粒子径測定の基礎とレーザ回折・散乱法

レーザ回折式粒子径分布測定装置　マスターサイザーシリーズをご利用中のユーザ様対象の研修でお配りしている資料です。レーザ回折法の測定原理の説明からマスターサイザーシリーズ測定時の注意点などを詳しく記載しています。

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目次 

• 粒子径分布の基礎
  • 粒子径の定義方法
  • 「測定精度」とは
  • 測定原理によって値は変わる
• レーザ回折・散乱法
  • レーザ回折・散乱法の原理
  • レーザ回折・散乱法の演算方法
  • 粒子径分布演算に使用する理論値の計算
  • フラウンフォーファ理論とMie理論の計算結果比較
• ハードウェア・ソフトウェアの構成
  • レーザ回折・散乱式粒子径測定装置マスターサイザー3000
  • ソフトウェア-バックグラウンドの最適化
  • ソフトウェア-屈折率入力の最適化
  • サンプリングの最適化
• レーザ回折式粒子径分布測定装置 買い替え時のデータ移行
• レーザ回折・散乱式にありがちな「変なデータ」の原因と対処法
• レーザ回折・散乱式の特徴 まとめ
• 付録 -「光学特性最適化プログラム」のご紹介