XRF - 蛍光X線分析とは?蛍光X線分析の原理について
サンプルにX線を照射して発生する固有の蛍光X線を測定することで構成されている元素を分析することです。
元素定量
XRFとPFTNAを使用した元素濃度の定量
XRFとPFTNAを使用した元素濃度の定量
多くのアプリケーションにおいて、元素濃度を把握することは、材料特性の管理や、健康規制や安全規制への準拠の保証に重要な要素です。 このため、多くの場合、単に元素の存在を検出するだけでは不十分で、それらの濃度を定量化する必要もあります。
必要な精度は、アプリケーションに応じて異なります。
蛍光X線分析装置 と パルス高速熱中性子活性化 は、非破壊的で安定した簡単に使用できる分析技術で、広範なアプリケーションにおいてさまざまな材料の元素組成を決定できます。 元素濃度をこれらの技術で定量化するには、測定強度を認定されたリファレンス材料の強度、または既知の濃度を使用した社内標準試料の強度と比較します。 これらの標準試料は、正確な結果を得るために可能な限り、サンプル材料に似ている必要があります。 測定強度は、サンプルの物理的特性による影響も受けるため、ユーザーのソフトウェアによって対応できるさまざまな補正を適用することが必要な場合がよくあります。
多くの業界では、未知の組成のサンプル材料を、専用の標準試料なしですばやくスクリーニングする必要があります。
このような場合、Omnianなど、標準試料なしの解析ソフトウェアは、全体的な元素組成を決定し、元素濃度の半定量的な値を提供します。
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