Omnian

あらゆる種類のサンプルのスタンダードレス分析

Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。

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機能

独自の包括的なスタンダードレス分析パッケージ

Omnianは、先進のソフトウェアと設定サンプルの組み合わせで構成されています。 すべてのOmnianインストールは、設定標準物質を測定することで達成されます。 これらの吟味された材料は、マトリクスの最も困難な課題にも対応するように設計されています。 純粋な初期材料で作られた設定標準物質は、Omnianソフトウェアを分光計の詳細な設定に合わせて微調整するために使用され、他の半定量化方法の制限に対処するスペクトル要素機能も組み込むことができます。 Omnianソフトウェアは、先進の第三世代FPモデルアルゴリズムを搭載しており、これら2つの機能を結合することで、コアの違いを生み出しています。 これにより、あらゆる種類のタイプに使用できる方法が確率され、サンプルが液体、粉末、固体に関わらず、安定した正確な元素分析を行うことができます。 

Omnian-suitcase.jpg すべてのスペクトル機能を調査し、優れた解釈を提供

インストールされると、Omnianはすべての分光計データを照合し、完全に解釈できるように構成されます。 スキャンで構成される最適な分析プログラムが生成され、高い柔軟性を提供します。 Zetium分光計と併用することで、Omnianは高速スキャンモードを使用し、確実な結果を2分以内に生成できます。 この方法は、特定の元素ピーク測定の時間節約方法を組み合わせると同時に、スキャン方法でのみ生成される正確なバックグラウンド計算を使用することで実現します。 また、必要に応じて、痕跡元素分析に高い精度が求められる場合、スキャンベースのプログラムは特定のチャネルを使用して拡張可能です。 

改善されたデータ処理

Omnianには、XRF固有の既知の制限値をプロファイルするために設計された先進のアルゴリズムが搭載されています。 例えば、Omnianが生成する結果には、検出時に重要であると判断された元素しか含まれません。 また、検査時に、Omnianはスペクトル干渉を避ける方法を自動的に採用します。 有利な、干渉の可能性のないラインが選択されると、補正が自動的に適用されます。 Omnianは、変動サンプル厚補正など、一連の先進のマトリクス補正機能も備えています。 また、ダークマトリクス補正により、C、H、Oなどの軽元素が有意な吸光度(オイル中の硫黄など)に寄与している場合にも、優れた精度を発揮します。 Fluorescent Volume Geometry (FVG)は、重元素を軽マトリクス(ポリマー中の重金属など)で測定するスペクトル寄与の場合の、もう一つの先進のマトリクス補正機能です。 

Omnian-samples.jpg 価値の高い分析を提供

Omnianは、「ブラックボックス」モードでの使用を考慮して設計された、すべての産業において価値の高い分析パッケージです。 日常的に異物や不明なサンプルに遭遇する多くの分析者にとって、Omnianは、定量的分析、迅速なスクリーニング、研究開発、故障解析、比較解析など、さまざまな用途で有用であることが実証されています。 直感的なユーザーインターフェースにより、経験豊富なユーザーは、数多く用意された分析オプションから任意で選択し、専用のキャリブレーションされた方法を上回る、結果を得るための優れた方法を簡単に実行することができます。 たとえば、Adaptive Sample Characterization (ASC)の微調整機能により、類似する標準物質を追加および測定する場合、スタンダードレスまたは半定量化パッケージによる結果を大幅に上回る、正確な結果を生み出すことができます。 

仕様

簡単な使用と統合

Omnianはあらゆるユーザーが使用できるように設計されています。 シンプルなユーザーインターフェースによる、分析、データ検索、スペクトル表示に適した直感的なプラットフォームを提供します。 分析結果は簡単に、比較、印刷し、Microsoft Word形式にインポートして、レポート生成やLIMSへの転送に使用することもできます。