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Epsilon 1

體積小但功能強大的攜帶式 XRF 分析儀

  • 全集成能量色散 XRF 分析儀
  • 表徵和分析任何類型的樣品
  • 最大限度地減少操作員依賴性和樣品製備
  • 運行成本低

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概述

Eplison 1 是一款完全集光譜儀、內建計算機、觸控螢幕與分析軟體於一身的能量色散 XRF 分析儀。 

Epsilon 1 採用最新的激勵與檢測技術,是低成本臺式儀器中的明星產品。

Eplison 1 生成快速、符合效益成本、具有精確且準確的數據,同時最大限度地減少操作員的需求與樣品製備。因此,總運行成本遠低於其他分析技術,如 AAS、ICP 和濕式化學法,這些技術成本高昂且需要專門且熟練的操作員。

行業版本

Epsilon 1 專為識別許多行業細分市場中各類型的樣品表徵及進行分析而設計,如水泥、化妝品、環境、食物、法律醫學、金屬與塗層、礦業與礦產、奈米材料、石化、製藥、聚合物與 RoHS-2。

適用於很多即用型的解決方案,滿足特定的分析需求。這些行業版本已經在工廠中進行預先校準,隨時可以使用:

特點

  • 非破壞性分析。測量直接在樣品本身進行,幾乎不需要樣品製備。由於 XRF 是一種非破壞性技術,因此如果需要,可以隨後通過其他分析技術測量此樣品。

  • 最大靈敏度。Malven Panalytical 設計與製造的薄窗銀陽極 X 光管可確保高品質與靈敏度。 50kV X 光管與發射器非常適合激發較重的元素,從而縮短分析時間並提高精確度。

  • 方便通訊標準計算機外圍設備的 USB 與網路連接支援擴展使用、應用開發與操作員操作。

  • 防溢保護。為了保護系統的脆弱核心,防溢箔片已經準備好了。若是發生溢出的情況,操作員可以輕鬆地更換箔片。

  • 氣壓變化。Na、Mg、Al、Si、P 和 S 的低能 X 光光子特性對氣壓與溫度變化較敏感,內建溫度和氣壓傳感器可以補償這些大氣變化,確保無論天氣如何,都可以取得出色的成果。

可靠且靈活的定量分析

Epsilon 1 可以藉由使用常規樣品組成匹配的參考材料進行校準。這些專用校準可以產生高精確度的準確數據。 Eplison 1 可以針對多種行業應用進行校準。

Epsilon 1 是一款效能出色的臺式 XRF 儀器,用於分析週期表中的 Na 到 Am 的主要元素、微量元素與痕量元素。

提高數據的安全性

Epsilon 系統軟體的增強數據安全選項能幫助您加強審核追蹤並最大限度地降低錯誤風險並確認您的 XRF 儀器依照預定工作。

功能套件括高級用戶管理、操作紀錄與數據保護。 

了解更多。 

Very easy to use. Reproducible analysis. Very user-friendly.

Ivan Boninsegna — Aquafil S.p.a.

規格

樣品處理

樣品加載
高度可重複的樣品定位
样品尺寸
典型 5 毫升液體
Safety
防止液體溢出
防塵和防損壞
法規測試

根據所選的行業版本,Epsilon 已預先配置為符合相關法規要求,例如:

  • ASTM D4924
  • ISO 20847
  • ISO 13032
  • ASTM D6841

X射線管

Features
高穩定性陶瓷側窗
50微米薄窗(Be)

偵測器

解决方案 高分辨率,典型值 135 eV
Features
8微米薄窗(Be)
高計數率能力

軟體特點

软件

可選,取決於行業版本和要求,例如:

  • Stratos 
  • FingerPrint
  • Omnian
  • Audit Trail
界面
操作員模式配有大按鈕,方便操作
具有許多功能的進階模式

配件

標準品(參考材料)

CRM

Claisse 随时准备满足您的需求!

Claisse 以极具竞争力的价格为其客户提供来自世界各地的优质“认证参比材料”(CRM) 和“参比材料”(RM)。 无论您有何需求,Claisse 都会尽力为您提供所需的全方位服务,帮助您得到完美的 XRF、AA 和 ICP 光谱分析解决方案。

軟體

Epsilon software

Analytical EDXRF software package for Epsilon benchtop systems

Epsilon software is the XRF analysis software platform that is used with PANalytical’s range of Epsilon 1 and Epsilon 4 benchtop EDXRF systems. The software offers all the functions required to set up and operate an Epsilon benchtop system. The analytical program assembly is greatly facilitated by the high degree of intelligence built into the software, allowing users to benefit from half a century of applications expertise. Daily XRF analysis is a routine task that can be readily carried out by inexperienced personnel after a minimum of instruction. Many features are present to enhance the usability of the software.

Stratos

Determination of composition and thickness of coatings and multi-layers

The Stratos software module features an algorithm which enables simultaneous determination of chemical composition and thickness of layered materials from measurements taken. The software provides a rapid, simple and non-destructive means of analyzing coatings, surface layers and multi-layered structures. The Virtual Analyst provides intelligence during the setup of measurement programs for complicated stacks. 


Available for both the Epsilon 4 EDXRF and Zetium XRF spectrometers, Stratos delivers fast and reliable results regardless of sample type or matrix.

Omnian

对所有样品类型进行无标分析

当不存在专用方法或同类型标准样品时,Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包,Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的分析结果。

FingerPrint

Instant material identification

A FingerPrint software module combined with an Epsilon 4 EDXRF system is ideal for material testing when analysis speed is important but the actual composition is not of interest. FingerPrinting generally involves little to no sample preparation and is non-destructive.

Enhanced Data Security

Securing your data and satisfying auditors

The Enhanced Data Security (EDS) module is a software option that provides enhanced trust in results for users of the Zetium XRF spectrometer (through the SuperQ software) and the Epsilon XRF spectrometer. With capabilities including advanced user management, action logging, data protection, and application status assignment, EDS helps you strengthen your audit trail, minimize the risk of error, and prove that your XRF instrument is working as expected.

軟體

Claisse LeNeo

Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片,以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。

Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片,以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。 这是一款单熔位电子仪器。

關鍵應用

礦業與礦物

  • 對岩石、礦石和岩心進行直接定量分析
  • 使用 FingerPrint 軟體快速進行材料正面辨識
  • 無標樣分析可對多種礦物質進行定量分析,不需要專門的校準

金屬

  • 使用 Stratos (多層)的分析解決辦法對塗層進行簡單的檢查
  • 針對快速金屬分類和通過/失敗報告的陽極材料辨識軟體套件
  • 爐渣的元素定量分析
  • 快速篩選含鐵金屬與不含鐵的金屬 

石化產品

  • Epsilon 1 燃料中硫的版本符合 ASTM D4294、ISO 8754、20847、IP 336、496 與 JIS K2541-4 測試方法
  • 即用型潤滑油版本的效能符合 ASTM D6481 的標準
  • 針對光譜儀與經過認證的石油與燃料標準品的一站式服務

食品

  • 快速對食品與動物飼料產品中的營養成分進行定量分析
  • 縮短食品與動物飼料程序控制中的反饋迴路
  • 穩定且準確的奶粉定量分析

建築材料

  • 水泥、煉磚與原材料的現場程序與品質控制
  • 使用無標樣分析篩選各種替代燃料與原材料( AFR )

學術方面

  • 適用於任何類型的樣品的一台儀器,無須專業的校準
  • 安全設計與低效用需求的理想教育工具
  • 即用型學術解學辦法已使用了 Omnian 無標樣分析解決辦法進行預先校準

製藥產業

  • 通過直接分析殘留元素加速程序開發
  • 使用可用的增強數據安全軟體符合 FDA 21 CFR Part 11 的規定
  • 有效率的原材料檢,快速辨識補給品的變化
  • 可選擇的安裝與操作認證套件( IQ & OQ )

環境

  • 受到汙染土讓的現場鑑定
  • 分析取樣器所在位置的空氣過濾器上的無機化合物
  • 快速分析廢水

聚合物與塑膠

  • RoHS-3 分析符合 ASTM F2617 的效能
  • 使用 Epsilon 1 針對非均質樣品進行詳細、直接的小點分析
  • 獨特的 CRM 解決辦法適用於聚乙烯中的添加劑、限制元素與有毒元素

智能安裝指引

正確地安裝後,您的新的 Epsilon 1 將為您提供可靠的分析結果。安裝 Epsilon 1 非常的簡單:拆開系統套件裝,插入電源並按照說明進行操作,我們將指導您完成整套過程。最後進行簡單的輻射測試即可完成安裝並確認您的系統運行安全。沒錯,使用 Epsilon 1 就是這麼的簡單。更重要的是,您可以放心,您的系統已獲得必要的安全認證了。

智能安裝會確保即使在溢外情擴溢或是遠端位置阻止工程師駭進您的設備時,您也可啟用並運型新儀器。對於 Epsilon 1 ,我們將提供智能安裝指引,使您能夠自行安裝系統並保持儀器的完整性與其安全認證

智能安裝指引的優點:

  • 快速啟動並運行
  • 節省安裝成本
  • 隨時安裝系統
  • 15 個月的延長保修期

瞭解有關智能安裝的更多資訊

使用者手冊

軟體下載

請聯絡支援人員以取得最新軟體版本。

支援

自行支援

請觀看我們的基本教學系列影片,瞭解有關 Epsilon1 的更多資訊:

服務

將您的投資回報解決辦法最大化

為了確保您的儀器一職保持在最佳狀態並發揮最高水準, Malvern Panalytical 提供廣泛的服務。我們的專業知識與支援服務將確保您的儀器發揮最佳功能。

支援

終身服務

  • 電話與遠端支援
  • 預防性維護與檢查
  • 靈活的客戶服務協議
  • 效能認證
  • 硬體與軟體的升級
  • 本地與全球支援

專業知識

協助您提升您的程序價值

  • 樣品製備開發/最佳化
  • 分析方法
  • XRD 一站式解決辦法
  • 經由 IQ/OQ/PQ、品質保證( GLP、ISO17025 )或循環實驗室間研究進行操作
  • 實驗室程序自動化
  • 諮詢服務

培訓與教育

  • 現場或是在我們的能力中心進行培訓
  • 有關產品、應用與軟體的廣泛基礎與高級課程

分析服務與校準材料

  • 專業( XRF )分析服務
  • 氧化物與痕量分析
  • 訂製的校準材料
體積小、功能強大、可攜式 XRF。

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