Aeris 研究專用機型 0
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Aeris 研究專用機型

精準的晶相分析結果

  • 您在實驗室中快速掃描的伴侶
  • 高精度桌上型 XRD 系統
  • 全自動系統
  • 易於使用的軟體選項可快速獲得結果

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概述

結合了高利用率和高性能，讓您在實驗室的工作進入全新境界.

提供更好的數據結果和更深入的見解，讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識，乃至推動科學領域的發展。

讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究

無論您研究的材料為何，快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。

只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測，再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。

支援多元化的量測配置，包括反射式、穿透式以及低掠角薄膜 X 光繞射 (GIXRD) 實驗，讓您即時掌握所有多晶體材料的最佳量測數據。

一「觸」可及

最直覺操作的 X 光繞射儀 

Aeris 是一款容易操作且人性化的桌上型 X 光繞射儀。Aeris 的操作相當直覺，它讓 X 光繞射儀變得簡單到每個人都能輕易上手。使用者介面採用獨特的觸控螢幕，讓您能不費吹灰之力完成整個樣品測試。

只要按幾下，就能得到結果：

  1. 放上您的樣品
  2. 選擇量測程式
  3. 查看結果

同級最佳性能

超乎您的預期 

Aeris 是您對粉末樣品進行快速、可靠的相鑑定和 Rietveld 分析的主力。

由於採用了在 Malvern Panalytical 先進系統上的優勢技術，Aeris 研究專用機型提供了以往只能在立地型 XRD 才能獲取的數據品質。

理想的教學工具

您可以利用 2D 偵測器的量測結果，以視覺化的方式教導 X 光粉末繞射的基本原理。 

快速、靈活，面對未來的任何挑戰

Aeris 相當靈活，能解決各種粉末繞射測量的需求。

可以結合自動進樣機械手臂並可相容各種類型的樣品座，也可以搭配BTS 500 桌上型溫控樣品載台進行變溫量測。

只需要最簡單的基礎設施

不須外接冷却水、不須高壓空氣。

您唯一需要準備的是一個單相電源插座。

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann

規格

樣本處理

樣品加載 外部樣本裝載
Sample holders 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求
樣品更換
可選擇手動裝載台、6 位元進樣器或 67 位元大容量進樣器
自動化
與自動化整合相容

X 光產生

波长
銅或鈷
Tube setting
有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
Tube housing
採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。

測角儀

Base configuration
垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平
Geometry
Bragg-Brentano，穿透式，低掠角
Radius
145 mm
Maximum 2θ range
-4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時)
Angle positioning
直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度
Scan Speed
最高 2.17°/s
解决方案
最高 2.17°/s
2θ linearity
< 0.04° 2θ
Smallest addressable increment
0.001 °

載台 / 偵測器

Spinning
旋轉器載台選擇
Non-ambient
加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
Exchange of stages
免對準的 PreFIX 載台交換
Special stages
依要求 (手動、MPSS、原位)
偵測器
可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇

一般

尺寸：
690 x 770 x 786 mm
Dust protection
封閉式系統與外部樣本裝載
External cooling water supply
不需要
Compressed air supply
不需要
电源
100 – 240 V，單相
計算機
內部儀器 PC
操作
直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
界面 LAN, USB, HDMI

配件

偵測器

1Der

一維檢測的終極多功能性和數據清晰度

1Der 是最新加入的 X 射線繞射 (XRD) 固態偵測器系列產品。結合無與倫比的光學配置，1Der 可無縫整合至 XRD 平台中，將易用性、最高的靈活性以及數據清晰度完美結合，適用於所有 0D 與 1D 應用。

1Der 與用於 Empyrean 和 Aeris 的所有 X 射線光源相容。

PIXcel1D

Medipix 技術作為專用條帶檢測器

使用 PIXcel1D 偵測器，您將擁有一款專用於 0D 和 1D 應用的條狀偵測器。與傳統的點偵測器相比，其測量速度可快達 255 倍，同時不會影響數據品質。無需冷卻水、液態氮流、計數氣體或耗時的校準，是一種具成本效益的解決方案。

憑藉無與倫比的解析度和動態範圍，PIXcel1D 可用於我們所有的 繞射儀。

PIXcel3D

第一部為X光繞射儀提供 0D-1D-2D 和 3D 數據的偵測器

PIXcel3D 是獨特的 2D 固態混合像素偵測器。每個像素為 55 um x 55 um，偵測器陣列為 256 x 256 像素。由目前 Medipix3 技術支援的偵測器，可藉由單一像素的點散布函數和多重能量鑑別提供無與倫比的訊雜比。

軟體

HighScore

適用於物相鑒定等應用的全譜圖方法

無論您是對製程改良，還是對研發感興趣，瞭解材料往往要從瞭解粉末繞射譜圖開始。

當 Malvern Panalytical通過x光繞射儀闡釋您獲得的最佳粉末繞射譜圖時，您最關心的問題之一是鑒定樣品所含物質。HighScore 適用於物相鑒定、半定量物相分析、譜圖處理、輪廓擬合等分析的理想軟體。 該套件包含許多功能，用於顯示、操作和評估繞射數據。HighScore 可以處理所有 Malvern Panalytical XRD 數據格式以及其他供應商提供的大多數繞射譜圖。 

HighScore Plus

晶體學分析等應用的理想工具

無論您是對製程改良，還是對研發感興趣，瞭解材料往往要從瞭解粉末繞射譜圖開始。

在使用 Malvern Panalytical 的 HighScore 識別樣品中的所有物相後，這款包含 Plus 選件的一體化軟體套件將繼續為您的分析提供支援。 無論您關注的定量處理是否使用 Rietveld 法、輪廓擬合或譜圖處理，HighScore Plus 都是幫您執行日常分析的理想解決方案。 

我們自豪地向您展示由我們的客戶——美國田納西大學的JIAM Diffraction Facility所錄製的教學影片。向下滾動，觀看更多影片。 

Search-match

Reference databases

Phase identification by X-ray diffraction means comparing unknown measured data with known reference data. This reference data is usually taken from one or several databases. The comparison process is often called search-match as well.

The quality and the contents of the different reference databases vary considerably, depending on the data quality and on the editorial process. Generally speaking there is a relation between price and quality.

XRD2DScan

將 2D 資料視覺化並進行轉換

XRD2DScan 是 Malvern Panalytical 推出的一款軟體套件，適用於視覺化、修正、整合、轉換及分析 2D 繞射資料。 

環境控制樣品載台

BTS 150/500 – benchtop heating stages

Cost-effective attachment for non-ambient XRD

Anton Paar BTS 150 and BTS 500 benchtop heating stages are compact and cost-effective solutions for basic non-ambient X-ray diffraction experiments in reflection geometry. BTS 150 is equipped with a Peltier heating element enabling a temperature range from – 10 ºC to 150 ºC. The resistance heater of BTS 500 allows the heating of a sample from ambient temperature up to 500 ºC. Both heating stages can be used with an air, vacuum or inert gas atmosphere. A thermocouple is placed close to the sample for accurate temperature measurement and control. An optional beam knife can be used to minimize low- angle background.

X 光管

X 光管

Malvern Panalytical 提供多樣化 X 光管。

更多資訊
X 光管

樣品處理

高容量樣品交換器

對於高通量環境，Aeris 高容量樣品交換器 是理想選擇。其經過驗證的機器人樣品處理技術可實現超過 60 個樣品的無人值守分析，提高 50% 的資源使用效率。

更多資訊
高容量樣品交換器

自動樣品處理

Aeris 可完全整合至透過 UAI 介面運行的多系統自動化實驗室。樣品可透過連接到自動化交換器的輸送帶自動傳輸，或由機械臂直接放置於交換器平台上。

自動樣品處理

6 位樣品交換器

6 位樣品交換器可同時處理 6 個樣品，提高效率並減少操作人員的干預頻率。非常適合中等通量的實驗室。

6 位樣品交換器

手動樣品裝載

對於樣品量較低或更換不頻繁的用戶，外部樣品平台允許裝載與更換單一樣品，同時仍可利用自動轉移功能，將樣品準確送入 XRD 測量區域，確保每次測量的精確性。

手動樣品裝載

使用者手冊

軟體下載

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

支援

各項服務

為您帶來最大投資效益的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務，以確保您的儀器保持在最佳狀態，發揮一流的性能，我們的應用專家和技術支援服務團隊能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析法開發 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP，ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程
佔用面積小，但效能不容小覷。

佔用面積小，但效能不容小覷。

快速的高品質 XRD，針對您的需求訂製。可立即進行自動化與整合。採用現代化精巧設計。

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