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汙染物偵測和分析

识别和理解工艺问题，确保产品质量和安全

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汙染物偵測和分析

污染可能对产品质量和流程效率产生不利影响，同时可能严重危害公共健康或环境安全。 因此，健康与安全法规对电子产品和消费产品中的有害元素含量做出了限制。 

污染物或杂质粒子有多种来源，包括腐蚀或损坏的设备部件、催化剂、工艺流程的交叉污染、包装，甚至是生物来源。

我們的儀器

污染物检测、计算和识别（某些情况下）能够明确工艺问题，帮助确保产品安全和质量。 

马尔文帕纳科为污染物分析提供多种解决方案，帮助您理解和监控工艺流程和产品，这些解决方案在各个行业得到了广泛的应用，包括法医科学、水处理、增材制造、制药和生物制药产品、建筑材料、食品与饮料、燃油和精细化工。

我們的產品如何比較

  • Morphologi 系列

    為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統

    Morphologi 系列

    技術類型

    • 影像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF)
    • X光繞射(XRD)
    • 脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
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  • Zetium 系列

    高端落地式 WDXRF 光譜儀

    Zetium 系列

    技術類型

    • 影像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF)
    • X光繞射(XRD)
    • 脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
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  • Epsilon 系列

    桌上型及線上 EDXRF 光譜儀

    Epsilon 系列

    技術類型

    • 影像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF)
    • X光繞射(XRD)
    • 脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
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  • Empyrean 系列

    多用途 X 射線繞射儀

    Empyrean 系列

    技術類型

    • 影像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF)
    • X光繞射(XRD)
    • 脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
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  • 2830 ZT

    先進半導體薄膜的精密量測解決方案

    2830 ZT

    技術類型

    • 影像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF)
    • X光繞射(XRD)
    • 脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
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  • CNA 系列

    線上交叉帶元素分析儀

    CNA 系列

    技術類型

    • 影像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF)
    • X光繞射(XRD)
    • 脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
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