。. もっと詳しく知る
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卓上型X線回折装置のAeris Mineralsエディションは、鉱業界の誰でも利用できる多用途鉱石分析装置です。
鉱石や鉱物の効率的な処理
XRDは、最も経済的な処理条件を獲得するために、鉱物を正確に監視し、湿式精錬モデルのための情報を提供します。
Aeris Mineralsエディションは、原材料から最終製品までのあらゆる生産工程段階で、お客様の伴侶となります。
迅速な分析によりフィードバックループが短く抑えられるため、素早く介入して工程を最適化できます。 クリンカーまたはセメントの標準分析時間は試料当たり10分未満です。
分析装置の可用時間は、信頼性の高い工程制御のかなめです。 Aerisは、当初から最大可用時間を実現するように設計されています。
極めて直感的なX線回折装置
組み込みタッチスクリーンにより、ほんの数回タッチするだけで結果が得られます:
| サンプルの装填 | 外部サンプルローディング |
|---|---|
| Sample holders | あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ |
| サンプルの交換 | 手動ローディングドック、6 ポジションサンプルチェンジャー、または 67 ポジション大容量サンプルチェンジャーからお選びください
|
| 自動化 | 自動化統合に対応 |
| 波長 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30 kVまたは40 kV設定で300 W~600 Wのオプション |
| Tube housing | 耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano、透過、斜入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用) |
| Angle positioning | 全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3) |
| Scan Speed | 最大2.17°/s |
| 分解能 | < 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | スピナーステージの選択 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 調整不要のステージのPreFIX交換 |
| Special stages | ご要望に応じて(手動、MPSS、現場) |
| 検出器 | PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択 |
| 寸法 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 外部サンプルローディングつきクローズドシステム |
| External cooling water supply | 不要 |
| Compressed air supply | 不要 |
| Power Supply | 100~240 V、単相 |
| コンピューター | 内蔵機器用PC |
| オペレーション | 10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース |
| インターフェース | LAN, USB, HDMI |
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 7
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
耐用年数終了までサービス
工程に価値を付加する
卓上型X線回折装置のAeris Mineralsエディションは、鉱業界の誰でも利用できる多用途鉱石分析装置です。
鉱石や鉱物の効率的な処理
XRDは、最も経済的な処理条件を獲得するために、鉱物を正確に監視し、湿式精錬モデルのための情報を提供します。
Aeris Mineralsエディションは、原材料から最終製品までのあらゆる生産工程段階で、お客様の伴侶となります。
迅速な分析によりフィードバックループが短く抑えられるため、素早く介入して工程を最適化できます。 クリンカーまたはセメントの標準分析時間は試料当たり10分未満です。
分析装置の可用時間は、信頼性の高い工程制御のかなめです。 Aerisは、当初から最大可用時間を実現するように設計されています。
極めて直感的なX線回折装置
組み込みタッチスクリーンにより、ほんの数回タッチするだけで結果が得られます:
| サンプルの装填 | 外部サンプルローディング |
|---|---|
| Sample holders | あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ |
| サンプルの交換 | 手動ローディングドック、6 ポジションサンプルチェンジャー、または 67 ポジション大容量サンプルチェンジャーからお選びください
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| 自動化 | 自動化統合に対応 |
| 波長 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30 kVまたは40 kV設定で300 W~600 Wのオプション |
| Tube housing | 耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。
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| Base configuration | 垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano、透過、斜入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用) |
| Angle positioning | 全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3) |
| Scan Speed | 最大2.17°/s |
| 分解能 | < 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | スピナーステージの選択 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 調整不要のステージのPreFIX交換 |
| Special stages | ご要望に応じて(手動、MPSS、現場) |
| 検出器 | PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択 |
| 寸法 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 外部サンプルローディングつきクローズドシステム |
| External cooling water supply | 不要 |
| Compressed air supply | 不要 |
| Power Supply | 100~240 V、単相 |
| コンピューター | 内蔵機器用PC |
| オペレーション | 10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース |
| インターフェース | LAN, USB, HDMI |
バージョン番号:: 8
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バージョン番号:: 6
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バージョン番号:: 8
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バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
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耐用年数終了までサービス
工程に価値を付加する