Aeris 研究專用機型

精準的晶相分析結果

您在實驗室中快速掃描的伴侶
高精度桌上型 XRD 系統
全自動系統
易於使用的軟體選項可快速獲得結果

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概述

結合了高利用率和高性能，讓您在實驗室的工作進入全新境界.

提供更好的數據結果和更深入的見解，讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識，乃至推動科學領域的發展。

讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究

無論您研究的材料為何，快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。

只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測，再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。

透過包括 X 射線反射率測量（XRR）、反射模式、透射模式及掠入射 X 射線繞射（GIXRD）在內的量測配置，您可獲得任何類型多晶材料的最佳分析數據。

一「觸」可及

最直覺操作的 X 光繞射儀

Aeris 是一款容易操作且人性化的桌上型 X 光繞射儀。Aeris 的操作相當直覺，它讓 X 光繞射儀變得簡單到每個人都能輕易上手。使用者介面採用獨特的觸控螢幕，讓您能不費吹灰之力完成整個樣品測試。

只要按幾下，就能得到結果：

放上您的樣品
選擇量測程式
查看結果

同級最佳性能

超乎您的預期

Aeris 是您對粉末樣品進行快速、可靠的相鑑定和 Rietveld 分析的主力。

由於採用了在 Malvern Panalytical 先進系統上的優勢技術，Aeris 研究專用機型提供了以往只能在立地型 XRD 才能獲取的數據品質。

理想的教學工具

您可以利用 2D 偵測器的量測結果，以視覺化的方式教導 X 光粉末繞射的基本原理。

快速、靈活，面對未來的任何挑戰

Aeris 相當靈活，能解決各種粉末繞射測量的需求。

可以結合自動進樣機械手臂並可相容各種類型的樣品座，也可以搭配BTS 500 桌上型溫控樣品載台進行變溫量測。

只需要最簡單的基礎設施

不須外接冷却水、不須高壓空氣。

您唯一需要準備的是一個單相電源插座。

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann

規格

樣品加載	外部樣本裝載
Sample holders	各式全尺寸樣本載台能因應所有需求
樣品更換	可選擇手動裝載台、6 位元進樣器或 67 位元大容量進樣器
自動化	與自動化整合相容

波长	銅或鈷
Tube setting	有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
Tube housing	採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。 CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。

Base configuration	垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平
Geometry	Bragg-Brentano，穿透式，低掠角
Radius	145 mm
Maximum 2θ range	-4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時)
Angle positioning	直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度
Scan Speed	最高 2.17°/s
解决方案	最高 2.17°/s
2θ linearity	< 0.04° 2θ
Smallest addressable increment	0.001 °

Spinning	旋轉器載台選擇
Non-ambient	加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
Exchange of stages	免對準的 PreFIX 載台交換
Special stages	依要求 (手動、MPSS、原位)
偵測器	可在 PIXcel^1D、PIXcel^3D 和 1Der 偵測器之間選擇

尺寸：	690 x 770 x 786 mm
Dust protection	封閉式系統與外部樣本裝載
External cooling water supply	不需要
Compressed air supply	不需要
电源	100 – 240 V，單相
計算機	內部儀器 PC
操作	直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
界面	LAN, USB, HDMI

配件

偵測器
1Der

一維檢測的終極多功能性和數據清晰度
PIXcel1D

Medipix 技術作為專用條帶檢測器
PIXcel3D

第一部為X光繞射儀提供 0D-1D-2D 和 3D 數據的偵測器
軟體
HighScore

適用於物相鑒定等應用的全譜圖方法
HighScore Plus

晶體學分析等應用的理想工具
Search-match

Reference databases
XRD2DScan

將 2D 資料視覺化並進行轉換
環境控制樣品載台
BTS 150/500 – benchtop heating stages

Cost-effective attachment for non-ambient XRD
X 光管
C-Tech tube

For a highly stable focal spot position
XRD Glass Tube

The world’s standard for X-ray diffraction
樣品處理
Aeris 大容量樣品更換器

無人值守，自動運轉的高通量 XRD 分析全新解決方案