Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

  • Analizador XRF de sobremesa multifuncional 
  • Análisis elemental de flúor (F) a americio (Am) en áreas de R
  • Ediciones y software adaptados a la industria

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Información general

Diseñado conforme a la experiencia y el éxito del alcance comprobado de los espectrómetros de XRF Epsilon 3, el Epsilon 4 es un analizador XRF multifuncional de mesa para cualquier segmento industrial que necesite un análisis elemental, de flúor (F) a americio (Am), en áreas que van desde I+D hasta el control de proceso. 

Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un software optimizado y un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso de XRF más potentes.

Ediciones de la industria

Características

  • Configuraciones flexibles: El Epsilon 4 es una herramienta analítica altamente flexible en una versión de 10 vatios para el análisis elemental (F a Am) en áreas que van desde I+D hasta control del proceso. Incluso para un rendimiento mayor de muestras o capacidades extendidas de los elementos livianos y en ambientes más exigentes, se encuentra disponible una versión de 15 vatios, que incluso puede analizar carbono, nitrógeno y oxígeno.

  • Últimos avances: Los instrumentos Epsilon 4 combinan las tecnologías de excitación y detección más recientes con el moderno software de análisis. El tubos de rayos X de 15 vatios, en combinación con la alta corriente (3 mA), el detector SDD30 de deriva de silicio más reciente y un diseño compacto de trayectoria óptica, proporciona incluso un mejor rendimiento analítico que la EDXRF de 50 vatios de potencia y que los sistemas de WDXRF para mesas de trabajo, con el beneficio adicional de eficiencia de potencia.

  • Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran con el uso de la tecnología más reciente de detector de deriva de silicio que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica del detector única posibilita una capacidad lineal de velocidad de conteo alta de más de 1 500 000 cps (a tiempo muerto del 50 %) y una resolución independiente de velocidad de conteo generalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro del Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, que brinde un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.

  • Menor consumo de helio: El alto rendimiento del Epsilon 4 permite que muchas aplicaciones se operen en una atmósfera de aire, sin tiempos prolongados ni costos relacionados con el helio o el mantenimiento del sistema de vacío. Cuando se mide en aire, los fotones de rayos X de baja energía característicos del sodio, magnesio y aluminio son sensibles a las variaciones en la presión y la temperatura del aire. Los sensores integrados de temperatura y de presión de aire compensan las variaciones medioambientales, lo que asegura resultados excelentes sin importar el clima.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Especificación

Manipulación de muestras

Capacidad de muestra Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones
Tamaño de muestra El espectrómetro puede acomodar muestras de hasta 52 mm (2") de diámetro
Features Se incluye centrifugador para una mejor precisión del análisis del filtro de aire
Modo para analizar muestras grandes de hasta 10 cm de altura

Tubos de rayos X

Features Ventana lateral de metal y cerámica para una máxima estabilidad
Ventana delgada de berilio de 50 micrómetros para una alta sensibilidad de elementos livianos (Na, Mg, Al, Si)
Tube setting Tubo de rayos X del ánodo de Ag para el mejor rendimiento de análisis de P, S y CI

Detector

Tipo de detector Detector de deriva de silicio (SDD), generalmente de 135 eV a Mn-Kα
Features Velocidad de conteo máxima de 1 500 000 conteos por segundo a tiempo muerto del 50 %
Ventana de entrada delgada del detector para una alta sensibilidad

Software

Software
  • Detección elemental con solución de análisis sin estándares de Omnian
  • Análisis de APROBACIÓN/FALLA con la solución FingerPrint
  • Seguridad de datos mejorada para ambientes regulados
  • Stratos para muestras de capas múltiples
  • Una calibración flexible para metales de desgaste en aceites lubricantes nuevos y usados mediante Oil-Trace

Accesorios

Software

Software Epsilon

Paquete de software analítico EDXRF para sistemas de mesas de trabajo Epsilon

El software Epsilon es la plataforma de software de análisis de XRF que se utiliza con la gama de sistemas de EDXRF para mesas de trabajo Epsilon 1 y Epsilon 4 de PANalytical. El software ofrece todas las funciones necesarias para configurar y utilizar un sistema de mesas de trabajo Epsilon. El montaje del programa analítico se ve facilitado en gran medida por el alto grado de inteligencia integrado en el software, lo que permite a los usuarios beneficiarse de medio siglo de experiencia en aplicaciones. El análisis diario de XRF es una tarea rutinaria que puede ser realizada fácilmente por personal inexperto después de un mínimo de instrucción. Muchas características están presentes para mejorar la facilidad de uso del software.

Stratos

Determinación de la composición y espesor de recubrimientos y multicapas

El módulo del software Stratos presenta un algoritmo que permite la determinación simultánea de la composición química y el espesor de los materiales en capas a partir de las medidas tomadas. El software proporciona un medio rápido, simple y no destructivo de análisis de recubrimientos, capas superficiales y estructuras multicapa. El Virtual Analyst proporciona inteligencia durante la configuración de programas de medición para pilas complicadas. 


Disponible tanto para los espectrómetros Epsilon 4 EDXRF como para Zetium, Stratos ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o matriz.

Omnian

Análisis sin estándares de todos los tipos de muestras

Omnian permite que los usuarios obtengan el mejor análisis posible cuando no hay disponibles métodos especializados o estándares certificados. Omnian, un paquete vanguardista y sin estándares, incorpora software de última generación y muestras de configuración que trascienden las tecnologías. Disponible para los espectrómetros Epsilon 1, Epsilon 4 y Zetium, Omnian ofrece resultados rápidos y confiables, independientemente del tipo de muestra o la matriz.

Oil-Trace

Análisis preciso de elementos traza

Oil-Trace es un paquete de software que consta de un conjunto de estándares que permite a los usuarios realizar análisis elementales precisos y confiables de líquidos mediante WDXRF y EDXRF. Oil-Trace resuelve dos problemas al analizar líquidos:

1) Corrección adecuada de matriz en presencia de una mezcla desconocida de elementos CHON

2) Corrección de errores debidos a variaciones en el volumen de la muestra analizada

Al abordar estos problemas de manera efectiva, Oil-Trace aporta importantes beneficios al análisis del petróleo.

FingerPrint

Identificación instantánea de material

Un módulo de software de FingerPrint, combinado con un sistema de Epsilon 4 EDXRF, es ideal para la prueba de materiales cuando la velocidad del análisis es importante, pero la composición real no es de interés. La identificación de características específicas generalmente implica poca o ninguna preparación de muestras y no es destructiva.

Seguridad de datos mejorada

Protegemos sus datos y satisfacemos a los auditores

El módulo Seguridad de datos mejorada (EDS) es una opción de software que proporciona una mayor confianza en los resultados para los usuarios del espectrómetro Zetium XRF (a través del software SuperQ) y el espectrómetro Epsilon XRF. Con funciones que incluyen la administración avanzada de usuarios, el registro de acciones, la protección de datos y la asignación del estado de la aplicación, EDS lo ayuda a reforzar su registro de auditoría, minimizar el riesgo de error y demostrar que su instrumento XRF funciona como se espera.

Estándares (materiales de referencia)

ADPOL

Composición elemental XRF precisa y confiable de sus polímeros, compuestos y plásticos, obtenida en minutos.

Más información

WROXI

Análisis preciso de óxidos de minerales de amplio rango

WROXI CRM es un kit de materiales de referencia certificados sintéticos de alta calidad que cubre una amplia gama de materiales de óxido, como minerales, rocas y materiales geológicos.

Más información

LAS

Análisis de aceros de baja aleación con espectrómetros XRF de Malvern Panalytical.

El paquete de acero de baja aleación (LAS) para los espectrómetros XRF secuenciales y simultáneos Zetium y Axios FAST se basa en >90 CRM que cubren hasta 21 elementos y 4 muestras de monitor para corrección de deriva y preparación de muestras.

Más información

RoHS

Análisis elemental preciso de materiales restringidos por RoHS.

El módulo de calibración RoHS ayuda a los fabricantes y laboratorios de investigación a cumplir con los requisitos de la legislación RoHS 2. El análisis elemental preciso utilizando los estándares de calibración RoHS puede ahorrarle dinero y respaldar el cumplimiento de regulaciones internacionales como REACH.

Más información

TOXEL

Análisis preciso por XRF de elementos tóxicos en polímeros y plásticos

El módulo TOXEL permite un análisis elemental sencillo y preciso de elementos tóxicos en poliolefinas, incluidos muchos tipos de PP y PE.

Más información

Materiales de referencia certificados

Materiales de referencia certificados, incluidos módulos de calibración XRF y materiales de referencia

Más información

Preparación de muestras

Claisse LeNeo

A la vanguardia con la experiencia de Claisse en fusión.

El instrumento de fusión Claisse LeNeo prepara los discos de vidrio para XRF, además de las soluciones de borato y peróxido para los análisis AA e ICP. Se trata de un instrumento eléctrico de posición única.

Más información
Claisse LeNeo

¿Por qué Épsilon 4?

Epsilon 4 en cualquier lugar

Debido a sus bajos requisitos de infraestructura, el Epsilon 4 se puede colocar cerca de la línea de producción, en cualquier parte del proceso. 

Su alto rendimiento permite que la mayoría de las aplicaciones se pueda operar en condiciones ambientales, lo que reduce los costos para el mantenimiento del helio o del vacío.

Valor más allá del análisis

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía para el análisis elemental varía desde el carbono (C) hasta el americio (Am), y la concentración varía desde sub-ppm hasta 100 wt%. 

Utilice Omnian para el análisis sin estándares, utilice FingerPrint para las pruebas de materiales cuando el análisis de velocidad es importante o utilice Strator para un análisis rápido, simple y no destructivo de recubrimientos, capas superficiales y estructuras de multicapa. 

También se puede utilizar la seguridad de datos mejorada que respalda el cumplimiento con reglamentos como la sección 11 de FDA 21 CFR o utilizar Oil-Trace para cuantificar las mezclas de combustibles y biocombustibles para aceites lubricantes nuevos y usados.

Listo para cualquier tipo de muestra

El Epsilon 4 maneja una amplia variedad de tipos de muestra, como sólidos, polvos sueltos y compactos, líquidos y filtros. Realiza análisis cuantitativos no destructivos de elementos, desde carbono (C) y flúor hasta americio (Am), en concentraciones de un 100 % por debajo de los niveles sub-ppm en muestras que pesan unos pocos miligramos o kilogramos.

El Epsilon 4 es una alternativa sólida y confiable con respecto a los sistemas convencionales para una amplia variedad de industrias y aplicaciones, incluso cuando el análisis de elementos livianos es de máxima importancia, como producción de cemento, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, detección y cuantificación de RoHS, petróleo y petroquímicos, polímeros e industrias relacionadas, producción de vidrio, ciencia forense, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud, sector medioambiental, alimentos y cosméticos.

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Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Manuales de usuario

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Potente análisis elemental en línea.

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