額外的樣品載台
透過專門設計來容納較小或較大晶體的額外樣品載台,可以測量不同製程階段中的各種尺寸樣品。
Omega/Theta XRD 是在可變半導體領域中判斷晶體方向最可靠且最具有前瞻性的工作夥伴。領導市場的精確度、超快測量速度及高階建構品質結合了自動化的力量,可確保您的製程對任何任務做好萬全準備。Omega/Theta XRD 為晶體方向與校準提供無與倫比的效率與精確度,是生產與研究應用方面的最佳選擇。
我們的方法只需要一個測量週期就能夠收集完全判斷方向的所有必要資料,可在幾秒的極短測量時間內達到高精確度。
在 Omega/Theta XRD 上進行的所有測量都以自動化方式完成,並且可在容易操作的 XRD 軟體中管理。透過各種 MES、SECS/GEM 與類似介面,儀器可以輕鬆整合到生產環境中的現有製程。
Omega/Theta XRD 可用於分析所有單一結晶材料的特性。常用材料有:
我們廣泛的配件提升了 Omega/Theta XRD 在各種應用的生產力,包括種子培養、研磨、切片到晶圓幾何端控制,即使這些需求隨著時間而改變,您也能隨時保持彈性。附加工具包括:
技術規格 | |
---|---|
X 光源 | 標準 X 光管,銅陽極 |
偵測器 | 閃爍計數器 (單或雙) |
樣品載台 | 用於樣品調整的精確轉台、安裝板與工具 |
晶體準直器 | 可用 |
定位分析 | 堅固耐用的定位分析台可用 |
軟體 | XRDStudio |
水冷 | 流量 – 4l/min,最大壓力 8 bar,T ≤ 30°C |
PC 工作站 | Windows 7 或最新版本、.NET Framework 更新 |
尺寸 | 高 1950 mm × 厚 820 mm × 寬 1200 mm |
重量 | ca,650 kg |
電源要求 | 208-240 V,16 A 單相,50-60 Hz |
認證 | 在 ISO 9001 指南之下製造,符合 CE 標準 |
透過專門設計來容納較小或較大晶體的額外樣品載台,可以測量不同製程階段中的各種尺寸樣品。
透過專用樣品調整工具輕鬆處理各種類型的樣品。
使用轉台上的額外 X-Y 定位台,將晶體方向或表面失真輕鬆定位分析到使用者定義的網格上。定位分析台可透過可自訂的表面掃描綜合探索完整樣品表面。
在使用切割與強化工具之前精確校準晶棒。高效堆疊台可在方位角掃描期間,於將完整堆疊傳輸去進行線切割之前校準晶棒。此平行切割方法具有極高的效率。
適用於生產製程的快速而精確的品質控制測量工具。搖擺曲線指示了晶格品質,可快速逐點評估,或搭配定位分析工具評估,以進行品質定位分析。光學方面也會進行自動化處理以便輕鬆進行開/關切換。
由於高品質的攝影相機與額外的影像處理功能,能夠更輕鬆地進行平邊與凹口偵測。
選購雷射掃描器可測量精確的樣品形狀,讓您更深入地瞭解您的材料。