多角度光散乱法(MALS)

SEC-MALSでは、サンプルによって散乱した光を多くの角度で測定し、デバイプロットを作成します。デバイプロットでは、散乱するサンプルの角度依存性がモデル化されます。これは、クロマトグラム内ですべてのデータスライスにおけるMwとRgを判断するために使用します。 

重要なことに、この分析に選択する適合順序とモデルを慎重に考慮する必要があります。これは、結果に重大な影響を及ぼします。半径が10～15nmより小さい等方性散乱体は光をあらゆる方向に均等に散乱するため、Mwのみを測定できます。半径が10～15nmより大きい非等方性散乱サンプルは前方に多くの光を散乱するため、MwとRgの両方を測定できます。 

Rgを使用すると、確認プロット(Mwに対するRgのプロット)を生成し、サンプル間の構造的差異を測定できます。