입도, 입형, 제타 전위의 측정은 전자 산업에서 중요한데, 특히 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 기기와 같은 대부분의 전자 장비에서 사용되는 집적 회로의 원료 제조 과정에서 중요합니다. 하나의 과대 입자가 존재하는 것이 웨이퍼의 손상 또는 LCD 제품의 실패를 일으킬 수 있습니다.
연구와 설계 단계 전반에서 그리고 전자 부품의 제조와 품질 제어 시에, 말번의 산업과 응용분야에 관한 전문 지식이 결합되어 있고 사용이 간편한 말번의 기기장치를 이용하면 고객이 다음의 물질을 특성 분석하는 것이 가능합니다.
Mastersizer 시리즈전 세계에서 가장 널리 사용하는 입도분석기. |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | 입자 크기 |
| 입도 범위 | 0.01µm - 3500µm |
| 기술 유형 | 레이저 회절 |
| 분산 유형 | 습식, 건식, 습식 및 건식 |
Zetasizer 시리즈나노 입자, 콜로이드, 단백질 크기 및 전하 측정을 위해 세계에서 가장 많이 사용되는 시스템 |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | 분자 크기, 분자량, 입자 크기, 제타 전위 |
| 온도 범위 | 0°C - 120°C |
| 입도 범위 | 0.3nm - 10µm |
| 기술 유형 | 크기 배제 크래마토그래피 (SEC), 동적 광산란, 전기영동 광산란, 정적 광산란 |
| 분산 유형 | 습식 |
| 시료 셀 유형 | Cuvette |
| Molecular Measurement Type | Chromotography, Batch measurement |
Morphologi 시리즈수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술 |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기 |
| 입도 범위 | 0.5µm - 1000µm |
| 기술 유형 | 이미지 분석 |
2830 ZT고급 반도체 박막 계측학 솔루션 |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | 입자의 화학적 성분, 박막 계측학, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 원소 범위 | Be-U |
| 해상도(Mg-Ka) | 35eV |
| 샘플 처리량 | up to 25 wafers per hour |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 기술 유형 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
미소부위 분석용 Epsilon 1미소 분석을 통한 큰 그림 보기 |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 원소 범위 | Na-Am |
| 해상도(Mg-Ka) | 145eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| 샘플 처리량 | 40per 8h day - 80per 8h day |
| 기술 유형 | X-ray Fluorescence (XRF) |
Epsilon 4신속하고 정확한 앳라인 원소 분석 |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 원소 범위 | C-Am |
| 해상도(Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| 샘플 처리량 | 80per 8h day - 160per 8h day |
| 기술 유형 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Polymers plastics and paintsIncrease your polymer product consistency |
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| 자세한 내용은 | |
| 측정 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 기술 유형 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Mastersizer 시리즈전 세계에서 가장 널리 사용하는 입도분석기. |
Zetasizer 시리즈나노 입자, 콜로이드, 단백질 크기 및 전하 측정을 위해 세계에서 가장 많이 사용되는 시스템 |
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미소부위 분석용 Epsilon 1미소 분석을 통한 큰 그림 보기 |
Epsilon 4신속하고 정확한 앳라인 원소 분석 |
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| 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | |
| 측정 | 입자 크기 | 분자 크기, 분자량, 입자 크기, 제타 전위 | 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기 | 입자의 화학적 성분, 박막 계측학, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 입도 범위 | 0.01µm - 3500µm | 0.3nm - 10µm | 0.5µm - 1000µm | ||||
| 온도 범위 | 0°C - 120°C | ||||||
| 원소 범위 | Be-U | Na-Am | C-Am | ||||
| 해상도(Mg-Ka) | 35eV | 145eV | 135eV | ||||
| 샘플 처리량 | up to 25 wafers per hour | 40per 8h day - 80per 8h day | 80per 8h day - 160per 8h day | ||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | ||||
| 기술 유형 | 레이저 회절 | 크기 배제 크래마토그래피 (SEC), 동적 광산란, 전기영동 광산란, 정적 광산란 | 이미지 분석 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | X-ray Fluorescence (XRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
| 분산 유형 | 습식, 건식, 습식 및 건식 | 습식 | |||||
| 시료 셀 유형 | Cuvette | ||||||
| Molecular Measurement Type | Chromotography, Batch measurement |
Mastersizer 시리즈 |
Zetasizer 시리즈 |
Morphologi 시리즈 |
미소부위 분석용 Epsilon 1 |
Epsilon 4 |
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전 세계에서 가장 널리 사용하는 입도분석기. |
나노 입자, 콜로이드, 단백질 크기 및 전하 측정을 위해 세계에서 가장 많이 사용되는 시스템 |
수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술 |
미소 분석을 통한 큰 그림 보기 |
신속하고 정확한 앳라인 원소 분석 |
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| 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | 자세한 내용은 | |
| 측정 유형 | Particle size | Molecular size, Particle size, Molecular weight, Zeta potential | Particle shape, Particle size, Chemical identification | Contaminant detection and analysis, Elemental analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification, Contaminant detection and analysis |
| 입도 범위 | 0.01µm - 3500µm | 0.3nm - 10µm | 0.5µm - 1000µm | ||
| 온도 범위 | 0°C - 120°C | ||||
| 원소 범위 | Na-Am | C-Am | |||
| 샘플 처리량 | 40per 8h day - 80per 8h day | 80per 8h day - 160per 8h day | |||
| 해상도(Mg-Ka) | 145eV | 135eV | |||
| 기술 유형 | Laser Diffraction | Dynamic Light Scattering, Static Light Scattering, Size Exclusion Chromatography (SEC), Electrophoretic Light Scattering | Image analysis | X-ray Fluorescence (XRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
| LLD | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | |||
| 분산 유형 | Dry, Wet, Wet and Dry | Wet | |||
| 시료 셀 유형 | Cuvette | ||||
| 자세한 내용은 견적 요청 | 자세한 내용은 견적 요청 | 자세한 내용은 견적 요청 | 자세한 내용은 견적 요청 | 자세한 내용은 견적 요청 |
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