元素組成分析用エキスパートXRF分光計
蛍光X線(XRF)分光計は、さまざまな材料の元素組成を明らかにするために設計された強力な分析装置です。これらの汎用性の高い装置は、科学研究、品質管理、および産業用途で極めて重要な役割を果たしています。
XRF分析装置は元素分析に優れています。放出されたX線のエネルギーと強度を測定することで、どの元素がどの濃度で存在しているかを特定します。この情報は、元素組成の知識が不可欠な地質学、冶金学、考古学、環境科学などの分野で非常に貴重です。
2024年、Malvern Panalyticalは、ハンドヘルドおよびポータブル分析装置のリーダーであるSciApsを買収してXRFポートフォリオを拡大しました。この戦略的買収により、XシリーズハンドヘルドXRF分析装置とポータブルPowerHouse XベンチトップシステムがMalvern Panalyticalのポートフォリオに加わって、ラボだけでなく現場でも元素分析ができるようになりました。
これらの高性能モバイルソリューションにより、現場で迅速に分析できるようになりました。金属や合金の分別、鉱業探査、規制コンプライアンス対応スクリーニングなどのアプリケーションに最適です。
XRF分析装置は、精密で非破壊的な元素分析を提供できることで知られる汎用性の高い装置です。これらの分析装置は、幅広い測定と洞察を提供できるため、さまざまな分野で非常に貴重です。
XRF装置の主な機能は、元素の定量化です。サンプルを高エネルギーX線に曝露することにより、XRF分析装置はサンプル内の元素の濃度を正確に測定できます。
この定量化は、炭素や酸素などの軽元素から鉛やウランなどの重金属まで、周期表全体に及びます。研究者、製造業者、品質管理の専門家は、正確な元素データを得るためにXRF装置を使用しています。
XRF分析の際立った特徴の1つは、その非破壊性です。ICPなどの従来の化学分析法では、多くの場合、サンプルの破壊/溶解が必要となり、サンプルをさらなる試験や保存に使用できなくなります。
しかし、XRF分光計を使用すると、材料を変更したり損傷したりすることなく検査できます。そのため、貴重な芸術作品、歴史的遺物、かけがえのない地質サンプルの分析に非常に有効です。
XRF分析装置は多元素解析に優れています。単一サンプル内の複数の元素を同時に検出および定量化することができ、その組成の包括的な全体像を提供します。
この機能は、さまざまな元素成分を含む複雑な材料、合金、または地質サンプルを扱う場合に特に有利です。
XRF分析装置は、特定の種類の材料に限定されません。次のようなさまざまな種類のサンプルを分析できます。
この汎用性により、XRF装置は製造、製薬から地質学、環境科学に至るまで、さまざまな業界でしっかりと使用できます。
XRF分析装置は、以下を含むさまざまな元素を測定できますが、これらに限定されません。
材料の特性評価、製品品質の確保、科学研究の実施などいずれの場合でも、XRF分光計はさまざまな業界の元素分析に不可欠なツールです。
Malvern Panalyticalは、元素および薄膜解析用の多用途蛍光X線分析装置と関連商品を提供します。これらのXRF分析装置は、広範な解析およびスループット要件、オペレーション環境に適合します。
ポートフォリオにSciAps XシリーズハンドヘルドXRF分析装置とポータブルPowerHouse Xベンチトップシステムが加わり、当社は、現場や外出先での分析向けにポータブルかつ高性能のソリューションを提供できるようになりました。
エネルギー分散型ベンチトップXRFシステムから波長分散型高パフォーマンスXRFシステム、半導体測定用製品までの分光計シリーズ
XRF分析装置は特定のX線蛍光分析タイプに応じた専用のソフトウェアオプションで構成できます。アプリケーションモジュール(アプリケーション構成、キャリブレーション、および標準試料)との組み合わせ、またはサンプル前処理製品を含むパッケージとして、完全な分析ソリューションが作成されます。Malvern Panalytical製品はすべて、アフターサービスおよびカスタマーサービス部門によってサポートされています。
ナレッジセンターでは、当社の分光計で実現できる多くの興味深いXRFアプリケーションに関する詳細情報をご確認いただけます。
卓上蛍光X線分析装置 Revontiumコンパクトで高機能、強力な分析、無限の可能性 |
Zetiumハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 |
高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線（EDXRF）装置です。 |
2830 ZT先進の半導体薄膜測定ソリューション |
Axios FAST優れたサンプルスループット |
SciAps Xシリーズ世界最軽量、最小、最速、高精度のXRF分析装置 |
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| 測定タイプ | ||||||
| 薄膜測定 | ||||||
| 元素分析 | ||||||
| 汚染物質の検出と分析 | ||||||
| 元素定量 | ||||||
| 化合的同定 | ||||||
| 技術 | ||||||
| XRF分析 | ||||||
| 波長分散型蛍光X線 | ||||||
| エネルギー分散型X線分析 | ||||||
| 元素範囲 | ||||||
| 最小検出下限 | ||||||
| 分解能(Mg-Ka) | ||||||
| サンプル処理 | ||||||
| Format | Compact | Floorstanding WDXRF | Benchtop EDXRF | Semi | Floorstanding WDXRF | Handheld XRF |
