Zetium

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置(XRF)は、固体、液体、粉末など、さまざまな物質の元素を分析する事が可能です。中でも波長分散型はより高精度を求められる分析に適しております。当社の波長分散蛍光X線分析装置(WDXRF) Zetiumは、最も厳しい品質管理と研究開発用途に対応するよう設計され、BeからAmの元素領域をより高感度に分析できる革新的な機能を搭載しています。

WDXRFのプラットフォームに、エネルギー分散蛍光X線分析装置(EDXRF)の技術を統合可能なSumXcore技術が組み込まれています。この独自の組み合わせは、さまざまな環境での分析能力、速度、およびその柔軟性においてZetiumを比類なき存在にしています。  

波長分散とエネルギー分散の機能を搭載可能な唯一の蛍光X線装置(XRF)-Zetium

マルバーン・パナリティカルの蛍光X線装置(XRF)Zetiumは、最大 5 種類まで選択可能な検出器の組み合わせにより、様々な分析ニーズに対して最適な高感度測定を実現しています。光読み取り式エンコーダ搭載ゴニオメータ (DOPS)採用により高い角度再現性を実現、更に新開発ドリフトフリーX線管球との組み合わせにより、長期に渡り良質な分析精度を維持する事が可能です。集塵機能を搭載した予備排気機構により、装置内を常にクリーン保つことができ、簡単なメンテナンスにより装置のダウンタイムを極限まで減らすとともに、専用ソフトウェアによる装置状態の常時モニター機能でトラブルの未然防止が可能です。

あらゆるニーズに対応するハイブリッド機構 WDX(波長分散) + EDX(エネルギー分散) 


より最適な測定条件設定

軽元素を得意とする WDX の光学系と、重元素を高分解能に検出する EDX の光学系(オプションで選択可能)との同時計測により、従来の WDX のみの装置では困難であった最適な測定条件を提供します。

測定時間の短縮
WDX のデータの測定中に EDX のデータを同時取り込みすることで測定時間を最大 50%短縮します。
 
微小部マッピング
多元素同時分析を行うEDXによる微小部元素分析により、測定時間を従来の約 1/10 に短縮。実用的な時間での元素マッピングが可能です。また、微小領域の FP 定量にも対応しています。 zetium6.png


驚異的な長寿命と安定性の最高性能セラミックス管球

マルバーン・パナリティカルの自社開発X線管球は、絶縁部に熱伝導効率の高いセラミクスを使用し、フィラメントの蒸発を防ぐ特許技術Zetaテクノロジーを搭載する事により、驚異的な長寿命を実現しました。X線管球の交換頻度が激減し、装置導入後のランニングコストを大幅に削減します。また、Zetaテクノロジーは、管球からの1次X線強度の減衰も極小に抑えるため、日常的なドリフト補正が不要で、長期に渡って高品質なデータをご提供します。
 
セラミックス管球 × Zetaテクノロジー*
Zetaテクノロジー (Zero Evaporation Technology Advantage)とは、フィラメントが蒸発しない特許技術で、以下のことが可能となります。

  • 一次X線強度が劣化しないので、頻繁なドリフト補正及び再校正が不要
  • フィラメント切れをおこさず、従来型からさらなる長寿命化
  • 4 kWフルパワーでの使用が可能
  • 圧倒的な安定性で、長期間に渡り高品質なデータを提供
  • 超長寿命管球で、ランニングコストと装置のダウンタイムを大幅に削減

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シーケンシャルタイプの心臓部ゴニオメータ

圧倒的な停止精度を誇るゴニオメータ DOPS搭載

  • 測定ごとの角度校正が不要
  • 角度再現性±0.0001°を実現。位置ズレによる強度のバラつきを大きく低減

ゴニオメータはX線管球と並ぶシーケンシャル型WDXRFの最重要機構です。蛍光X線装置(XRF)Zetiumは、光読み取り式エンコーダ DOPS (Direct Optical Position Sensing)を搭載し、直接ゴニオメータの角度を読み取ります。これにより、ギアの消耗による停止位置のずれやバックラッシュによる角度ずれの心配がなく、長期間に渡り高い精度で停止位置が再現でき、安定した定量結果が得られます。
 

様々な安全機構で装置を安心運用

予備排気室とダストリムーバブル機構
蛍光X線装置(XRF)Zetiumには、予備排気時に集塵を行うダストリム-バブル機構が設置できます。上面照射・下面照射を問わず、粉体サンプルを連続で測定すると分光室内はパーティクルにより汚染されていきますが、このダストリムバーバブル機構により、Zetiumの分光室内は常にクリーンに保たれます。また、一般的なWDXでは、予備排気室で吸引されたダストが真空ポンプにそのまま行ってしまい、真空不良・故障の原因となりますがZetiumではこのようなリスクが無く、メンテナンスも簡単です。また、サンプルの異常を検知する安全機構により、プレス不良サンプルを分光室に持ち込まない安心設計となっております。

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チュートリアル機能が充実した分析ソフトウエア

蛍光X線分析装置(XRF)Zetiumには経験の浅いユーザーでも簡単にアプリケーションを設定できるVirtual Analystが基本ソフトSuperQソフトウェアに搭載されています。

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SuperQ(分析・解析ソフトウェア)
専門的なスキルを必要とせず、シンプルなルーチン測定から、目的に合わせた高度な測定・ 解析まで操作・設定可能です。また、新機能となる Virtual Analystは、専門的なスキルを持たないユーザでも、標準物質と濃度表があれば、簡単に検量線 を作成出来る最高のアシストツールです。さらに、薄膜測定を目的としたX線脱出深さのシミュレーション機能も搭載しています。

Omnian(FP定量ソフトウェア)
Omnianソフトウェアを使用することで、標準試料のない未知試料の迅速な定性・定量分析が可能になりました。OmnianはB(ホウ素)からAm(アメリシウム)までの全ての元素に対応し、ガラスビード、粉末プレス、ルースパウダー、液体等の幅広いサンプルで定量分析結果を得ることができます。故障解析や比較解析などの研究開発分析ツールとしても有効です。
 
SPC(装置ステータス管理ソフトウェア)
Zetiumに標準搭載されているSPC機能では、装置内部の様々な情報を常時モニターする事が可能です。装置パラメータ(ガス流量・圧力・温度・真空度等)の日間変動を記録できる他、スケジューラとリンクさせて モニター試料を定期的に測定し、各元素の強度変動を管理することができます。これにより、トラブルの発生を未然に防止し、装置の稼働率アップに貢献します。 

ラボでの研究・開発から工場での測定自動化へ

導入のメリット

  • プラントの生産効率アップと歩留まりの向上
  • 設備トラブルの事前察知と即時対応
  • 現場作業者の負担軽減

蛍光X線装置(XRF)Zetiumは、測定の自動化に対応しており、お客様の設備の状態に合わせて、装置のスペックや組み込み方法を提案いたします。

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概要

基礎的な革新

継続的な開発、カスタマーエクスペリエンスの向上

Zetiumプラットフォームに組み込まれた、WDXRFおよびEDXRFを統合したSumXcore技術により達成した科学的根拠に基づいた利益主導の革新は、最高の柔軟性、パフォーマンス、多様性を提供し、XRFの世界に革新をもたらしています。

基礎的な革新

基本インテリジェンス

高度な分析ハードウェアには高度な分析ソフトウェアと専門知識が必要です

SuperQソフトウェアの量子ステップにより、新しい技術の組み合わせと分析の可能性をもたらします。 Virtual Analystの機能により、システムの設定と操作時のユーザーエクスペリエンスが向上します。

基本インテリジェンス

基本的なサポート

地域に関係なく透明性と信頼性の高いサポート

保守作業から専門知識、トレーニングからラボ分析まで、あらゆる角度からユーザーをサポートします。 経験豊富なエンジニアの世界的なネットワークと、業界最大の応用科学者のグループの協力により、Malvern Panalyticalはお客様の分析要件を満たすお手伝いをします。 

基本的なサポート

基本技術

60年の経験と遺産 - 理想的な出発点

Zetiumは、Axios、MagiX、およびPW2400などの大きな成功を収めたWDXRF分光装置シリーズに続く次世代の分光装置です。 実績ある技術の遺産は洗練され、Zetiumプラットフォームの基盤を前進させてきました。

基本技術

機能

優れた分析性能

  • 出力を1から2.4、3、または4 kWにアップグレードすることで感度の向上が可能
  • 特定のアプリケーションパフォーマンス用のX線管アノード材質(Rh、Cr、Mo、およびAu)が利用可能
  • 遷移金属分析で優れた感度および広いダイナミックレンジを実現するハイパーXeシールド検出器
  • 重元素で幅広い測定範囲(最大3.5 Mcpsのリニアリティ)を実現し、鋼に含まれるNbおよびMoの精密分析に最適なHiPerシンチレーションディテクタ

優れたユーザーエクスペリエンス

  • Virtual Analystを使用したシンプルで直感的なソフトウェア
  • アプリケーション設定モジュールとソフトウェアソリューションのフルセット
  • 業界をリードするOmnianを使用したスタンダードレスXRF分析 - 未知物質の分析または利用できるスタンダードがない場合も分析可能
  • マッピングを使用した多元素微小スポット分析
  • プログラム可能なコリメータマスク(6 mm~37 mmのサンプルサイズ用)

最大サンプルスループット

  • SumXcore技術 - EDコアにより測定時間が最大50%減少
  • 出力を1から2.4、3、または4 kWにアップグレードすることで分析時間を短縮
  • 軽元素の同時測定用Hi-Perチャネル
  • 連続的で直接的なサンプル装填により装置のオーバーヘッドを大幅に低減
  • 高スループットアプリケーション用の高容量のサンプルチェンジャベッド(最大209箇所)
  • 迅速かつエラーフリーのサンプル装填およびデータ入力を実現するサンプルチェンジャのバーコードリーダーオプション

堅牢性

  • 粉塵除去装置により、汚染を最小限に抑え装置の稼働時間を最大化
  • X線管球の耐久性と耐腐食性を高めるCHI-BLUE X線管球ウィンドウコーティング
  • サンプルタイプの特定(固体および液体)
  • エラーフリーのサンプル入力を実現するバーコードリーダー

 低所有コスト

  • 場所を取らないコンパクトな設計 
  • 少量エアロック設計 - サンプルの真空中への迅速な循環、液体分析での少ないヘリウム消費量
  • アクセスが容易なサービスモジュールにより、装置のメンテナンスが容易になり、ダウンタイムを最小限に制限
  • 専用のチラーによりラボラトリから熱を排除 - ラボラトリの空調インフラストラクチャの過負荷防止
  • パッケージコスト削減ソリューション

業界エディション

各産業に特化した専用ソリューション

Zetium XRF分光装置の業界エディションには、専用の専門技術テンプレート、特定の業界用のハードウェアとソフトウェア構成が用意されています。 これらの業界エディションは迅速な検証とキャリブレーションを目的として設計されており、独自の高品質でトレーサブルなアプリケーションセットアップモジュールを備えています。また、セットアップ標準物質とサンプル調製の手順が用意されています。 さらに、一般的な業界用途規格と国際規格に準拠するよう調整されたアプリケーションテンプレートも含まれています。 このアプローチを使用している業界としては、セメント、鉱物、金属、石油化学製品、ポリマー、プラスチックなどが挙げられます。 Ultimateエディションの構成は、業界に関係なく最も厳しい要求に対応できます。

ZetiumのUltimateエディション

Zetiumファミリで最も高度な構成を持ち、用途に関係なく比類のない分析性能を提供します。
ZetiumのUltimateエディション

Zetiumのセメントエディション

優れたプロセス管理のために、最終セメントまでの原材料の元素分析を提供します。

Zetiumのセメントエディション

Zetiumの金属エディション

金属業界の特定の分析ニーズに適したアプリケーションソリューションにより事前設定されています。
Zetiumの金属エディション

Zetiumの石油エディション

石油化学業界の規制要件を満たすために事前キャリブレーションされています。
Zetiumの石油エディション

Zetiumのポリマーエディション

生産工程を通じてサンプルに対して信頼性の高い元素分析を実施し、製品の一貫性をサポートするよう設計されています。
Zetiumのポリマーエディション

Zetiumの鉱物エディション

Zetiumの鉱物エディションは、鉱石から尾鉱までの採掘工程の全段階での材料分析用に設計されています。
Zetiumの鉱物エディション

アクセサリ

標準物質(認証物質)

ADPOL

XRFによる機能性ポリマー添加物の正確な元素分析
ADPOL

WROXI

鉱物における正確で広範囲な濃度試料の酸化物の分析
WROXI

NiFeCO

耐熱鋼と超合金の分析に最適
NiFeCO

LAS

Malvern Panalytical XRF分光装置による低合金鋼分析
LAS

RoHS

RoHS規制物質の正確な元素分析
RoHS

TOXEL

XRFを使用したポリマーやプラスチックに含まれる有害元素の正確な分析
TOXEL

CEMOXI

XRFによるセメントの正確な酸化物分析
CEMOXI

フラックスおよび化学物質

融合モニター

融合装置用の高速でエラーのない先行的なモニタリング
融合モニター

計量済みフラックス

フラックスの計量にかかる時間を考えたことがありますか?
計量済みフラックス

金型およびるつぼ

金型およびるつぼ

当社のプラチナ実験機器は5 %の金を含む95 %のプラチナ合金で作られています。
金型およびるつぼ

ソフトウェア

SuperQ

SuperQソフトウェアは使いやすく、管理者やルーチン分析のオペレータがZetiumとCubiX分光装置を容易に使用できるようにします。

SuperQ

Omnian

Omnianソフトウェアは、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の分析手法です。

Omnian

Oil-Trace

Oil-Traceは、WDXRFおよびEDXRFを使用して正確で信頼性の高い液体試料の元素分析が行える標準物質セットを含むソフトウェアパッケージです。
Oil-Trace

Pro-Trace

Pro-Traceは、微量元素分析におけるネット強度の計算や、合計マトリックスが不明な場合の正確なマトリックス補正に最適です。

Pro-Trace

Stratos

このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。
Stratos

Services

XRF testing services

Malvern Panalytical offers a range of analytical services, ranging from elemental, structural and morphological analysis to validation and qualification services.

XRF testing services

オプション

システム強化パッケージ

Zetiumプラットフォームのモジュラー設計により、最も厳しい要件にも対応できるカスタマイズ可能な構成を設定できます。
 
  •     タスク指向のパフォーマンス強化機能
  •     高サンプルスループット – サンプルチェンジャ容量の増加と最小限の装置のオーバーヘッド
  •     粉塵を含むサンプルや液体の漏れからの保護
  •     バーコードリーダーによるエラーフリーのサンプル導入
  •     変動サンプルタイプの処理(微小スポット分析を含む)
システム強化パッケージ

SumXcore

EDコア

Zetiumプラットフォームには、WDXRF、EDXRFを統合したSumXcore技術が組み込まれています。 この独自の組み合わせが、分析能力、速度、およびタスクの柔軟性においてSumXcoreを比類なき存在にしています。

WD/ED XRFの組み合わせによるメリット

  • SumXcoreの同時測定によるタスクの柔軟性の最大化とパフォーマンスの向上
  • 動的に短縮される測定時間(最大50%)または精度向上によるメリット
  • 最適なパフォーマンスの柔軟性をもたらす可変信号減衰による高分解能SDDディテクタ
  • 元素分析(ppm~100%の濃度でNa~Amまで)
  • 測定時間を増やすことなくプロセス分析に影響する予期しない元素を追跡
  • QA/QCプログラムの機能強化とすべての測定値に対して2つの独立した結果を出して品質の信頼性を向上
SumXcore

SuperQ 6(Virtual Analyst搭載)

Virtual Analystは、スタンダードの組成、実際の測定値、ユーザーデータの目的など、さまざまな情報源から情報を取得し、システムの応答を計算し、設定し、分析方法を決定します。

  • Zetiumプラットフォームの機能へのアクセス
  • シンプルで直感的なタスク指向フロー
  • 高度なマトリックス補正の改良により、金属からポリマーまでのデータ精度が向上 
  • Virtual Analyst – 数十年にもわたる専門家のノウハウの具体化
SuperQ 6(Virtual Analyst搭載)

マッピングを使用した微小スポット分析

元素分布マッピングによる微小スポット分析は、材料研究と生産工程のトラブルシューティングに最適なツールです。 この技術は、研究施設だけでなく必要な場所で利用できます。

  • 材料研究と生産工程のトラブルシューティングに最適
  • 実践的な分析時間
  • 高感度の密結合光学経路
  • EDコアを使用したスポットごとの高速同時多元素分析
  • 500 µmスポットサイズ(FWHM)、100 µmステップサイズ
  • 定量的、定性的、スタンダードレスなOmnian分析
  • シンプルなサンプル調製
マッピングを使用した微小スポット分析

A nice instrument, small footprint, easy to use software, great after the sale support and training!!

Victoria Weathers — Ascend Performance Materials