SDCOM

초고속 정밀도를 구현하는 방위각 스캔 방법

방위각 스캔 방법은 단 하나의 측정 원으로 결정 방향을 결정하는 데 필요한 모든 데이터를 수집하고, 단 몇 초의 매우 짧은 측정 시간 안에 높은 정밀도를 제공합니다.

샘플은 360^o 로 회전하며 X선 소스와 검출기가 회전당 특정한 반사 횟수를 얻을 수 있도록 배치됩니다. 이러한 반사를 통해 결정 격자의 방향이 회전축에 대해 짧은 시간 내에 높은 정밀도로 측정될 수 있습니다.

작은 사이즈 및 다양한 기능

SDCOM은 가볍고 크기가 작아서 쉽게 이동할 수 있으며, 연구나 산업 분야와 관계없이 공정에 쉽게 적용할 수 있습니다. XRD Suite 소프트웨어는 강력하면서도 직관적이어서 다양한 사용자가 편리하고 쉽게 조작할 수 있습니다.

유연성은 SDCOM의 주요 특징이며, 특히 측정 가능한 물질의 범위에서 이러한 특징이 잘 나타납니다. SDCOM은 크기가 1mm 이상인 결정을 측정할 수 있으며, 측정 가능한 물질의 예는 다음과 같습니다.

• 입방체(Cubic), 임의의 알 수 없는 방향: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
• 입방체(Cubic), 특수 방향: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC₃C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl₂O₄, SrTiO₃, LaTiO₃
• 정방정계(Tetragonal): MgF₂, TiO₂, SrLaAlO₄
• 육각형(Hexagonal) 및 삼각형(Trigonal): SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO₃, SiO₂(석영), Al₂O₃(사파이어), GaPO₄, La₃Ga₅SiO₁₄
• 사방정계(Orthorhombic): Mg₂SiO₄, NdGaO₃ 

또한 워크플로와의 호환성을 보장하는 다양한 샘플 홀더 및 이송 설비가 있으므로 SDCOM 응용 분야의 가능성을 더욱 확장할 수 있습니다. 수동 및 전동식 웨이퍼 매핑 스테이지도 사용할 수 있습니다.

사용자 친화적인 정밀도

SDCOM은 샘플에 따라 최대 0.01 ^o의 뛰어난 정밀도를 제공하며, 1mm 이상의 결정 크기를 측정할 수 있습니다. 한 번의 측정 회전에서 결정 방향을 완벽하게 분석하는 방위각 스캔 방법 덕분에 최고 속도에서도 정밀도를 유지할 수 있습니다. 측면 결정 방향 표시 기능을 포함하는 옵션도 있습니다.

수동 조작과 직관적인 소프트웨어 설계 덕분에 SDCOM은 다양한 유형의 사용자가 간편하게 사용할 수 있으므로 사용자 경험 수준이 다양한 연구 및 산업 분야 모두에서 실용적입니다.

비용 효율성

SDCOM의 X선관은 공냉식 냉각을 이용하므로 수냉식 냉각이 필요하지 않습니다. SDCOM의 효율성과 적은 설치 면적 덕분에 에너지 소비와 운영 비용을 최소화할 수 있습니다.