了解 Aeris XRD 如何改變採礦、金屬等領域的材料分析. 了解更多

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Aeris 矿产版

优化矿石处理

  • 高精度桌上型 XRD 系統
  • 專為採礦業量身定制
  • 全自動系統
  • 輕鬆融入工業生產控制

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概述

Aeris 矿产版是马尔文帕纳科为采矿行业所有用户打造的 X 射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。它占地面积小且无需压缩空气或冷却水,对基础设施的要求很低。与落地式 X 射线衍射系统相比,Aeris 的功耗要低得多。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面,可以直接显示您需要的所有结果。

专为采矿应用配置

XRD 为湿法冶金模型提供准确的矿物监测和输入信息,确保获得较为经济的加工条件。

Aeris 矿产版是您在生产过程中的每个阶段(从原材料到最终产品)的得力助手。

特点

无缝集成至自动化系统

  • 可自动化的台式衍射仪,实现强大的样品分析能力: Aeris 可连接至传送带或机械手,快速地自动处理样品。 
  • 技术组合的力量: Aeris 和 Zetium 构成组合式解决方案,可将来自 Zetium 的化学成分信息交由 Aeris 进行物相鉴定,从而提供全面的材料表征。 
  • 专为您的需求量身定制的工业标准样品杯: 51.5 mm 样品杯集合 / 40 mm 样品杯

快速分析,更长的正常运行时间

快速分析可显著缩短反馈循环,并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品,Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。

分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终,Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。

坚固耐用

  • 坚固的设计: 采用外部样品加载以实现仪器中心终极防尘的台式 XRD 仪器。
  • 对基础设施的要求很低: 无需冷却水、冷却器或压缩空气 - 仅需一个单相电源插座。
  • 适用于工业: 符合常用工业标准;从 LIMS 接口协议到各种工业标准样品杯。

轻松触控

直观的X射线衍射仪 

借助内置触摸屏,只需轻点几下即可为您显示结果:

  1. 放置样品
  2. 选择测量程序
  3. 查看结果

規格

樣本處理

樣品加載 外部樣本裝載
Sample holders 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求
樣品更換
可選擇手動裝載台、6 位元進樣器或 67 位元大容量進樣器
自動化
與自動化整合相容

X 光產生

波长
銅或鈷
Tube setting
有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
Tube housing
採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。

測角儀

Base configuration
垂直測角儀,耦合與去耦合 θ-θ,樣本恆為水平
Geometry
Bragg-Brentano,穿透式,低掠角
Radius
145 mm
Maximum 2θ range
-4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器,並具備完整有效偵測器長度時)
Angle positioning
直接光學位置感測 (DOPS3),具備恆常定位準確度
Scan Speed
最高 2.17°/s
解决方案
在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ
2θ linearity
< 0.04° 2θ
Smallest addressable increment
0.001 °

載台 / 偵測器

Spinning
旋轉器載台選擇
Non-ambient
加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
Exchange of stages
免對準的 PreFIX 載台交換
Special stages
依要求 (手動、MPSS、原位)
偵測器
可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇

一般

尺寸:
690 x 770 x 786 mm
Dust protection
封閉式系統與外部樣本裝載
External cooling water supply
不需要
Compressed air supply
不需要
电源
100 – 240 V,單相
計算機
內部儀器 PC
操作
直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
界面 LAN, USB, HDMI

配件

检测器

1Der

一維檢測的終極多功能性和數據清晰度

1Der 是最新加入的 X 射線繞射 (XRD) 固態偵測器系列產品。結合無與倫比的光學配置,1Der 可無縫整合至 XRD 平台中,將易用性、最高的靈活性以及數據清晰度完美結合,適用於所有 0D 與 1D 應用。

1Der 與用於 EmpyreanAeris 的所有 X 射線光源相容。

PIXcel1D

Medipix 技術作為專用條帶檢測器

使用 PIXcel1D 偵測器,您將擁有一款專用於 0D 和 1D 應用的條狀偵測器。與傳統的點偵測器相比,其測量速度可快達 255 倍,同時不會影響數據品質。無需冷卻水、液態氮流、計數氣體或耗時的校準,是一種具成本效益的解決方案。

憑藉無與倫比的解析度和動態範圍,PIXcel1D 可用於我們所有的 繞射儀

软件

HighScore

適用於物相鑒定等應用的全譜圖方法

無論您是對製程改良,還是對研發感興趣,瞭解材料往往要從瞭解粉末繞射譜圖開始。

當 Malvern Panalytical通過x光繞射儀闡釋您獲得的最佳粉末繞射譜圖時,您最關心的問題之一是鑒定樣品所含物質。HighScore 適用於物相鑒定、半定量物相分析、譜圖處理、輪廓擬合等分析的理想軟體。 該套件包含許多功能,用於顯示、操作和評估繞射數據。HighScore 可以處理所有 Malvern Panalytical XRD 數據格式以及其他供應商提供的大多數繞射譜圖。 

HighScore Plus

晶體學分析等應用的理想工具

無論您是對製程改良,還是對研發感興趣,瞭解材料往往要從瞭解粉末繞射譜圖開始。

在使用 Malvern Panalytical 的 HighScore 識別樣品中的所有物相後,這款包含 Plus 選件的一體化軟體套件將繼續為您的分析提供支援。 無論您關注的定量處理是否使用 Rietveld 法、輪廓擬合或譜圖處理,HighScore Plus 都是幫您執行日常分析的理想解決方案。 

我們自豪地向您展示由我們的客戶——美國田納西大學的JIAM Diffraction Facility所錄製的教學影片。向下滾動,觀看更多影片。 

Search-match

Reference databases

Phase identification by X-ray diffraction means comparing unknown measured data with known reference data. This reference data is usually taken from one or several databases. The comparison process is often called search-match as well.

The quality and the contents of the different reference databases vary considerably, depending on the data quality and on the editorial process. Generally speaking there is a relation between price and quality.

樣品處理

高容量樣品交換器

對於高通量環境,Aeris 高容量樣品交換器 是理想選擇。其經過驗證的機器人樣品處理技術可實現超過 60 個樣品的無人值守分析,提高 50% 的資源使用效率。

更多資訊
高容量樣品交換器

自動樣品處理

Aeris 可完全整合至透過 UAI 介面運行的多系統自動化實驗室。樣品可透過連接到自動化交換器的輸送帶自動傳輸,或由機械臂直接放置於交換器平台上。

自動樣品處理

6 位樣品交換器

6 位樣品交換器可同時處理 6 個樣品,提高效率並減少操作人員的干預頻率。非常適合中等通量的實驗室。

6 位樣品交換器

手動樣品裝載

對於樣品量較低或更換不頻繁的用戶,外部樣品平台允許裝載與更換單一樣品,同時仍可利用自動轉移功能,將樣品準確送入 XRD 測量區域,確保每次測量的精確性。

手動樣品裝載

X 光管

X 光管

Malvern Panalytical 提供多樣化 X 光管。

更多資訊
X 光管

使用者手冊

軟體下載

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

支援

各項服務

為您帶來最大投資效益的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能,我們的應用專家和技術支援服務團隊能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析法開發 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP,ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程
佔用面積小,但效能不容小覷。

佔用面積小,但效能不容小覷。

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