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当社の著作権、商標、特許
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商標リストの最終更新日：2025年3月20日
| 商標 | ステータス |
|---|---|
| 1DER | ® |
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ™
|
| ASD | ™
|
| (ASD Inc) logo | ® |
| AMASS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS（+ ロゴ） | ® |
| Archimedes | ® |
| AXIOS | ® |
| CHI-BLUE | ® |
| CLAISSE | ® |
| Claisse（+ ロゴ） | ® |
| CREOPTIX | ® |
| CUBIX | ® |
| CubiX3 | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ™
|
| EasySAXS | ® |
| EMPYREAN | ® |
| EPSILON | ® |
| EPSILON Xflow | ® |
| ExpertSAXS | ® |
| FIELDSPEC | ® |
| FIPA | ™ |
| FLUOR’X | ® |
| FORJ | ™
|
| GaliPIX3D | ® |
| Gemini | ™ |
| goLab | ™ |
| HandHeld 2 | ™ |
| HighScore | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| Indico Pro | ™ |
| INSITEC | ® |
| (Insitec logo) | ® |
| (Insitec Measurement Systems logo) | ® |
| ISYS | ® |
| LabSizer | ™ |
| LABSPEC | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3 PALS | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| MALVERN | ® |
| (Triangular hills logo + Malvern Instruments) | ® |
| 马尔文（Malvernの中国語表記） | ® |
| MALVERN INSTRUMENTS | ® |
| 马尔文仪器（Malvern Instrumentsの中国語表記） | ™
|
| Malvern Link | ™ |
| (Malvern Plus Hills Logo) | ® |
| MALVERN PANALYTICAL | ® |
| 马尔文帕纳科（MALVERN PANALYTICALの中国語表記） | ® |
| マルバーン·パナリティカル（MALVERN PANALYTICALのカタカナ表記） | ® |
| 말번 파날리티칼（MALVERN PANALYTICALの韓国語表記） | ® |
| MALVERN PANALYTICAL（+ Xロゴ） | ® |
| MASTERSIZER | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC (stylised) | ™
|
| MDRS | ® |
| MICROCAL | ® |
| MORPHOLOGI | ® |
| (Triangular hills logo) | ® |
| NanoSight | ® |
| NIBS | ™ |
| Oil-Trace | ® |
| Omnian | ® |
| OmniSEC | ® |
| OmniTrust | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| 帕纳科（PANALYTICALの中国語表記） | ® |
| パナリティカル（PANALYTICALのカタカナ表記） | ® |
| PANalytical AERIS | ® |
| PANalytical + ロゴ | ® |
| PANTOS | ™
|
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXcel | ® |
| PIXcel1D | ® |
| PIXcel3D | ® |
| PIXIRAD | ® |
| QUALITYSPEC | ® |
| REVONTIUM
| ® |
| SMART RETURN
| ™ |
| Spraytec | ™ |
| SST | ® |
| SST-mAX | ® |
| SUPER SHARP TUBE | ® |
| Stratos | ® |
| SuperQ | ® |
| SyNIRgi | ™ |
| TERRASPEC | ® |
| TheOx | ® |
| Ultrasizer | ™ |
| VENUS MINILAB | ™
|
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ™ |
| VISCOTEK | ® |
| Viscotek SEC-MALS | ™ |
| WAVEchip | ® |
| WAVEcore | ® |
| waveRAPID
| ® |
| WE'RE BIG ON SMALL | ®
|
| （Xロゴ） | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| X'Pert3 | ® |
| ZETASIZER | ® |
| ZETIUM | ® |
| ZS Helix | ™ |
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特許リストの最終更新日：2025年3月20日
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| GB2494735B | 光散乱による粒度分布を測定する装置 | Mastersizer 3000、Mastersizer 3000E、Mastersizer 3000+シリーズ |
| CN104067105B (ZL201280042740.0)
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2 | 光散乱による粒度分布を測定する装置と方法 | Mastersizer 3000、Mastersizer 3000+ Ultra |
| US10837889B2
GB2494734B | 光散乱による粒度分布を測定する装置と方法 | Mastersizer 3000、Mastersizer 3000E、Mastersizer 3000+シリーズ |
| WO2024023498A2
EP4312015A1 | 粒子特性評価 | Mastersizer 3000+：Pro、Ultra |
| WO2024023497A1 | データ品質 | Mastersizer 3000+：Pro、Ultra |
| WO2024180386A1 | 粒子特性評価 | Mastersizer 3000+：Ultra |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8)
CN102575984B (ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2 | 改善された単一拡散モード検出を備えた複雑な流体の動的光散乱法をベースにしたマイクロレオロジー | Zetasizer Advanceシリーズ、Nano ZSP、Helix |
| CN103608671B (ZL201280027695.1)
CN105891304B (ZL201610324224.7) EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2 | 表面電荷測定 | Zeta Plate Cellアクセサリ |
| US8702942B2
CN103339500B (ZL201180060863.2) EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2 | 拡散障壁を使用したレーザードップラー電気泳動法 | Zetasizer Advanceシリーズ、Nano ZS、Nano S、Nano ZS90、S90、Nano ZSP |
| EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2 | 微粒子のデュアルモード特性評価 | Zetasizer Helix |
| US10197485B2
US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1 (GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B (ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1 | 粒子の特性評価 | Zetasizer Advanceシリーズ |
| US10119910B2 | 粒子の特性評価装置 | Zetasizer Advance：Ultra、Pro |
| US8675197B2
JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3) | 粒子の特性評価 | Zetasizer Advanceアクセサリ |
| EP3521806B1 (AT, FR, GB, DE602018077164.6)
US11441991B2 CN111684261B (ZL201980011816.5) JP7320518B2 | 多角度動的光散乱法 | Zetasizer Advance：Ultra |
| 意匠：
DM/100202 (EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; US: D878227S) CN304816039S (ZL201730635419.9) | 粒子の特性評価装置 | Zetasizer Advanceシリーズ |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US7871194B2
EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8) | 希釈システムと方法 | Insitec（一部の製品） |
| EP2640499B1 (GB) | インライン分散機と紛体混合法 | Insitec Dry |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2 US8564774B2 | 不均一性の分光分析 | Morphologi G3-ID、Morphologi 4-ID |
| GB2522735B
JP6560849B2 | 乾式分散の方法と装置 | Morphologi G3-ID、Morphologi G3、Morphologi 4、Morphologi 4-ID |
| EP3510526B1 (GB, FR, DE60217072468.8)
US11068740B2 CN109716355B (ZL201780054158.9) JP7234106B2 | 粒子境界の識別 | Morphologi 4、Morphologi 4-ID |
| US8004662B2
US8842266B2 | 医薬品混合物の評価 | Morphologi 4-ID |
| 意匠：
DM/100537 (EM: D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; US: D862261S1) CN304677453S (ZL201730616458.4) | 測定装置（時間を計測するためのものを除く） | Morphologi 4、Morphologi 4-ID |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US11113362B2
JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B (ZL201680017577.0) | 多成分モデルのパラメーター化 | Viscosizer TD |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| CN104704343B (ZL201380044016.6)
EP2864760B1 (GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2 | 不均一な流体試料の特性評価 | Hydro Sight |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B (ZL201480063550.6) | 装置の校正の改善または関連 | NanoSight NS300、NanoSight Pro |
| WO2023148528A1
EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A | 粒子分析 | NanoSight Pro |
| WO2024094987A1 | 粒子の特性評価を行うための装置および方法 | NanoSight Pro |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| CN101855541B (ZL200880114826.3)
EP2208057B1 (CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2 | 等温滴定型マイクロカロリメーター装置と使用方法 | MicroCal ITC製品 |
| CN102232184B (ZL200980149081.9)
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4) | 自動等温滴定型マイクロカロリメーター装置と使用方法 | MicroCal ITC製品 |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US8635045B2
CN103221808B (ZL201180057401.5) EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2 | カロリメトリーデータの自動ピーク検出方法 | MicroCal DSC製品 |
| 意匠：
DM/097302 (EM: D097 302; GB: 80973020001000; JP: JP1619772S, JP1643496S; US: D826739S1) CN304227374S (ZL201730043139.9) | 示差走査型マイクロカロリメーター | PEAQ-DSCシリーズ |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US9759644B2
US10551291B2 | バランスキャピラリーブリッジ粘度計 | OMNISEC |
| US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B (ZL201180046166.1) IN341558 | モジュラーキャピラリーブリッジ粘度計 | OMNISEC |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US8164747B2
CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) | 光学分光測定のための装置、システムおよび方法 | QualitySpec 7000 |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | モノクロメーターおよびダイオードアレイ分光計機器をスキャンするための装置、システム、および方法 | TerraSpec Halo |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | モノクロメーターおよびダイオードアレイ分光計機器をスキャンするための装置、システム、および方法 | QualitySpec Trek |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2 | ビーズ炉 | Zetium
Axios FAST Epsilon5 |
| JP4950523B2
| 収差を補正する装置と方法
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (wafer analyser)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7949092B2
| X線分析を実施する装置と方法
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (wafer analyser)* Epsilon5* SEMYOS |
| US9658352B2
CN104833557B (ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2 | 基準の作成方法 | Zetium
Axios FAST |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 加圧による試料ペレットの調製 | Zetium
Axios FAST |
| US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) | フラックスとプラチナるつぼを使用したXRF用試料の準備 | Zetium
Axios FAST |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | 定量的X線分析 - マトリックスの厚さの補正 | Zetium*
Axios FAST |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 定量的X線分析 - 多光路装置 | Zetium*
Axios FAST |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 定量的X線分析 - 比率補正 | Zetium*
Axios FAST |
| US9239305B2 | 試料ホルダ | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 |
| US7720192B2
JP5574575B2 CN101311708B (ZL200810127759.0) | 蛍光X線装置 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (wafer analyser)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 金属線カソードを備えたX線源 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT (wafer analyser) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X線管アノード配置
| Zetium
Axios FAST 2830 ZT (wafer analyser) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B (ZL201711251653.7) | X線測定用コニカルコリメータ | Zetium* |
| *· オプション/製品の標準ではありません | ||
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | ビーズ炉 | Epsilon 1シリーズ
Epsilon 3X分光計 Epsilon 4空気品質エディション |
| JP4950523B2
| 収差を補正する装置と方法
| Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US7949092B2
| X線分析を実施する装置と方法
| Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US9658352B2
CN104833557B (ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2 | 基準の作成方法 | Epsilon 1シリーズ
Epsilon 3X分光計 Epsilon 4空気品質エディション |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 加圧による試料ペレットの調製 | Epsilon 1シリーズ
Epsilon 3X分光計 Epsilon 4空気品質エディション |
| US10107551B2
JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) | フラックスとプラチナるつぼを使用したXRF用試料の準備 | Epsilon 1シリーズ
Epsilon 3X分光計 Epsilon 4空気品質エディション |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | 定量的X線分析 - マトリックスの厚さの補正 | Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 定量的X線分析 - 多光路装置 | Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 定量的X線分析 - 比率補正 | Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US9239305B2 | 試料ホルダ | Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US9547094B2
CN104849295B (ZL201510155965.2) EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 | X線分析装置
| Epsilon 1シリーズ
Epsilon 3X分光計 Epsilon 4空気品質エディション |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 金属線カソードを備えたX線源 | Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X線管アノード配置
| Epsilon 1シリーズ*
Epsilon 3X分光計* Epsilon 4空気品質エディション* |
| US11183355B2
EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B (ZL201911390180.8) | X線管球 | Revontium |
| EP24169034.6（未公開）
| 反復計算による補完的なバックグラウンドフィッティング | Revontium |
| EP24169094.0（未公開）
| 試料処理装置 | Revontium |
| * オプション/製品の標準ではありません | ||
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| JP4950523B2
| 収差を補正する装置と方法 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ range |
| US9506880B2
CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2 | 回析イメージング | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ range# |
| US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B (ZL200910129197.8) EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | イメージング検出器 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ range# |
| EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2) | イメージング検出器 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ range# |
| US9110003B2
CN103383363B (ZL201310069293.4) EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 | マイクロ回析
| Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ range# |
| US9640292B2
CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 | X線装置
| Empyrean
X'Pert³ Powder CubiX³ range |
| US7756248B2
JP5145263B2 CN101545873B (ZL200910134609.7) EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1) | パッケージングのX線検出
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X線回折とコンピュータ断層撮影法 | Empyrean
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ range* |
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X線散乱法用X回折装置
| X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)* |
| US7477724B2
| X線装置 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ range |
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X線シャッターの配置 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ range |
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X線管アノード配置
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ range* |
| EP3553508A2
US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B (ZL201910295269.X) | X線分析装置と方法 | Empyrean* |
| US10359376B2
EP3273229B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B (ZL201710593858.7) | X線分析用試料ホルダ | Empyrean* |
| US10782252B2
CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2 | ビーム発散のハイブリッド制御を使用したX線分析する装置と方法 | Empyrean*
|
| US10753890B2
EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2 | 高分解能X線回折法および装置 | Empyrean* |
| EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8)
JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B (ZL201910300453.9) | X線分析装置 | Empyrean* |
| US10352881B2
EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B (ZL201711404282.1) JP6839645B2 | コンピュータ断層撮影法 | Empyrean* |
| US9753160B2
CN104285164B (ZL201380025271.6) EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2 | デジタルX線センサ | Empyrean
X'Pert³ CubiX³ range |
| EP3719484B1 (AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301)
US12007343B1 CN113661389B (ZL202080027081.8) JP7503076B2 | X線ビーム成形装置および方法 | Empyrean* |
| EP4111184A1
US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A | X線回折分析装置用X線検出器 | Empyrean*（1Der検出器付き） |
| EP4094073A1
US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A | X線回折における電荷共有の識別 | Empyrean*（1Der検出器付き） |
| *製品では、オプション/標準ではありません
#特別なリクエストで利用可能 | ||
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| JP4950523B2
| 収差を補正する装置と方法 | Aeris
|
| US9506880B2
CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2 | 回析イメージング | Aeris*
|
| EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2) | イメージング検出器 | Aeris*
|
| US9640292B2
JP6564572B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) | X線装置 | Aeris |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X線回折とコンピュータ断層撮影法 | Aeris*
|
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X線散乱法用X回折装置
| Aeris*
|
| US7477724B2
| X線装置 | Aeris*
|
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X線シャッターの配置 | Aeris
|
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X線管アノード配置
| Aeris*
|
| US10753890B2
EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2 | 高分解能X線回折法および装置
| Aeris*
|
| EP4094073A1
US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A | X線回折における電荷共有の識別
| Aeris*（1Der検出器付き） |
* オプション/製品の標準ではありません | ||
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| WO2024164079A1 | 溶融システムおよびそのシステムを用いた試料溶融の実施方法 | FORJ |
| WO2024164080A1 | 溶融システムおよびそのシステムを用いた試料溶融の実施方法 | FORJ |
| WO2024164081A1 | 溶融システムおよびそのシステムを用いた試料溶融の実施方法 | FORJ |
| WO2024164082A1 | 溶融システムおよびそのシステムを用いた試料溶融の実施方法 | FORJ |
| WO2024164086A1 | 溶融システムおよびそのシステムを用いた試料溶融の実施方法 | FORJ* |
| WO2024164083A1 | 溶融装置用錠剤送達システム | FORJ* |
| 意匠：
US 29/873,668（未公開） CA 224,605;235,581; 235,582; 235,583; 235,584; 235,585; 235,586; 235,587（すべて登録済み） DM/232583: EM, GB（いずれも登録済み）; BR（未公開） AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590.1) ZA: A2023/01083, A2023/01084, A2023/01085, A2023/01086 | 試料ホルダ | FORJ用るつぼおよび/または金型カセット |
| * オプション/製品の標準ではありません | ||
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| EP3824469B1 (CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6) | 反応ネットワークの速度論的パラメータの計算方法 | WAVEdelta、WAVEcontrol |
| CN113811771B (ZL202080036463.7)
EP3969910B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1 | 分析種とリガンド間の反応における速度論的パラメータの決定方法 | WAVEdelta、WAVEcontrol |
| CN115667930A
EP4172625B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1 | 反応の速度論的パラメータの決定方法 | WAVEdelta、WAVEcontrol |
| EP3448564B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2)
CN108883414B (ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2 | 分子回収のための方法およびアセンブリ | WAVEdelta |
| EP2137514B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9)
US8325347B2 | 集積型光センサー | WAVE、WAVEdelta、WAVEchip |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| 10,487,954 B2
10,514,332 | 検出器の自動校正およびカスタムガス混合 | BreakThrough Analyzer (BTA)、AutoChem III |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| 10,487,954
11,105,825 B2 | 試料反応器用KwikConnectシーリング機構 | AutoChem III |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| 11,874,155 B2
米国および外国特許出願中 | ガスピクノメーターおよびガス吸着分析装置の校正システムおよび方法 | AccuPyc III |
| 特許番号 | 特許タイトル | 装置 |
|---|---|---|
| 米国および外国特許出願中 | - - | AccuPore |