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X'Pert³ MRD

新一代高分辨X射线衍射仪

  • 強大的X射線散射系統
  • 提高性能和可靠性
  • 全晶圓映射可達 100 毫米

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概述

马尔文帕纳科新一代 X'Pert³ MRD 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力,提供一体化解决方案来满足不同需求和应用:

  • 半导体和单晶晶圆:倒易空间探索、摇摆曲线分析
  • 多晶固体和薄膜:织构分析、反射测量
  • 超薄薄膜、纳米材料和非晶层:掠入射物相鉴定、面内衍射
  • 非常温条件下的测量:随温度和时间变化的峰高

X'Pert3MRD 经过专门设计,符合现代材料研发实验室的要求。X'Pert3MRD 的开发重点考虑了薄膜应用的需要,因此提供了多种样品架,可容纳直径达 200 mm 的晶圆,亦能用于晶圆表面的多点扫描。其大型样品台可以装载多个样品。

面向未來的系統彈性

X'Pert3 MRD 将新技术融入到了测角仪轴承设计和位置编码中,从而提高了整体性能。在测角仪轴承上应用的创新成果改进了黏滑行为,即使是在高负载条件下,也能够极其流畅地作旋转移动。在 omega 和 2theta 轴上使用了一流的 Heidenhain 光学编码器,因而改进了短距离和长距离准确性,并且同时提高了位置报告和测角仪定位的速度。

X'Pert3 MRD 的欧拉环样品台可实现高精度、可重复且无障碍的移动,方便进行样品旋转、倾斜以及 x 轴、y 轴和 z 轴平移,确保为要求严格的 XRD 应用实现用途广泛且准确的样品定位。

马尔文帕纳科的探测器产品组合在不断发展。PIXcel3D 探测器具有在半导体和薄膜应用中的特殊优势,该探测器具备完整的多功能性,允许实现高动态范围的测量,而无需进行光束衰减。PIXcel 探测器可用于各类应用需求,可以轻松地将它从 0D 接收狭缝模式切换为 1D 和 2D 静态及扫描模式。

特徵

  • 專為研究和開發而定制

  • 適用於薄膜樣品、晶圓和固體材料

  • 完整的晶圓測繪可達 100 毫米

  • 多功能、靈活的樣品定位

  • 用於光學元件的可選延長臂

  • 使用 Heidenhain 編碼器的新型高解析度測角儀具有出色的精度

应用

Malvern Panalytical X’Pert³ MRD 和 MRD XL 是一體化 X 光解決方案系統,可用於許多行業應用,包括:

半導體和單晶晶圓

不論是磊晶成長研究或元件設計,使用高解析度 XRD 分析各層的品質、厚度、應變與合金成分已成為電子和光電子多層半導體元件的研發重心,X’Pert3 MRD 和 MRD XL 具有各種 X 光光學模組、單光器和偵測器選擇,可提供高解析度配置,以符合不同材料系統的應用,像是從磊晶成長半導體到新穎基材上的鬆弛緩衝層。

多晶形固體與薄膜

多晶形材料層和塗層是許多薄膜和多層元件的重要元素,沉積期間,多晶形材料層的形態演化是功能性材料研發的關鍵研究領域,X’Pert3 MRD 和 X’Pert3 MRD XL 可以完整配備各種狹縫、平行射束 X 光反射鏡、多毛細管透鏡、交叉狹縫和單一毛細管,讓您充分選擇適用於反射儀、應力、織構和晶相鑑定的入射光束光學元件。

超薄膜、奈米材料和非晶形層

功能性元件中可能含有無序、非晶形或奈米複合薄膜,彈性的 X’Pert3 MRD 和 MRD XL 系統能讓您納入多種分析方法。有各種高解析度光學元件、狹縫和平行板準直器可供使用,提供最佳化效能的低掠角入射方法、In-plane 繞射和反射式量測。

可控環境條件下的量測

研究材料在各種條件下的行為是材料研究和製程開發的必要部分,X’Pert3 MRD 和 MRD XL 的設計目的是為了輕鬆納入 Anton Paar 的 DHS1100 可控環境樣品載台,以實現在不同溫度範圍和惰性氣氛下的自動化測量。

Instrument gives excellent accuracy and is of good quality.Good intensity and rapid performance. It is easy to operate.

Yifan Zheng — Zhejiang University of Technology

規格

尺寸: 1972 x 1370 x 1131 mm
重量
1150公斤(僅儀器)
Safety
距外殼外表面 10 cm 處小於 1 µSv.h
认证
機器指令 2006/42/EC
EMC 指令 2004/108/EC
聲明符合每項文書
Compressed air supply
室內管線、壓縮機或氣瓶; 2-5巴(0.2-0.5兆帕)
Anode material
Cu、Co、Cr,其他依要求提供
焦点
0.4 毫米 x 12 毫米(長)
Tube housing
陶瓷絕緣
無鉛
採用 CRISP 技術的專利設計
X射線誘發電離空氣
X-ray generator
3千瓦
偵測器
比例,Xe 填充

配件

Smart Manager

釋放資料的潛力

即使是現在,儀器資料也常常四散於手寫記錄、試算表或各作業地點的伺服器中而難以取用。藉由將 X'Pert3 連線至我們的 Smart Manager 並持續於雲端分析儀器資料,您就能釋放資料的所有潛力。

更別提這還只是 Malvern Panalytical Smart Manager 所提供的其中一種數位解決方案而已。

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客技術支援

產品服務

效益最大化的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

客技術支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析方法 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP,ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程
薄膜分析的未來。

薄膜分析的未來。

用於研發的多功能 XRD 系統。用於晶圓分析的新一代工具。

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