1Der

1D 検出における究極の多用途性とデータの明瞭さ

1Der は、X 線回折 (XRD) 用の最先端の固体検出器ポートフォリオに加わった最新モデルです。比類のない光学構成群とともに、1Der は XRD プラットフォームにシームレスに統合され、使いやすさと究極の柔軟性、そしてすべての 0D および 1D アプリケーションにおけるデータの明瞭さを実現します。

1Der は、Empyrean および Aeris で使用されるすべての X 線源に対応しています。

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Overview

The widest range of X-ray source compatibility

The 1Der detector offers automatic control of energy window for ease of use in changing and optimizing detector settings to obtain fluorescence-free, super sharp data for any X-ray energy, namely Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Mn, Cr.

  • Phase identification and high throughput screening
  • Standardless quantification of mixtures of phases
  • Refinement of crystal structures
  • Phase transitions at non-ambient conditions in combination with our in-situ stages
  • Residual stress, texture and phase identification of metals and alloys
  • Operando measurements on working batteries and electrochemical cells
  • High energy transmission and reflection measurements such as total scattering for pair distribution function (PDF) analysis
  • Powder diffraction from large unit cell crystals
  • Thin film studies

Specification

Technical specifications: 1Der
Window size 9 mm x 15 mm
Efficiency Cu Kα > 94%
Efficiency Mo Kα 38%
99% Linearity range 0 – 1.7 106 cps – Overall
Energy resolution around Cu Kα <5% (typical performance ~340 eV)
Maximum count rate 38.4 106 cps - Overall
Maximum background <0.4 cps - Overall
Strip size 70 µm
Total number of strips 127
Active length 9 mm
Smallest step size 0.0021º 2θ at 240 mm goniometer radius
Supported wavelengths Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Mn, Cr
K-alpha to k-Beta switch Yes