了解 Aeris XRD 如何改變採礦、金屬等領域的材料分析. 了解更多
了解更多Aeris 矿产版是马尔文帕纳科为采矿行业所有用户打造的 X 射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。它占地面积小且无需压缩空气或冷却水,对基础设施的要求很低。与落地式 X 射线衍射系统相比,Aeris 的功耗要低得多。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面,可以直接显示您需要的所有结果。
专为采矿应用配置
XRD 为湿法冶金模型提供准确的矿物监测和输入信息,确保获得较为经济的加工条件。
Aeris 矿产版是您在生产过程中的每个阶段(从原材料到最终产品)的得力助手。
快速分析可显著缩短反馈循环,并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品,Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。
分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终,Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。
直观的X射线衍射仪
借助内置触摸屏,只需轻点几下即可为您显示结果:
| 樣品加載 | 外部樣本裝載 |
|---|---|
| Sample holders | 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求 |
| 樣品更換 | 可選擇手動裝載台、6 位元進樣器或 67 位元大容量進樣器
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| 自動化 | 與自動化整合相容 |
| 波长 | 銅或鈷 |
|---|---|
| Tube setting | 有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用 |
| Tube housing | 採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
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| Base configuration | 垂直測角儀,耦合與去耦合 θ-θ,樣本恆為水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano,穿透式,低掠角 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器,並具備完整有效偵測器長度時) |
| Angle positioning | 直接光學位置感測 (DOPS3),具備恆常定位準確度 |
| Scan Speed | 最高 2.17°/s |
| 解决方案 | 在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 旋轉器載台選擇 |
|---|---|
| Non-ambient | 加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 免對準的 PreFIX 載台交換 |
| Special stages | 依要求 (手動、MPSS、原位) |
| 偵測器 | 可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇 |
| 尺寸: | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 封閉式系統與外部樣本裝載 |
| External cooling water supply | 不需要 |
| Compressed air supply | 不需要 |
| 电源 | 100 – 240 V,單相 |
| 計算機 | 內部儀器 PC |
| 操作 | 直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕 |
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
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