Aeris Guía de usuario
バージョン番号:: 8
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使いやすさと性能の良さを併せ持つAeris research エディションは。
材料の構造に関する情報を高精度に得ることが出来ますので、材料を精製したり、材料そのものの知見を深めたり、材料の高機能化を推し進めることができます。
どのようなプロジェクトに取り組む場合も、研究開発の現場では課題のサンプルから構造情報を迅速に取得することは重要です。
まずAeris ResearchでX線回折データを収集し、次にHighScore suiteでデータを確認する、これだけで豊富な結晶構造情報を得ることができます。
反射、透過、微小角入射 X 線回折 (GIXRD) などが可能なAeris research エディションで、あらゆる種類の物質から最高のデータを得るために必要なすべてが揃います。
極めて直感的なX線回折装置。
Aerisは、操作が簡単でユーザーフレンドリーな卓上型X線回折装置です。 Aerisは、直感的な操作によりX線回折を簡単に実施できるため、だれでも扱うことができます。 特有のタッチスクリーンを使用したインターフェースにより、試料の測定工程を難なく進めることができます。 組み込みタッチスクリーンにより、ほんの数回タッチするだけで結果が得られます:
並外れた可能性
Aerisは、粒子試料を高い信頼性で迅速に位相識別し、リートベルト解析する力強いパートナーです。
AerisのResearchエディションは、Malvern Panalyticalのハイエンドシステムで実績のある有用な技術を導入し、フルサイズの床置きシステムでなければ得られなかったデータ品質を実現します。
オプションの2D検出器を使用すると、粒子回折の基礎をビジュアルに教えることができます。
Aerisは非常に柔軟であり、あらゆる種類の粉末回折測定が可能です。
本装置は、試料交換器と組み合わせることで様々なタイプの試料ホルダーに対応しており、BTS 500卓上型加熱ステージが装備できます。
冷却水不要、冷却装置不要、圧縮空気不要。
必要なのは単相粉末ソケットだけです。
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| サンプルの装填 | 外部サンプルローディング |
|---|---|
| Sample holders | あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ |
| サンプルの交換 | 手動ローディングドック、6 ポジションサンプルチェンジャー、または 67 ポジション大容量サンプルチェンジャーからお選びください
|
| 自動化 | 自動化統合に対応 |
| 波長 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30 kVまたは40 kV設定で300 W~600 Wのオプション |
| Tube housing | 耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano、透過、斜入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用) |
| Angle positioning | 全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3) |
| Scan Speed | 最大2.17°/s |
| 分解能 | < 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | スピナーステージの選択 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 調整不要のステージのPreFIX交換 |
| Special stages | ご要望に応じて(手動、MPSS、現場) |
| 検出器 | PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択 |
| 寸法 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 外部サンプルローディングつきクローズドシステム |
| External cooling water supply | 不要 |
| Compressed air supply | 不要 |
| Power Supply | 100~240 V、単相 |
| コンピューター | 内蔵機器用PC |
| オペレーション | 10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース |
| インターフェース | LAN, USB, HDMI |
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 7
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
耐用年数終了までサービス
工程に価値を付加する
使いやすさと性能の良さを併せ持つAeris research エディションは。
材料の構造に関する情報を高精度に得ることが出来ますので、材料を精製したり、材料そのものの知見を深めたり、材料の高機能化を推し進めることができます。
どのようなプロジェクトに取り組む場合も、研究開発の現場では課題のサンプルから構造情報を迅速に取得することは重要です。
まずAeris ResearchでX線回折データを収集し、次にHighScore suiteでデータを確認する、これだけで豊富な結晶構造情報を得ることができます。
反射、透過、微小角入射 X 線回折 (GIXRD) などが可能なAeris research エディションで、あらゆる種類の物質から最高のデータを得るために必要なすべてが揃います。
極めて直感的なX線回折装置。
Aerisは、操作が簡単でユーザーフレンドリーな卓上型X線回折装置です。 Aerisは、直感的な操作によりX線回折を簡単に実施できるため、だれでも扱うことができます。 特有のタッチスクリーンを使用したインターフェースにより、試料の測定工程を難なく進めることができます。 組み込みタッチスクリーンにより、ほんの数回タッチするだけで結果が得られます:
並外れた可能性
Aerisは、粒子試料を高い信頼性で迅速に位相識別し、リートベルト解析する力強いパートナーです。
AerisのResearchエディションは、Malvern Panalyticalのハイエンドシステムで実績のある有用な技術を導入し、フルサイズの床置きシステムでなければ得られなかったデータ品質を実現します。
オプションの2D検出器を使用すると、粒子回折の基礎をビジュアルに教えることができます。
Aerisは非常に柔軟であり、あらゆる種類の粉末回折測定が可能です。
本装置は、試料交換器と組み合わせることで様々なタイプの試料ホルダーに対応しており、BTS 500卓上型加熱ステージが装備できます。
冷却水不要、冷却装置不要、圧縮空気不要。
必要なのは単相粉末ソケットだけです。
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| サンプルの装填 | 外部サンプルローディング |
|---|---|
| Sample holders | あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ |
| サンプルの交換 | 手動ローディングドック、6 ポジションサンプルチェンジャー、または 67 ポジション大容量サンプルチェンジャーからお選びください
|
| 自動化 | 自動化統合に対応 |
| 波長 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30 kVまたは40 kV設定で300 W~600 Wのオプション |
| Tube housing | 耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano、透過、斜入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用) |
| Angle positioning | 全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3) |
| Scan Speed | 最大2.17°/s |
| 分解能 | < 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | スピナーステージの選択 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 調整不要のステージのPreFIX交換 |
| Special stages | ご要望に応じて(手動、MPSS、現場) |
| 検出器 | PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択 |
| 寸法 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 外部サンプルローディングつきクローズドシステム |
| External cooling water supply | 不要 |
| Compressed air supply | 不要 |
| Power Supply | 100~240 V、単相 |
| コンピューター | 内蔵機器用PC |
| オペレーション | 10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース |
| インターフェース | LAN, USB, HDMI |
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バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 7
バージョン番号:: 8
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バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 2
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バージョン番号:: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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