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Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

  • Analizador XRF de sobremesa multifuncional 
  • Análisis elemental de flúor (F) a americio (Am) en áreas de R
  • Ediciones y software adaptados a la industria

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Información general

Diseñado conforme a la experiencia y el éxito del alcance comprobado de los espectrómetros de XRF Epsilon 3, el Epsilon 4 es un analizador XRF multifuncional de mesa para cualquier segmento industrial que necesite un análisis elemental, de flúor (F) a americio (Am), en áreas que van desde I+D hasta el control de proceso. 

Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un software optimizado y un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso de XRF más potentes.

Ediciones de la industria

Características

  • Configuraciones flexibles: El Epsilon 4 es una herramienta analítica altamente flexible en una versión de 10 vatios para el análisis elemental (F a Am) en áreas que van desde I+D hasta control del proceso. Incluso para un rendimiento mayor de muestras o capacidades extendidas de los elementos livianos y en ambientes más exigentes, se encuentra disponible una versión de 15 vatios, que incluso puede analizar carbono, nitrógeno y oxígeno.

  • Últimos avances: Los instrumentos Epsilon 4 combinan las tecnologías de excitación y detección más recientes con el moderno software de análisis. El tubos de rayos X de 15 vatios, en combinación con la alta corriente (3 mA), el detector SDD30 de deriva de silicio más reciente y un diseño compacto de trayectoria óptica, proporciona incluso un mejor rendimiento analítico que la EDXRF de 50 vatios de potencia y que los sistemas de WDXRF para mesas de trabajo, con el beneficio adicional de eficiencia de potencia.

  • Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran con el uso de la tecnología más reciente de detector de deriva de silicio que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica del detector única posibilita una capacidad lineal de velocidad de conteo alta de más de 1 500 000 cps (a tiempo muerto del 50 %) y una resolución independiente de velocidad de conteo generalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro del Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, que brinde un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.

  • Menor consumo de helio: El alto rendimiento del Epsilon 4 permite que muchas aplicaciones se operen en una atmósfera de aire, sin tiempos prolongados ni costos relacionados con el helio o el mantenimiento del sistema de vacío. Cuando se mide en aire, los fotones de rayos X de baja energía característicos del sodio, magnesio y aluminio son sensibles a las variaciones en la presión y la temperatura del aire. Los sensores integrados de temperatura y de presión de aire compensan las variaciones medioambientales, lo que asegura resultados excelentes sin importar el clima.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Especificación

Capacidad de muestra Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones
Tamaño de muestra El espectrómetro puede acomodar muestras de hasta 52 mm (2") de diámetro
Features Se incluye centrifugador para una mejor precisión del análisis del filtro de aire
Modo para analizar muestras grandes de hasta 10 cm de altura

Accesorios

Software

Estándares (materiales de referencia)

Preparación de muestras

¿Por qué Épsilon 4?

Epsilon 4 en cualquier lugar

Debido a sus bajos requisitos de infraestructura, el Epsilon 4 se puede colocar cerca de la línea de producción, en cualquier parte del proceso. 

Su alto rendimiento permite que la mayoría de las aplicaciones se pueda operar en condiciones ambientales, lo que reduce los costos para el mantenimiento del helio o del vacío.

Valor más allá del análisis

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía para el análisis elemental varía desde el carbono (C) hasta el americio (Am), y la concentración varía desde sub-ppm hasta 100 wt%. 

Utilice Omnian para el análisis sin estándares, utilice FingerPrint para las pruebas de materiales cuando el análisis de velocidad es importante o utilice Strator para un análisis rápido, simple y no destructivo de recubrimientos, capas superficiales y estructuras de multicapa. 

También se puede utilizar la seguridad de datos mejorada que respalda el cumplimiento con reglamentos como la sección 11 de FDA 21 CFR o utilizar Oil-Trace para cuantificar las mezclas de combustibles y biocombustibles para aceites lubricantes nuevos y usados.

Listo para cualquier tipo de muestra

El Epsilon 4 maneja una amplia variedad de tipos de muestra, como sólidos, polvos sueltos y compactos, líquidos y filtros. Realiza análisis cuantitativos no destructivos de elementos, desde carbono (C) y flúor hasta americio (Am), en concentraciones de un 100 % por debajo de los niveles sub-ppm en muestras que pesan unos pocos miligramos o kilogramos.

El Epsilon 4 es una alternativa sólida y confiable con respecto a los sistemas convencionales para una amplia variedad de industrias y aplicaciones, incluso cuando el análisis de elementos livianos es de máxima importancia, como producción de cemento, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, detección y cuantificación de RoHS, petróleo y petroquímicos, polímeros e industrias relacionadas, producción de vidrio, ciencia forense, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud, sector medioambiental, alimentos y cosméticos.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Manuales de usuario

Descargas de software

Por favor, póngase en contacto con soporte para la última versión del software.

Soporte

Servicios

Soluciones para maximizar la rentabilidad de su inversión

Para garantizar que su instrumento se mantenga en condiciones óptimas y funcione al más alto nivel, Malvern Panalytical ofrece una amplia gama de servicios. Nuestra experiencia y nuestros servicios de asistencia garantizan el óptimo funcionamiento de su instrumento.

Soporte

Servicio durante toda la vida útil

  • Asistencia telefónica y remota
  • Mantenimiento preventivo y revisiones
  • Acuerdos flexibles de atención al cliente
  • Certificados de rendimiento
  • Actualizaciones de hardware y software
  • Asistencia local y global

Experiencia

Agregamos valor a sus procesos 

  • Desarrollo y optimización de preparación de muestras
  • Metodologías analíticas 
  • Soluciones listas para usar para XRD 
  • Operaciones a través de IQ/OQ/PQ, aseguramiento de la calidad (GLP, ISO17025) o estudios interlaboratorios o cooperativos
  • Servicios de asesoría

Capacitación y educación

  • Capacitación in situ o en nuestros centros de competencia
  • Amplia gama de cursos básicos y avanzados sobre productos, aplicaciones y software

Información general

Diseñado conforme a la experiencia y el éxito del alcance comprobado de los espectrómetros de XRF Epsilon 3, el Epsilon 4 es un analizador XRF multifuncional de mesa para cualquier segmento industrial que necesite un análisis elemental, de flúor (F) a americio (Am), en áreas que van desde I+D hasta el control de proceso. 

Si combina las tecnologías de excitación y detección más recientes con un software optimizado y un diseño inteligente, el rendimiento analítico del Epsilon 4 se acerca más a los espectrómetros de piso de XRF más potentes.

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Características

  • Configuraciones flexibles: El Epsilon 4 es una herramienta analítica altamente flexible en una versión de 10 vatios para el análisis elemental (F a Am) en áreas que van desde I+D hasta control del proceso. Incluso para un rendimiento mayor de muestras o capacidades extendidas de los elementos livianos y en ambientes más exigentes, se encuentra disponible una versión de 15 vatios, que incluso puede analizar carbono, nitrógeno y oxígeno.

  • Últimos avances: Los instrumentos Epsilon 4 combinan las tecnologías de excitación y detección más recientes con el moderno software de análisis. El tubos de rayos X de 15 vatios, en combinación con la alta corriente (3 mA), el detector SDD30 de deriva de silicio más reciente y un diseño compacto de trayectoria óptica, proporciona incluso un mejor rendimiento analítico que la EDXRF de 50 vatios de potencia y que los sistemas de WDXRF para mesas de trabajo, con el beneficio adicional de eficiencia de potencia.

  • Rapidez y sensibilidad: Las mediciones rápidas se logran con el uso de la tecnología más reciente de detector de deriva de silicio que produce intensidades significativamente mayores. La electrónica del detector única posibilita una capacidad lineal de velocidad de conteo alta de más de 1 500 000 cps (a tiempo muerto del 50 %) y una resolución independiente de velocidad de conteo generalmente mejor que 135 eV para una mejor separación de las líneas analíticas en el espectro. Esto permite que el espectrómetro del Epsilon 4 funcione a máxima potencia y, por lo tanto, que brinde un mayor rendimiento de la muestra en comparación con los instrumentos de EDXRF para mesas de trabajo tradicionales.

  • Menor consumo de helio: El alto rendimiento del Epsilon 4 permite que muchas aplicaciones se operen en una atmósfera de aire, sin tiempos prolongados ni costos relacionados con el helio o el mantenimiento del sistema de vacío. Cuando se mide en aire, los fotones de rayos X de baja energía característicos del sodio, magnesio y aluminio son sensibles a las variaciones en la presión y la temperatura del aire. Los sensores integrados de temperatura y de presión de aire compensan las variaciones medioambientales, lo que asegura resultados excelentes sin importar el clima.

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Especificación

Capacidad de muestra Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones
Tamaño de muestra El espectrómetro puede acomodar muestras de hasta 52 mm (2") de diámetro
Features Se incluye centrifugador para una mejor precisión del análisis del filtro de aire
Modo para analizar muestras grandes de hasta 10 cm de altura

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¿Por qué Épsilon 4?

Epsilon 4 en cualquier lugar

Debido a sus bajos requisitos de infraestructura, el Epsilon 4 se puede colocar cerca de la línea de producción, en cualquier parte del proceso. 

Su alto rendimiento permite que la mayoría de las aplicaciones se pueda operar en condiciones ambientales, lo que reduce los costos para el mantenimiento del helio o del vacío.

Valor más allá del análisis

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía para el análisis elemental varía desde el carbono (C) hasta el americio (Am), y la concentración varía desde sub-ppm hasta 100 wt%. 

Utilice Omnian para el análisis sin estándares, utilice FingerPrint para las pruebas de materiales cuando el análisis de velocidad es importante o utilice Strator para un análisis rápido, simple y no destructivo de recubrimientos, capas superficiales y estructuras de multicapa. 

También se puede utilizar la seguridad de datos mejorada que respalda el cumplimiento con reglamentos como la sección 11 de FDA 21 CFR o utilizar Oil-Trace para cuantificar las mezclas de combustibles y biocombustibles para aceites lubricantes nuevos y usados.

Listo para cualquier tipo de muestra

El Epsilon 4 maneja una amplia variedad de tipos de muestra, como sólidos, polvos sueltos y compactos, líquidos y filtros. Realiza análisis cuantitativos no destructivos de elementos, desde carbono (C) y flúor hasta americio (Am), en concentraciones de un 100 % por debajo de los niveles sub-ppm en muestras que pesan unos pocos miligramos o kilogramos.

El Epsilon 4 es una alternativa sólida y confiable con respecto a los sistemas convencionales para una amplia variedad de industrias y aplicaciones, incluso cuando el análisis de elementos livianos es de máxima importancia, como producción de cemento, minería, enriquecimiento de minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, detección y cuantificación de RoHS, petróleo y petroquímicos, polímeros e industrias relacionadas, producción de vidrio, ciencia forense, productos farmacéuticos, productos de cuidado de la salud, sector medioambiental, alimentos y cosméticos.

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