La gama de sistemas de difracción de rayos X X'Pert³ de Malvern Panalytical continúa el éxito de la plataforma X'Pert. Con sus nuevos sistemas electrónicos de control incorporados, su cumplimiento de las normas de seguridad más recientes y más estrictas de rayos X y de movimiento, sus avances en características ecológicas y su confiabilidad, la plataforma X'Pert³ está lista para el futuro.

• Componentes de haz incidente (CRISP) de más larga duración 
• Máximo tiempo de actividad con obturadores neumáticos y atenuadores de haz 
• Fácil extensión a nuevas aplicaciones gracias a la tecnología PreFIX de 2.ª generación 
• Intercambio de la posición de los tubos rápido, confiable y sin necesidad de herramientas 
• Nuevos sistemas electrónicos de control incorporados con conexión directa a Internet 
• Cumplimiento de los reglamentos de seguridad más estrictos

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Versátil sistema XRD de investigación y desarrollo

Versátil sistema XRD de investigación, desarrollo y control de calidad

Más detalles Más detalles
Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Tipo de medición
Identificación de fases
Cuantificación de fases
Metrología de película delgada
Esfuerzo residual
Rugosidad de interfaz
Análisis de epitaxia
Análisis de textura
Análisis del espacio recíproco