導出計數率 – 這是什麼？

在動態光散射（DLS）中，我們通常關注的是強度波動的水平，但在分析之前，我們需要確保信號良好。信號強度即是散射強度，其單位通常以光子每秒計算，更常見的是像Zetasizer中以每秒千計數（kcps）為單位。到達探測器的實際平均光子數也稱為平均計數率、實際計數率，或者僅指為散射強度。

什麼是平均計數率？

如果Zetasizer的探測器在100秒的時間內收集了1,000,000個光子，那麼在該測量期間的平均計數率是1,000,000光子/ 100秒 = 10,000光子/秒 = 10 kcps。此數字代表測量期間的平均散射強度，針對該 特定樣本在特定儀器和特定光學設置下的實驗所得。在實際樣本中，平均計數率可能要高得多，通常在200 – 500 kcps之間。Zetasizer具有非常大的動態範圍，這意味著它可以檢測到非常低濃度及非常高濃度樣本的散射。系統內部使用的一個技巧是可以通過衰減器阻擋部分信號，因此即使對於敏感的光子探測器來說光線過多，仍然可以使用衰減器測量部分信號。

什麼是導出計數率？

如果在測量期間使用的衰減器僅允許0.3% 的光線通過，那麼測得的平均計數率將只有沒有衰減器時信號的0.3%。在Zetasizer中，可以使用一系列不同的衰減器，在自動模式下，系統會選擇衰減水平，以實現最佳200-500 kcps範圍內的平均計數率。在Zetasizer microV和APS中，有更多的微調選擇，因為激光強度也可以獨立調整。我們如何比較使用不同衰減水平測量的兩個樣本的信號強度？我們可以使用在100%激光功率和零衰減下的理論計數率。這稱為導出計數率（DCR），它是一個有用的指標來比較不同樣本的信號強度：導出計數率越高通常意味著濃度更高、顆粒更大，或濃度和顆粒都更大。右側的表列出了不同衰減器位置及其相應的衰減或透射等級。還有一個較舊的常見問題 -導出計數率是什麼? 如需在您的軟件中顯示導出計數率，查閱提到的「如何顯示自定義參數」中的常見問題。

示例 1：如果樣本的平均計數率為200 kcps，而Zetasizer使用的衰減器的衰減為0.3%，那麼導出計數率將為100 kcps / 0.3% = 100 kcps / 0.003 = 33,333 kcps。

示例 2：如果樣本的平均計數率為150 kcps，而Zetasizer microV使用的衰減器的衰減為0.1%且激光功率為10%，那麼導出計數率將為150 kcps / 0.1% / 10% = 150 kcps / 0.001 / 0.1 = 1,500,000 kcps

這與SLS有什麼關係？

原則上，在一個理想的樣品中，導出計數率可用於靜態光散射（SLS），其中作為樣品濃度的函數的散射可以導出分子量和第二維里係數（A2或B22）。在實際實驗情況中，靜態光散射通常通過固定所有衰減參數來避免任何衰減係數的不確定性。此外，由於在SLS中我們通常針對樣品中的最小散射體，通常會將強度平均到多個短子運行過程中（〜20毫秒，然後在消除異常值後取平均值），而不是DLS中較長的相關持續時間（〜10秒，其中所有內容都有貢獻）。

如何顯示導出計數率？

選擇一個工作區，例如尺寸工作區，然後編輯它 – 記錄視圖參數 – 測量 – 尺寸 – 導出計數率，使用右箭頭將其移動到工作區中。然後將在尺寸工作區中顯示每個尺寸記錄的導出計數率。

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