Aeris Mineralsエディション卓上型X線回折装置

概要

卓上型X線回折装置のAeris Mineralsエディションは、鉱業界の誰でも利用できる多用途鉱石分析装置です。

鉱石や鉱物の効率的な処理

XRDは、最も経済的な処理条件を獲得するために、鉱物を正確に監視し、湿式精錬モデルのための情報を提供します。

Aeris Mineralsエディションは、原材料から最終製品までのあらゆる生産工程段階で、お客様の伴侶となります。

試料の大量処理のための自動化が可能な唯一の卓上型回折装置: Aerisは、試料の高速自動処理のためにベルトまたはロボットで接続することができます。
技術の結合で威力: AerisとZetiumのツインソリューションでは、基本組成情報(Zetiumで判別)を位相識別(Aerisによる)に追加することにより、物質の完全特性評価を実現します。
ニーズに合わせた業界標準試料ホルダー: 51.5 mm試料ホルダー / 40 mm試料ホルダーのコレクション

迅速な分析によりフィードバックループが短く抑えられるため、素早く介入して工程を最適化できます。クリンカーまたはセメントの標準分析時間は試料当たり10分未満です。

分析装置の可用時間は、信頼性の高い工程制御のかなめです。 Aerisは、当初から最大可用時間を実現するように設計されています。

極めて直感的なX線回折装置

組み込みタッチスクリーンにより、ほんの数回タッチするだけで結果が得られます:

サンプルの装填	外部サンプルローディング
Sample holders	あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ
サンプルの交換	手動ローディングドック、6 ポジションサンプルチェンジャー、または 67 ポジション大容量サンプルチェンジャーからお選びください
自動化	自動化統合に対応

波長	Cu / Co
Tube setting	30 kVまたは40 kV設定で300 W～600 Wのオプション
Tube housing	耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。 CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。

Base configuration	垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平
Geometry	Bragg-Brentano、透過、斜入射
Radius	145 mm
Maximum 2θ range	-4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用)
Angle positioning	全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3)
Scan Speed	最大2.17°/s
分解能	< 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用)
2θ linearity	< 0.04° 2θ
Smallest addressable increment	0.001 °

寸法	690 x 770 x 786 mm
Dust protection	外部サンプルローディングつきクローズドシステム
External cooling water supply	不要
Compressed air supply	不要
Power Supply	100～240 V、単相
コンピューター	内蔵機器用PC
オペレーション	10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース
インターフェース	LAN, USB, HDMI