WROXI-REE 校正標準品

用於 XRF 精準稀土元素分析的合成氧化物設定標準品

WROXI-REE 校正標準品

寬廣範圍氧化物稀土元素 (WROXI REE) 套組將歷經驗證的 WROXI 平台延伸至稀土元素 (REE) 分析領域,為跨礦石與精礦的 X 光螢光光譜儀 (XRF) 分析提供穩健的校正解決方案。

由於 REE 礦石的礦物組成多變、濃度範圍廣泛,加上合適的參考物質供應有限,使得 REE 分析本質上極具挑戰性。WROXI REE 透過合成的氧化物設定標準品克服了這些挑戰,可提供一致的品質、最佳化的效能以及長期穩定的供應。

作為 Malvern Panalytical 稀土元素統包解決方案的一部分,它能減少開發分析法所需耗費的時間與資源,實現精準且具可信度的分析結果。

專為 REE 的複雜性所設計

稀土元素具備高經濟價值,但加工難度極高;因為它們在礦石中的濃度通常很低,且需要高強度的加工流程才能進行分離。為抓住機遇並確保經濟高效的提煉,REE 生產商需要高精度的分析。 

WROXI REE 專為此目所設計。它可以:

  • 涵蓋從低品位礦石 (<10% REO) 到高品位精礦 (>60%) 的完整作業流程
  • 包含 REE 與關鍵基質元素
  • 支援跨多種材料類型的單一校正策略

因此可讓您從探勘到生產的各個階段都能獲得一致的分析結果。

合成 WROXI REE 標準品的優點

與衍生自天然材料的傳統驗證參考物質 (CRM) 不同,WROXI REE 標準品採用高純度氧化物精心配製而成,能確保卓越的品質控制與重現性。

這種合成設計提供了顯著優勢:

  • 均質且可追溯的成分
  • 針對譜線重疊最佳化的材料,可提升 XRF 準確度
  • 具有彈性且可針對特定應用客製化的校正設計
  • 穩定的供應,無耗盡風險。

這種校正方法不僅目前穩健可靠,更能前瞻未來需求。

完整的元素涵蓋範圍

WROXI REE 可針對含 REE 的材料實現貼近實際需求的多元素校正。您將獲得:

  • 包含全部 17 種稀土元素
  • 單一校正即可涵蓋多達 40 種元素
  • 測量範圍涵蓋微量 (~0.01%) 至主要濃度

除了 REE 之外,亦納入關鍵的基質與雜質元素 (如 Fe、Si、Ca、Th、U),以確保能精準校正真實樣品的成分。

針對 XRF 效能進行最佳化

WROXI REE 專為簡化校正並提升波長分散式 X 光螢光分析儀 (WDXRF,例如我們的 Zetium 光譜儀) 的分析可靠性而設計。

主要優勢:

  • 透過精心調配的成分減少光譜干擾
  • 所需的標準品數量更少,降低校正複雜度
  • 改善基質校正與譜線重疊修正
  • 在不同樣品類型間保持一致的效能

這能實現更快速的設定以及更穩定的例行性操作。

REE 統包解決方案的一部分

WROXI REE 已完全整合至 Malvern Panalytical 的REE 統包解決方案中,將標準品、熔融法與 XRF 分析法結合為一套經過驗證的工作流程。

該解決方案包含:

  • 校正標準品 (WROXI REE)
    可實現簡化且穩健校正的合成最佳化標準品

  • 熔融法樣品製備
    針對 REE 基質最佳化的調配配方
    典型熔融時間:20–25 分鐘

  • Zetium 專用 XRF 分析法
    適用於礦石與精礦的單一分析法
    可在 ~45 分鐘內完成 ~40 種元素的測量
    包含漂移校正與基質修正

此組合方法能最大程度減少設定時間,並確保一致且經過驗證的分析效能。

值得您信賴的品質

WROXI REE 標準品由 Malvern Panalytical 位於英國諾丁罕的設備製造,遵循下列國際公認標準:

  • 符合 ISO 17034 認證的 CRM 生產
  • 符合 ISO 17025 規範的分析能力

這可確保分析結果具可追溯性、重現性,並隨時可供稽核。

產品優勢

WROXI REE 可在分析、營運與商業層面上創造價值:

分析效能
  • 在複雜基質中展現高度準確性
  • 透過氧化物標準品降低基質效應
  • 提供可靠且具可信度的資料
營運效益
  • 大幅簡化分析法開發流程,加速實作進度
  • 簡化作業流程並減少所需的標準品數量
  • 單一分析法即可適用於多種材料
商業價值
  • 改善流程控制與回收率
  • 透過精準分析提升產品價值評估
  • 降低總持有成本

為什麼選擇 WROXI REE?

WROXI REE 結合了 WROXI 概念的優勢與專為 REE 打造的校正策略。它為面臨精準稀土分析需求日益增加的實驗室,提供完整且具備前瞻性的解決方案。

它可提供:

  • 完整的 REE 與多元素涵蓋範圍
  • 合成、一致且可靠的標準品
  • 最佳化的 XRF 校正效能
  • 整合至經過完整驗證的作業流程中

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