X 射线衍射数据的晶体学分析
如今,X 射线晶体学被应用于化学、矿物学和物理学的许多领域。 不仅在所谓的晶体状态(离子、原子或分子的有序位置)下使用,还在没有长程有序周期的非晶和液体状态下使用。
晶体学是进行新结构测定、定量分析(使用 Rietveld 等方法)、全散射和织构分析等所依据的基础科学。
粉末 XRD 数据的晶学体分析所需的步骤全部包括在 HighScore Plus 软件中:
晶体学分析需要高质量的衍射数据。 配有 Ge 单色器(Johansson 类型)的 Empyrean Alpha-1 可在结构测定中提供完美的 Cu 或 Co 单一 Kα1 Bragg-Brentano 反射几何数据。 使用 PreFIX 混合单色器在 Empyrean 上创建唯一平行光束透射几何 α1,用于透射或毛细管作业。
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技術類型 | ||
X 射线衍射 (XRD) |