La nouvelle plateforme X'Pert³ succède à la gamme éprouvée X'Pert. Avec sa nouvelle électronique de contrôle embarquée, sa conformité aux normes de sécurité les plus strictes en terme de rayons X et de mécanique, ses améliorations dans l'éco-convivialité et sa fiabilité, la plateforme X'Pert³ est prête pour l'avenir.

Produits pris en charge

X'Pert³ MRD (XL)

La nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux
Image
Mesure
Reciprocal space analysis
Texture analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Residual stress
Thin film metrology
Phase quantification
Phase identification
Accuracy
1% (non-condensing)
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)

X'Pert3 Powder

La plateforme de diffraction nouvelle génération, polyvalente et d'un excellent rapport qualité/prix
Image
Mesure
3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Pore size distribution
Crystal structure determination
Surface area
Interface roughness
Residual stress
Thin film metrology
Phase quantification
Phase identification
Accuracy
1% (non-condensing)
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)

X'Pert3 MRD (XL)

La nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux
Image
Mesure
Residual stress
Thin film metrology
Phase quantification
Phase identification
Reciprocal space analysis
Texture analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Accuracy
1% (non-condensing)
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)