SciAps Xシリーズ

世界最軽量、最小、最速、高精度のXRF分析装置

SciAps Xシリーズは、世界最軽量、最小、最速、高精度のハンドヘルドXRF分析装置ファミリーです。1.3 kg以下の最新モデルで、超高速。疲労することなく一日中使用できます。

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見積もり、詳細情報をリクエストするか、パンフレットをダウンロードするには、以下のオプションを選択してください。


標準化された、現場に適したプラットフォーム

  • 正確なターゲット設定、写真記録、QRおよびバーコードの読み取り用の2台のカメラ

  • 軽量でバランスの取れた人間工学に基づいた自立型設計

  • Detector Protector Technology (DPT) (検出器保護技術)により、高度な高強度ウィンドウで検出器を保護

  • グローバルな接続性 – モニター試験、品質チェック、レポートの印刷をリアルタイムに行います

  • 業界最低価格のサービスコスト

  • 直感的なAndroidオペレーティングシステム

X値

完全に再設計されたX-200とX-50は、市場で最も低価格のXRFガンでありながら、X-5シリーズのすべての精度とスループットを備え、クラス最高の分析性能と速度性能を提供します。

放熱性能の向上、軽量化、新しいユーザーインターフェースを実現しています。

プレミアムX

125 kgのX-500シリーズは、究極の耐久性とデューティサイクルを実現するために、主に金属製のフレームで製造された分析装置としては史上最軽量です。 

スリムな薄型フォームファクターで、最も過酷な試験場所へのアクセスが可能となり、最新の2.7インチ(68.6 mm)グレードと化学組成を表示する背面ディスプレイです。

仕様

Xシリーズプレミアム: X-550 XRF分析装置

重量
1.35 kg (電池を含む)
寸法
8.5 x 9.5 x 2.4inches
電源
内蔵充電式リチウムイオン電池、装置内充電式または外部充電器つき、AC電源、ホットスワップ機能(最大スワップ時間60秒)
表示
2.7インチカラー静電容量方式タッチスクリーン、400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3Dグラフィックアクセラレータ
結果を見やすい背面ディスプレイ、あらゆる条件で読みやすい
Security
使用状況(ユーザーレベル)と内部設定(admin)はパスワードで保護
規制試験
CE、RoHS、USFDA登録済み、カナダRED法
Excitation source
5 W X線管球40 kV、200 uA Rhアノードと10 kV、500 uA (合金試験)
50 kV、200 uA Auアノード(その他のほとんどの用途)
検出器
20 mm2シリコンドリフト検出器(有効エリア)、5.95 Mn K-alpha線において140 eV分解能FWHM
X-Ray filtering
ビーム最適化用6ポジションフィルターホイール
Processing electronics and host processor
1.2 GHz quad ARM Cortex A53 64/32ビット
RAM: 2GB LP-DDR3
ストレージ: 16 GB eMMC(ストレージ)
Pulse processor
14ビット、デジタル化率80 MSPS 8KチャンネルMCA USB 2.0、ホストプロセッサへの高速データ転送用
高スループットパルス処理用FPGAに実装されたデジタルフィルタリング20 nS - 24 uSピーク時間
測定温度範囲
デューティサイクル25%で-12℃~54℃
校正手法 基礎パラメータ地球科学と環境土壌アプリの場合、ユーザーは「コンプトン散乱ノーマライゼーション」方法を選択したり、経験的に派生したキャリブレーションを使用したりすることもできます
Calibration check
キャリブレーション検証およびエネルギースケール検証用の外部316ステンレスチェック標準
Analytical range
32元素標準、特定の元素はアプリによって異なります
追加元素はユーザーの要求に応じて追加可能です
アプリケーション
合金、不変アルミニウム、鉱業、土壌、貴金属、自動車触媒、RoHS、経験的、HUD鉛塗料
新しいアプリが定期的に追加されます
Grade library
標準ライブラリには500以上のグレードが含まれており、粒子径制限はありません
複数のライブラリがサポートされており、分析装置またはPCソフトウェアパッケージ(ProfileBuilder)を使用してグレードを追加可能です

Xシリーズプレミアム: X-555 XRF分析装置

重量
1.35 kg (電池を含む)
寸法 8.5 x 9.5 x 2.4inches
表示 2.7インチ高輝度カラー静電容量方式タッチスクリーン、400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3Dグラフィックアクセラレータ。結果を見やすい背面ディスプレイ、あらゆる条件で読みやすい。
電源
内蔵充電式リチウムイオン電池、装置内充電式または外部充電器つき、AC電源。ホットスワップ機能(最大スワップ時間60秒)。
Data Transfer
PCまたはタブレット用のSciAps Profile Builderソフトウェアを含む、ほとんどのデバイスへのWiFi、Bluetooth、USB接続が可能。
Security
パスワード保護されたマルチユーザーサポート、アクセスを設定可能。
Excitation source
5 W X線管球最大55 kV、200 uA。Auアノード
検出器
50 mm2シリコンドリフト検出器(有効エリア)、5.95 Mn K-alpha線において140 eV未満の分解能FWHM。
Processing electronics and host processor
1.2 GHz ARM Cortex-A53 quad-core、64/32ビット。RAM: 2GB LPDDR3。ストレージ: 16GB eMMC。
Pulse processor
12ビット、デジタル化率80 MSPS 8KチャンネルMCA USB 2.0、ホストプロセッサへの高速データ転送用。高スループットパルス処理用FPGAに実装されたデジタルフィルタリング20 nS - 24 uSピーク時間。
測定温度範囲
デューティサイクル25%で-12℃~54℃
規制試験
CE、RoHS、USFDA登録済み。カナダRED法
アプリケーション
希土類元素の土壌と鉱業
X-Ray filtering
ビーム最適化用6ポジションフィルターホイール。
校正手法
キャリブレーション検証および波長スケール検証用の内部316ステンレスチェック標準
Quantified elements
32元素標準、特定の元素はアプリによって異なります
追加元素はユーザーの要求に応じて追加可能です
校正手法
基礎パラメータ
地球科学と環境土壌アプリの場合、ユーザーは「コンプトン散乱ノーマライゼーション」方法を選択したり、経験的に派生したキャリブレーションを使用したりすることもできます
Calibration check
キャリブレーション検証およびエネルギースケール検証用の外部316ステンレスチェック標準

Xシリーズプレミアム: X-505 XRF分析装置

重量
1.35 kg (電池を含む)
寸法
8.5 x 9.5 x 2.4inches
電源
内蔵充電式リチウムイオン電池、装置内充電式または外部充電器つき、AC電源、ホットスワップ機能(最大スワップ時間60秒)
表示
2.7インチカラー静電容量方式タッチスクリーン、400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3Dグラフィックアクセラレータ
結果を見やすい背面ディスプレイ、あらゆる条件で読みやすい
Data Transfer
SciAps Profile Builder PCソフトウェアを含む、ほとんどのデバイスへのWiFi、Bluetooth、USB接続が可能
GPS対応、クラウドデータ管理オプションを利用可能
Excitation source
5 W X線管球
標準: 40 kV、200 uA Rhアノードと10 kV、200 uA (合金試験)、50 kV、200 uA Auアノード(その他のほとんどの用途)
検出器
20 mm2シリコンドリフト検出器(有効エリア)、5.95 Mn K-alpha線において140 eV未満の分解能FWHM
X-Ray filtering
ビーム最適化用6ポジションフィルターホイール
Processing electronics and host processor
1.2 GHz ARM Cortex-A53 quad-core、64/32ビット
RAM: 2GB LPDDR3
ストレージ: 16GB eMMC
Pulse processor
14ビットADC、デジタル化率80 MSPS 8KチャンネルMCA USB 2.0、ホストプロセッサへの高速データ転送用
高スループットパルス処理用FPGAに実装されたデジタルフィルタリング50 nS – 24 uSピーク時間
校正手法
基礎パラメータ。地球科学と環境土壌アプリの場合、ユーザーは「コンプトン散乱ノーマライゼーション」方法を選択したり、経験的に派生したキャリブレーションを使用したりすることもできます
Calibration check
キャリブレーション検証およびエネルギースケール検証用の外部316ステンレスチェック標準
測定温度範囲
デューティサイクル25%で-12℃~55℃
Security
使用状況(ユーザーレベル)と内部設定(admin)はパスワードで保護
規制試験
CE、RoHS、USFDA登録済み、カナダRED Act.CE、RoHS、USFDA登録済み、カナダRED法

Xシリーズバリュー: X-200 XRF分析装置

重量
1.4 kg (電池を含む)
寸法
238 x 283 x 84mm
電源
内蔵充電式リチウムイオン電池、装置内充電式または外部充電器つき、AC電源、ホットスワップ機能(最大スワップ時間60秒)
表示
3.5インチ(89 mm)カラー静電容量方式タッチスクリーン、400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3Dグラフィックアクセラレータ
Data Transfer
SciAps Profile Builder PCソフトウェアを含む、ほとんどのデバイスへのWiFi、Bluetooth、USB接続が可能。GPS対応、クラウドデータ管理オプションを利用可能
Excitation source
5 W X線管球最大50 kV、最大200 uA、RhまたはAuアノード(用途に応じてお選びいただけます)
検出器
20 mm2シリコンドリフト検出器(有効エリア)、5.95 Mn K-alpha線において140 eV未満の分解能FWHM
X-Ray filtering
ビーム最適化用6ポジションフィルターホイール
Processing electronics and host processor
1.2 GHz ARM Cortex-A53 quad-core、64/32ビット
RAM: 2GB LPDDR3
ストレージ: 16GB eMMC
Pulse processor
14ビットADC、デジタル化率80 MSPS 8KチャンネルMCA USB 2.0、ホストプロセッサへの高速データ転送用
高スループットパルス処理用FPGAに実装されたデジタルフィルタリング50 nS – 24 uSピーク時間
校正手法
基礎パラメータ。地球科学と環境土壌アプリの場合、ユーザーは「コンプトン散乱ノーマライゼーション」方法を選択したり、経験的に派生したキャリブレーションを使用したりすることもできます
測定温度範囲
デューティサイクル25%で-12℃~54℃
Security
使用状況(ユーザーレベル)と内部設定(admin)はパスワードで保護
規制試験
CE、RoHS、USFDA登録済み、カナダRED法

Xシリーズバリュー: X-50 XRF分析装置

重量
1.4 kg (電池を含む)
寸法
238 x 283 x 84mm
電源
内蔵充電式リチウムイオン電池、装置内充電式または外部充電器つき、AC電源、ホットスワップ機能(最大スワップ時間60秒)
表示
3.5インチ(88.9 mm)カラー静電容量方式タッチスクリーン、400 MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3Dグラフィックアクセラレータ
Data Transfer
SciAps Profile Builder PCソフトウェアを含む、ほとんどのデバイスへの
WiFi、Bluetooth、USB接続が可能。
Excitation source
合金では4 W、40 kV Rh、その他の用途では50 kV Au
検出器
7 mm2 SDDシリコンドリフト検出器(有効エリア)、5.95 Mn K-alpha線において170 eV分解能FWHM
X-Ray filtering
合金、鉱業、貴金属用単一の一次ビームフィルター
土壌、RoHS、自動車触媒、その他の用途向けの複数のフィルター
Processing electronics and host processor
1.2 GHz quad ARM Cortex A53 64/32ビット
RAM: 2GB LP-DDR3
ストレージ: 16 GB eMMC(ストレージ)
Pulse processor
12ビット、デジタル化率80 MSPS 8KチャンネルMCA USB 2.0、ホストプロセッサへの高速データ転送用
高スループットパルス処理用FPGAに実装されたデジタルフィルタリング20 nS – 24 uSピーク時間
校正手法
Fundamental parameters
Calibration check
キャリブレーション検証およびエネルギースケール検証用の外部316ステンレスチェック標準
測定温度範囲
デューティサイクル25%で-12℃~54℃
Security
使用状況(ユーザーレベル)と内部設定(admin)はパスワードで保護
規制試験
CE、RoHS、USFDA登録済み、カナダRED法

アクセサリ

アプリケーションと標準元素パッケージ

様々なモデルとアプリケーション向けの標準元素パッケージを以下の表に示します。他の元素が必要ですか。お問い合わせください。特定の用途のために頻繁に元素を追加または置換します。

X-555、X-550、X-505、及びX-200

アプリケーション ビーム1(40 kV) ビーム2(10 kV) ビーム3(50 kV)
鉱業 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr、Rb、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Au、Hg、Pb、Bi、U Mg、Al、Si、P、S、K、Ca Ag、Sn、Sb、Ba
土壌 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr、Rb、Zr、Mo、W、Tl、Hg、Pb、Bi Mg、Al、Si、P、S Ag、Cd、Sn、Sb、Ba
合金 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Se、Y、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Hf、Re、Au、Pb、Bi、Ru、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb Mg、Al、Si、P、S 該当なし
貴金属 Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、W、Au、Ge、Ir、Pt、Au、Pb、Bi、Zr、Mo、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb 該当なし 該当なし

X-5およびX-50

アプリケーション ビーム1(40 kV) ビーム2(10 kV) ビーム3(50 kV)
鉱業 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr、Rb、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Au、Hg、Pb、Bi、U、Ag、Sn、Sb S、K、Ca 該当なし
土壌 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr、Rb、Zr、Mo、W、Tl、Hg、Pb、Bi、Ag、Cd、Sn、Sb 該当なし 該当なし
合金 Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Se、Y、Zr、Nb、Mo、W、Ta、Hf、Re、Au、Pb、Bi、Ru、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb 該当なし 該当なし
貴金属 Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、W、Au、Ge、Ir、Pt、Au、Pb、Bi、Zr、Mo、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb 該当なし 該当なし

通常のアクセサリ

OneBox

ZシリーズXシリーズの両ハンドヘルド分析装置は、同じソフトウェアプラットフォーム、オペレーティングシステムで動作し、ユーザーインターフェース、電池、充電器が同じなため、トレーニングと操作が容易です。 

OneBoxパッケージを購入すると、両方入手できます。

詳細
OneBox

プレミアムXRF分析装置

X-550はハンドヘルドXRFの新しい性能基準を定めています。電池を含めて1.3 kgで、市場で最小、最軽量、最速のXRF分析装置です。あらゆる合金で高速で、アルミニウムでもスクラップ市場向けの高温と同等に優れており、NDT(残留物、硫化腐食、合金)用の完全にロードされたアプリが付属しています。

X-550は業界で最も強力なX線管球を使用し、SciAps X-505やその他のハンドヘルドXRF分析装置と比較して、ビーム2設定で最大3倍の電力を動作させます。独自の形状と管球出力により、硫化腐食(低Si)、リンと硫黄、アルミニウム合金などの低原子番号測定アプリケーションにおける性能や、API 751および5L仕様に準拠した残留物分析を最適化します。

X-555

プレミアムなパフォーマンスは、Ag、Cd、Sn、Sb、Baなどの主要元素の検出限界を大幅に低くする55 kV X線管球を中心とした、最先端のハンドヘルドXRF技術から始まっています。 

最大3つの自動ビーム設定により、MgからUまでの周期表全体で最適な性能が得られます。 

最先端のソフトウェアと優れた熱放散を備えた頑丈な装置です。

X-550かX-505か。

プレミアムX-550とX-505の違い。 

答えは簡単です。Mg、Al、Si、P、Sなどの低原子番号元素における速度です。 

X-505や他のハンドヘルドXRF分析装置と比較して、X-550が「ビーム2」設定(低電圧設定とも呼ばれる)でX線出力の約3倍で動作すると、Mg、Al、Si、P、S (他のアプリでは、K、Ca、Cl)からの測定強度が3倍高くなり、X-550では3倍速い測定が行われます。

バリューXRF分析装置

プレミアムモデルの精度とスループットを求めつつ、低価格シリーズの分析装置をお求めですか。では、、優れた放熱性能、軽量化、新しいユーザーインターフェースを備えた、完全に再設計された「バリュー」シリーズをご検討ください。すべての内部電子機器は、現在、消費電力が削減され、ドリフトやシャットダウンが発生せず、より高い温度で動作するようになっています。

  • 1.4 kgの新しい軽量設計(電池を含む)
  • 再設計されたヒートシンクで、最大43℃の周囲温度まで連続動作可能
  • 最新のソフトウェア、ユーザーインターフェース、完全な再キャリブレーション

X-200

SciAps X-200は、最上位の競合他社ブランドと同等の速度と精度を提供しますが、より小型で軽量なパッケージで低価格です。 

X-200シリコンドリフト検出器(SDD)モデルは、あらゆる性能要件に対応し、競争力のある価格で提供されています。X-505/550プラットフォームよりわずかに重いだけで、X-200は業界をリードする速度と精度を提供しています。これがX-505のバリューバージョンです。

  • 仕様: 40 kV、Rhアノード(合金)または50 kV Auアノード(地球科学、土壌、その他)。20 mm2標準SDDおよびDPP。125k cps、90%ライブ未満。
  • ‍‍合金: アルミニウムの分別が日常的に行われているが主要な焦点ではない場合、最高の価値です。Al塩基中にMgが0.8%の場合、8〜10秒の第2ビーム試験が必要です。Al、Si、S、及びPの場合、5〜6秒のビーム第2試験時間が必要です。6063、356、または3004などのグレードで0.3〜0.5%のMgを測定するには15〜20秒かかります。
  • ‍‍地球科学と土壌: 他の主要なXRFブランドと同等の精度、検出限界、元素範囲を提供しますが、より軽量なパッケージで、低価格です。

X-50

完全に再設計されたSciAps X-50 XRF分析装置は、市場で最高性能を誇る、コスト効率が高いSDD検出器を備えています。 

検出器プラットフォームとしてはクラス最高の分析性能と速度を提供し、他のブランドの2倍以上の速度で動作します。

X-50は最も経済的なモデルであり、遷移金属や重金属の優れた基本分析を提供します。 

  • 仕様: 40 kV、Rhアノード(合金)またはAuアノード(地球科学、土壌、その他)。7 mm2 SDD、シリコンドリフト検出器、15k cps、50%ライブ。
  • ‍‍合金: SS、高温金属、レッドメタルの基本的な分別。Al合金は、MLC、2000系、及び7000系でのみ分別。
  • ‍‍地球科学と土壌: 同じ元素スイートですが、古いPiNダイオード検出器技術を使用。同じ精度を達成するためにはテスト時間は長くなりますが、X-50プラットフォームは低価格です。

X-5

SciAps X-5は遷移金属や重金属の基礎分析の実施に最適です。 

合金やその他の材料中のMg、Al、Si、S、またはPの測定を必要としないユーザー向けに設計されています。

このようなユーザー向けに、当社はこのクラシックな技術を再設計し、優れた価格で、多くの用途に対応するより多くの機能が搭載されています。

合金とスクラップ: 低合金、Cr/Mo鋼、ステンレス、耐食性合金の検証を必要とする多くのNDT/PMI作業では、X-5は優れた性能を発揮します。合金用途には、ステンレス鋼、高温合金、及びレッドメタルの分別が含まれます。

‍‍その他: X-5は、貴金属、RoHS、土壌、鉱業、自動車触媒、産業用鉛塗料、その他のユーザーによるカスタマイズ可能な用途にも利用できます。

ユーザーマニュアル

最新のユーザーマニュアルについてはサポートにお問い合わせください。

ソフトウェアのダウンロード

最新のソフトウェアについてはお問い合わせください。

これまでにないXRF。

これまでにないXRF。

世界最軽量、最小、最速、高精度のXRF分析装置ファミリー。現場での分析を進化させます。

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