Aeris Guía de usuario
版本号: 8
概述
結合了高利用率和高性能，讓您在實驗室的工作進入全新境界.
提供更好的數據結果和更深入的見解，讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識，乃至推動科學領域的發展。
讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究
無論您研究的材料為何，快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。
只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測，再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。
支援多元化的量測配置，包括反射式、穿透式以及低掠角薄膜 X 光繞射 (GIXRD) 實驗，讓您即時掌握所有多晶體材料的最佳量測數據。
一「觸」可及
最直覺操作的 X 光繞射儀
Aeris 是一款容易操作且人性化的桌上型 X 光繞射儀。Aeris 的操作相當直覺，它讓 X 光繞射儀變得簡單到每個人都能輕易上手。使用者介面採用獨特的觸控螢幕，讓您能不費吹灰之力完成整個樣品測試。
只要按幾下，就能得到結果：
- 放上您的樣品
- 選擇量測程式
- 查看結果
同級最佳性能
超乎您的預期
Aeris 是您對粉末樣品進行快速、可靠的相鑑定和 Rietveld 分析的主力。
由於採用了在 Malvern Panalytical 先進系統上的優勢技術，Aeris 研究專用機型提供了以往只能在立地型 XRD 才能獲取的數據品質。
理想的教學工具
您可以利用 2D 偵測器的量測結果，以視覺化的方式教導 X 光粉末繞射的基本原理。
快速、靈活，面對未來的任何挑戰
Aeris 相當靈活，能解決各種粉末繞射測量的需求。
可以結合自動進樣機械手臂並可相容各種類型的樣品座，也可以搭配BTS 500 桌上型溫控樣品載台進行變溫量測。
只需要最簡單的基礎設施
不須外接冷却水、不須高壓空氣。
您唯一需要準備的是一個單相電源插座。
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
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