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Epsilon Xline

連續卷對卷製程的線上控制

  • 具有在線功能的先進能量色散 XRF
  • 卷對卷 (R2R) 塗佈的即時監控
  • 直接分析以持續優化

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概覽

Epsilon Xline 結合了我們先進的能量分散式 XRF (EDXRF) 技術與線上功能。此先進解決方案能應用於捲對捲 (R2R) 塗佈製程，用以進行即時材料監測和製程控制。直接分析功能可用以針對材料成分和裝載持續進行最佳化，有助於將成品不符規格的情況降至最低，並且最大化成本效益。彈性靈活的 Epsilon Xline 可因應各種表面與元素，實現精準的製程控制。  

產品特色

  • 完全線上自動化。Epsilon Xline 適用於各種薄膜和塗佈應用，並且可與既有應用無縫整合，滿足您的連續 R2R 生產需求。 

  • 簡單又安全。不同於手持式或傳統儀器，Epsilon Xline 具備完整 X 光安全性，且易於使用，能提供高度精準的分析資料。 

  • 凝聚多年產業經驗。Epsilon Xline 係 Malvern Panalytical 運用自身在 元素分析 領域 70 多年以來的經驗，與產業合作夥伴合作開發而成，旨在因應當下生產需求，並進一步共同開展產業整體的未來。 

  • 產量最大化。利用無干擾的即時監測功能，直接取得優化營運所需的洞見並進行有效控制，實現具成本競爭力的生產效能。 

  • 最佳材料效率。我們的產業標準解決方案可以消弭不一致的情況、協助避免浪費寶貴材料，並確保產出高品質產品。 

  • 專利且經驗證的準確度。Epsilon Xline 與客戶共同開發測試，採用專利高度校正技術，可穩定執行分析，並提供準確的結果。 

為什麼選擇 Epsilon Xline？

  • 非破壞性的線上製程控制 - 無需採樣
  • 具備多種掃描模式，可因應片狀、連續，以及多通道塗佈製程
  • 使用標準通訊協定，輕鬆整合至生產製程 
  • 能夠測量所有重要元素，包括鉑和鈰 
  • 能夠以優異的精準度測量薄層
  • 可因應各種捲材寬度
  • 獨特的專利機械手臂，可將量測頭懸停於生產線上的多種不同方位，實現最佳距離控制

因應燃料電池生產的挑戰

由於鉑催化劑佔燃料電池總成本 20% 以上，因此需透過均勻散佈和一致性疊層來使催化劑塗佈達到最佳化。而快速、精準的製程監測就是最理想的解決方案！Epsilon Xline 可助您輕鬆實現高效率作業控制，讓您可以：  

  • 將產品不符規格的情況降至最低  
  • 避免浪費珍貴的鉑  
  • 生產具成本競爭力的最終產品 

製程中的元素分析

X 光螢光光譜技術  (XRF) 是一種非破壞性的元素分析技術，可用以在催化劑薄膜塗佈過程中進行線上監測，無需採樣，也不會產生化學或物理變化。  

由此產生的即時線上分析內容可用以快速最佳化許多製程參數和產品特性。 

可提供再現性高、準確的測量結果，且維護成本低

Epsilon Xline 以及所有其他 Epsilon 系列儀器所採用的技術係以最先進的激發與偵測技術為基礎研發而成，皆經驗證且相當實用。

精心設計的光程、可因應各式輕元素與重元素的廣泛激發能力，以及快速的高解析度 SDD 偵測器系統，共同締造 Epsilon Xline 優異的效能。這些創新設計讓本產品得以產生再現性高、極度準確的結果，且維護成本低廉。 

規格

樣品處理

样品类型
塗佈線
Coating types
連續、通道、片狀
Line speed continuous coating
最大每分鐘 30 m
Line speed patch coating
最大每分鐘 11 m

X 光管

Type
金屬陶瓷、側窗
50 µm (鈹)
Anode material 銀
Tube setting
軟體控制，適用電壓 4 - 50 kV，最大 3 mA，最大光管功率 15 W
X-Ray filtering
六種，軟體可選 (銅 300 µm；銅 500 µm；鋁 50 µm；鋁 200 µm；鈦 7 µm；銀 100 µm)

偵測器

Type
高解析度矽漂移偵測器 SDD10
窗: 8 µm (鈹)
解决方案
< 145 eV @ 5.9 keV/1000 cps
通常為 135 eV @ 5.9 keV/1000 cps

安全標準

Radiation levels
< 1 µSv/h，距離外側表面 10 cm 時

配件

內建連線能力

透過內建的 OPC 連接功能，將 Epsilon Xline 無縫整合至您的生產線。隨附的專用軟體套件可協助您根據不同材料和測量模式需求輕鬆架設 Epsilon Xline。只要在儀器上直接輸入指令或使用遠端控制台進行操作，即可在簡單易用的介面上顯示完整追蹤資料的概覽。  

Epsilon software

Analytical EDXRF software package for Epsilon benchtop systems

Epsilon software is the XRF analysis software platform that is used with PANalytical’s range of Epsilon 1 and Epsilon 4 benchtop EDXRF systems. The software offers all the functions required to set up and operate an Epsilon benchtop system. The analytical program assembly is greatly facilitated by the high degree of intelligence built into the software, allowing users to benefit from half a century of applications expertise. Daily XRF analysis is a routine task that can be readily carried out by inexperienced personnel after a minimum of instruction. Many features are present to enhance the usability of the software.

Stratos

Determination of composition and thickness of coatings and multi-layers

The Stratos software module features an algorithm which enables simultaneous determination of chemical composition and thickness of layered materials from measurements taken. The software provides a rapid, simple and non-destructive means of analyzing coatings, surface layers and multi-layered structures. The Virtual Analyst provides intelligence during the setup of measurement programs for complicated stacks. 


Available for both the Epsilon 4 EDXRF and Zetium XRF spectrometers, Stratos delivers fast and reliable results regardless of sample type or matrix.

使用者手冊

請聯絡支援人員以取得最新的使用手冊。

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客技術支援

產品服務

效益最大化的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務，以確保您的儀器保持在最佳狀態，發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

客技術支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析方法 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP，ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程
簡單輕鬆進行線上控制。

簡單輕鬆進行線上控制。

線上產品檢驗的進階元素分析。讓連續、可靠監測變得輕鬆簡單。

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