Détection et analyse de contaminants

Identification et compréhension des problèmes de procédé et garantie de la qualité et de la sécurité des produits

Détection et analyse de contaminants

La contamination peut s'avérer préjudiciable à la qualité des produits et l'efficacité des procédés, et peut également représenter un risque grave pour la santé publique ou la sécurité environnementale. Par conséquent, les niveaux d'éléments dangereux dans les produits électroniques et les produits de consommation sont limités par des réglementations en matière de santé et de sécurité. 

Les contaminants ou les particules étrangères proviennent de diverses sources, dont des parties corrodées ou endommagées de l'équipement, des catalyseurs, d'une contamination croisée dans un procédé, d'un emballage, voire d'origine biologique.

Nos instruments

La détection de contaminants, le recensement et dans certains cas l'identification de contaminants permettent de repérer des problèmes et contribuent à garantir la sécurité et la qualité des produits. 

Malvern Panalytical propose des solutions pour l'analyse des contaminants qui vous aident à comprendre et à surveiller vos procédés et produits. Ces derniers sont utilisés dans un large éventail d'industries, notammenten médecine légale, dans le traitement de l'eau, la fabrication d'additifs, les produits pharmaceutiques et biopharmaceutiques, les matériaux de construction, les denrées alimentaires et les boissons, les carburants et les produits chimiques fins.

Comment nos produits se comparent

  • Gamme Morphologi

    Imagerie automatisée pour la caractérisation avancée des particules

    Gamme Morphologi

    Technologie

    • Analyse d'images
    • Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
    • Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
    • Diffraction des rayons X (XRD)
    • Activation thermique/neutronique à pulsations rapides
  • Zetium

    Spectromètres WDXRF sur pied haut de gamme

    Zetium

    Technologie

    • Analyse d'images
    • Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
    • Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
    • Diffraction des rayons X (XRD)
    • Activation thermique/neutronique à pulsations rapides
  • Gamme Epsilon

    Spectromètres EDXRF de paillasse et en ligne

    Gamme Epsilon

    Technologie

    • Analyse d'images
    • Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
    • Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
    • Diffraction des rayons X (XRD)
    • Activation thermique/neutronique à pulsations rapides
  • Gamme Empyrean

    Diffractomètres à rayons X polyvalents

    Gamme Empyrean

    Technologie

    • Analyse d'images
    • Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
    • Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
    • Diffraction des rayons X (XRD)
    • Activation thermique/neutronique à pulsations rapides
  • 2830 ZT

    Solution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs

    2830 ZT

    Technologie

    • Analyse d'images
    • Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
    • Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
    • Diffraction des rayons X (XRD)
    • Activation thermique/neutronique à pulsations rapides
  • Gamme CNA

    Analyseurs élémentaires en ligne pour convoyeur transversal

    Gamme CNA

    Technologie

    • Analyse d'images
    • Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
    • Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
    • Diffraction des rayons X (XRD)
    • Activation thermique/neutronique à pulsations rapides