レーザ回折式粒子径分布測定装置 マスターサイザーシリーズをご利用中のユーザ様対象の研修でお配りしている資料です。レーザ回折法の測定原理の説明からマスターサイザーシリーズ測定時の注意点などを詳しく記載しています。

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目次 

  • 粒子径分布の基礎
    • 粒子径の定義方法
    • 「測定精度」とは
    • 測定原理によって値は変わる
  • レーザ回折・散乱法
    • レーザ回折・散乱法の原理
    • レーザ回折・散乱法の演算方法
    • 粒子径分布演算に使用する理論値の計算
    • フラウンフォーファ理論とMie理論の計算結果比較
  • ハードウェア・ソフトウェアの構成
    • レーザ回折・散乱式粒子径測定装置マスターサイザー3000
    • ソフトウェア-バックグラウンドの最適化
    • ソフトウェア-屈折率入力の最適化
    • サンプリングの最適化
  • レーザ回折式粒子径分布測定装置 買い替え時のデータ移行
  • レーザ回折・散乱式にありがちな「変なデータ」の原因と対処法
  • レーザ回折・散乱式の特徴 まとめ
  • 付録 -「光学特性最適化プログラム」のご紹介

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