能量分散式 X 光螢光 (EDXRF) 分析儀

Malvern Panalytical 能量分散式 X 光螢光 EDXRF 光譜儀

X 光螢光  (XRF) 光譜技術是一套非破壞性分析技術，用以獲取不同類型材質的元素資訊。 

它用於多種產業及應用當中，包括：水泥生產、玻璃生產、採礦、礦物提煉、鐵、鋼及非鐵礦物、油品及石化、聚合物及相關產業、鑑識科學、製藥、保健產品、環境、食品及化妝品。 

光譜儀系統大致上可區分為兩大類別：波長分散式系統 (WDXRF) 和能量分散式系統 (EDXRF)。此兩者之間的主要差別在於偵測系統的不同。 ​

EDXRF 的運作方式

所有光譜儀的基本要素不外乎輻射源、樣本以及偵測系統。EDXRF 光譜儀會利用輻射源的 X 光管直接照射樣本，並透過能量分散式偵測器測量來自樣本的螢光。此偵測器可測量直接來自樣本之特性輻射的各種不同能量。偵測器可將樣本所發出的輻射區分為存在於樣本中之不同元素各別所發出的輻射。此區分效果即為分散。​  ​

EDXRF 光譜儀的優勢

  • 儀器設計小巧
  • 維護需求低
  • 不需要水、壓縮空氣或氣體​
  • 耗電量低
  • 系統解析度更佳
  • 可同時進行元素分析
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