Aeris Guía de usuario
版本号: 8
了解 Aeris XRD 如何改變採礦、金屬等領域的材料分析. 了解更多
了解更多Aeris 金属版是是马尔文帕纳科为该行业用户打造的X射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面，可以直接显示您需要的所有结果。
同时，Aeris金属版还具有非常低的运行成本。低功耗、非常高的射线管使用寿命和有限的基础设施要求确保该仪器的运行成本很低。
Aeris 金属版是您在生产过程中的每个阶段（从原材料到最终产品）的得力助手
X 射线衍射 (XRD) 是炼钢工艺每一步的关键技术。 这是一种用于快速、准确地对炼钢过程中采用的原料和中间产品（如铁矿石、烧结矿和直接还原铁）进行材料表征的重要工具。
应用 XRD 分析同时还是最终产品质量控制的理想选择，因其可以快速、准确地进行金属物相定量分析，如残余奥氏体。
快速分析可显著缩短反馈循环，并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品，Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。
分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终，Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。
直观的X射线衍射仪
借助内置触摸屏，只需轻点几下即可为您显示结果：
| 樣品加載 | 外部樣本裝載 |
|---|---|
| Sample holders | 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求 |
| 樣品更換 | 可選擇手動裝載台、6 位元進樣器或 67 位元大容量進樣器
|
| 自動化 | 與自動化整合相容 |
| 波长 | 銅或鈷 |
|---|---|
| Tube setting | 有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用 |
| Tube housing | 採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，穿透式，低掠角 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時) |
| Angle positioning | 直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度 |
| Scan Speed | 最高 2.17°/s |
| 解决方案 | 在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 旋轉器載台選擇 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 免對準的 PreFIX 載台交換 |
| Special stages | 依要求 (手動、MPSS、原位) |
| 偵測器 | 可在 PIXcel1D 和 1Der 偵測器之間選擇 |
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 封閉式系統與外部樣本裝載 |
| External cooling water supply | 不需要 |
| Compressed air supply | 不需要 |
| 电源 | 100 – 240 V，單相 |
| 計算機 | 內部儀器 PC |
| 操作 | 直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕 |
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
一維檢測的終極多功能性和數據清晰度
Medipix 技術作為專用條帶檢測器
適用於物相鑒定等應用的全譜圖方法
晶體學分析等應用的理想工具
Reference databases
無人值守，自動運轉的高通量 XRD 分析全新解決方案
For a highly stable focal spot position
The world’s standard for X-ray diffraction
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
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Malvern Panalytical 提供多項產品服務，以確保您的儀器保持在最佳狀態，發揮一流的性能，我們的應用專家和技術支援服務團隊能確保您的儀器在最佳狀態下運作。
完整維修
為您的作業流程增加更多價值
Aeris 金属版是是马尔文帕纳科为该行业用户打造的X射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面，可以直接显示您需要的所有结果。
同时，Aeris金属版还具有非常低的运行成本。低功耗、非常高的射线管使用寿命和有限的基础设施要求确保该仪器的运行成本很低。
Aeris 金属版是您在生产过程中的每个阶段（从原材料到最终产品）的得力助手
X 射线衍射 (XRD) 是炼钢工艺每一步的关键技术。 这是一种用于快速、准确地对炼钢过程中采用的原料和中间产品（如铁矿石、烧结矿和直接还原铁）进行材料表征的重要工具。
应用 XRD 分析同时还是最终产品质量控制的理想选择，因其可以快速、准确地进行金属物相定量分析，如残余奥氏体。
快速分析可显著缩短反馈循环，并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品，Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。
分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终，Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。
直观的X射线衍射仪
借助内置触摸屏，只需轻点几下即可为您显示结果：
| 樣品加載 | 外部樣本裝載 |
|---|---|
| Sample holders | 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求 |
| 樣品更換 | 可選擇手動裝載台、6 位元進樣器或 67 位元大容量進樣器
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| 自動化 | 與自動化整合相容 |
| 波长 | 銅或鈷 |
|---|---|
| Tube setting | 有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用 |
| Tube housing | 採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，穿透式，低掠角 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時) |
| Angle positioning | 直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度 |
| Scan Speed | 最高 2.17°/s |
| 解决方案 | 在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 旋轉器載台選擇 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 免對準的 PreFIX 載台交換 |
| Special stages | 依要求 (手動、MPSS、原位) |
| 偵測器 | 可在 PIXcel1D 和 1Der 偵測器之間選擇 |
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 封閉式系統與外部樣本裝載 |
| External cooling water supply | 不需要 |
| Compressed air supply | 不需要 |
| 电源 | 100 – 240 V，單相 |
| 計算機 | 內部儀器 PC |
| 操作 | 直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕 |
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
一維檢測的終極多功能性和數據清晰度
Medipix 技術作為專用條帶檢測器
適用於物相鑒定等應用的全譜圖方法
晶體學分析等應用的理想工具
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無人值守，自動運轉的高通量 XRD 分析全新解決方案
For a highly stable focal spot position
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版本号: 8
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版本号: 6
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版本号: 3
版本号: 2
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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