물질 연구에서 물질 샘플을 분석하는 과학자는 결정질 구성과 관련하여 궁금한 점이 많습니다. X선 회절(XRD)은 실험실에서 화학적 조성, 결정 구조, 결정질 크기, 변형, 우선 방위 및 층 두께 등 구조 정보를 확인할 수 있는 유일한 기법입니다. 따라서 물질 연구자는 XRD를 사용하여 분말 및 고체부터 박막 및 나노 물질까지 광범위한 물질을 분석합니다.

과학 및 산업

과학 실험실뿐만 아니라 산업 실험실에서도 신물질을 개발하거나 생산 효율을 개선하는 도구로 X선 회절을 활용하는 연구자가 많습니다. X선 회절의 혁신은 반도체 기술 또는 의약품 조사와 같은 신물질에 대한 연구와 흡사합니다. 산업 연구는 생산 공정의 계속 증가하는 속도와 효율을 추구합니다. 채광 및 건축 자재 생산 현장에서 X선 회절 분석을 완전히 자동화하면 더욱 경제적인 생산 관리 솔루션이 제공됩니다.

분석적 질문에 대한 솔루션

X선 회절 분석은 물질 과학자의 분석 필요성을 다수 충족합니다. 분말에서는 화학적 상이 정량적으로 식별될 뿐만 아니라 정성적으로도 식별됩니다. 고분해능 X선 회절에서는 반도체 박막의 조성, 두께, 거칠기 및 밀도 등 층 매개변수를 드러냅니다. 소각 X선 산란 및 쌍 분포 함수(PDF) 분석을 통해 나노 물질의 구조적 특성을 분석할 수 있습니다. 광범위한 고형 물체 및 가공된 구성 요소에서 응력 및 우선 방위를 결정할 수 있습니다.

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